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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| CS, SIP, CAS (共催) |
2008-03-06 15:10 |
山口 | 山口大学 常盤キャンパス | MPEGビデオデコーダにおけるIDCTミスマッチ蓄積への対策 ○幡生敦史（NEC）  CAS2007-122 SIP2007-197 CS2007-87 |
本論文では，MPEG符号化標準に従う動画像圧縮伝送において，逆離散コサイン変換(IDCT)ミスマッチが急速に蓄積する問題... [more] | CAS2007-122 SIP2007-197 CS2007-87 pp.81-84 |
| ISEC, IT, WBS (共催) |
2008-02-29 11:10 |
東京 | 電気通信大学 | T-Codeを用いた乱数検定手法の構成法について ○濱野健二・山本博資（東大） IT2007-55 ISEC2007-152 WBS2007-86 |
T-Codeを用いた新しい乱数検定手法を提案する． T-Codeは，Mark Titchenerによって1984年に提... [more] |
IT2007-55 ISEC2007-152 WBS2007-86 pp.43-50 |
| DC | 2008-02-08 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法 ○井上諒一・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-78 |
我々は，オーバーテストやアンダーテストを抑制するために，状態可観測な状態遷移機械（FSM）の論理故障テストやタイミング故... [more] | DC2007-78 pp.69-76 |
| SS | 2007-12-18 09:30 |
島根 | 島根大学 | シーケンス図を利用した組込みシステム開発のためのテストケース生成手法の提案について ○井上 陽・片山徹郎（宮崎大） SS2007-52 |
組込みシステム開発では、製品の品質を保つための効率の良いテストが、強く求められている。 しかし、テストケースの作成は、... [more] |
SS2007-52 pp.85-90 |
| DE, DC (共催) |
2007-10-16 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST ○Satoshi Fukumoto・Harunobu Kurokawa・Masayuki Arai・Kazuhiko Iwasaki（Tokyo Metropolitan Univ.） DE2007-124 DC2007-21 |
本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率分布の確率統計的な解析について議論する．ランダムパターンテストにおいて... [more] | DE2007-124 DC2007-21 pp.51-56 |
| ISEC | 2007-05-18 10:35 |
東京 | 機械振興会館 | NISTの乱数検定に含まれる最長連検定の修正 ○濱野健二（東大） ISEC2007-3 |
乱数性が良好であることが知られているブロック暗号DESが生成する乱数系列を，米国商務省標準技術局の乱数検定（NIST S... [more] | ISEC2007-3 pp.17-21 |
| NLP | 2007-01-18 15:10 |
香川 | 香川県高松市 サンポートホール高松 | 反応拡散現象を模擬するセルラーアレイが生成する２値系列のランダム性 ○曽我俊介・藤坂尚登・神尾武司・生岩量久（広島市大） |
反応拡散系を模擬する2値量子化Cellular Arrayに分子を仮定すると，分子は組成を変えながら離散化されたブラウン... [more] | NLP2006-136 pp.57-62 |
| IT | 2006-07-28 13:55 |
千葉 | 東大柏キャンパス | 多元ブロック符号に対する逐次型消失・誤り訂正復号法の改善について ○安陪利明・得重 仁（徳島大）・Marc Fossorier（ハワイ大）・嵩 忠雄（奈良先端大） |
多元ブロック符号に対して, 復号複雑度が非常に小さい消失・誤り訂正復号法を複数回用いる軟判定逐次型復号法を対象とする. ... [more] | IT2006-38 pp.19-23 |
| VLD, IPSJ-SLDM (共催) |
2006-05-12 11:15 |
愛媛 | 愛媛大学 | Power-Conscious Microprocessor-Based Testing of System-on-Chip ○Fawnizu Azmadi Hussin・Tomokazu Yoneda（NAIST）・Alex Orailoglu（Univ. of California）・Hideo Fujiwara（NAIST） |
[more] | VLD2006-10 pp.25-30 |
| WBS, IT, ISEC (共催) |
2006-03-17 15:25 |
愛知 | 名古屋大学（東山キャンパスIB電子情報館） | NIST乱数検定を用いた乱数性能の評価について ○奥富秀俊・金田 学（東芝情報システム）・山口健二・中村勝洋（千葉大） |
統計的な乱数性能の評価手段としてNIST乱数検定が広く使われている．本稿では，NIST乱数検定のPROPORTION（合... [more] | IT2005-108 ISEC2005-165 WBS2005-122 pp.79-84 |
| ISEC, LOIS (共催) |
2005-11-15 11:10 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 有限体上の代数曲線における周期系列の構成について ○戒田高康（近畿大） |
有限体(定義体)上で定義された代数曲線の有理点を用いることによって， 定義体の部分体を要素として持つ周期系列の構成法を... [more] |
ISEC2005-102 OIS2005-65 pp.25-28 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-09-08 11:20 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 ○樋上喜信（愛媛大）・Kewal K Saluja（Univ. of Wisconsin-madision）・高橋 寛・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
近年，論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている． テストや故障診断のコストは，印加されるテス... [more] |
CPM2005-89 ICD2005-99 pp.25-30 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] | CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46 |
| SS | 2004-11-25 13:30 |
山梨 | 山梨大学 甲府(武田)キャンパス | UMLの複数のダイアグラムを用いたJavaプログラムのテスト手法に関する一考察 ○藪谷悠介・下村希世人・片山徹郎（宮崎大） |
ソフトウェア開発設計において，オブジェクト指向技術を用いた開発の増加に伴い，UML（Unified Modeling L... [more] | SS2004-27 pp.7-12 |
| ISEC, IPSJ-CSEC (共催) |
2004-07-21 14:30 |
徳島 | 徳島大学 工学部 常三島キャンパス | NIST SP800-22のDFT検定に関する一考察 ○山本尚史・金子敏信（東京理科大） |
DFT検定は，NISTが公開している乱数検定のツールであるSP800-22に含まれる16種類の検定法の一つである．この検... [more] | ISEC2004-50 pp.61-64 |
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