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機構デバイス研究会 (EMD)  (検索条件: 2010年度)

「from:2011-02-18 to:2011-02-18」による検索結果

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講演検索結果
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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMD, R
(共催)
2011-02-18
13:05
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について
玉井輝雄澤田 滋三重大)・服部康弘オートネットワーク技研R2010-42 EMD2010-143
錫(Sn)めっき接触部を持つコネクタの微摺動や単一摺動において、潤滑した接触部での摩擦係数は非潤滑の摩擦係数より大きくな... [more] R2010-42 EMD2010-143
pp.1-6
EMD, R
(共催)
2011-02-18
13:30
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察
筑地茂樹澤田 滋玉井輝雄三重大)・服部康弘オートネットワーク技研)・飯田和生三重大R2010-43 EMD2010-144
 [more] R2010-43 EMD2010-144
pp.7-12
EMD, R
(共催)
2011-02-18
13:55
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討
長谷川 誠小林菜々絵千歳科技大)・河野良行カネカR2010-44 EMD2010-145
シリコーンを含有しないアクリル系ポリマー材料、ならびに従来のシリコーン系ポリマー材料からの揮発ガス成分がリレー接点の接触... [more] R2010-44 EMD2010-145
pp.13-18
EMD, R
(共催)
2011-02-18
14:20
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定
山梨洋平宮司勝吉関川純哉静岡大)・窪野隆能静岡大名誉教授R2010-45 EMD2010-146
 [more] R2010-45 EMD2010-146
pp.19-24
EMD, R
(共催)
2011-02-18
15:00
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出
坂本俊輔眞田 克高知工科大R2010-46 EMD2010-147
電源電流(IDDQ)情報は論理情報に比べて高い故障検出感度を有しているためLSI評価に広く用いられている.我々はこの技術... [more] R2010-46 EMD2010-147
pp.25-30
EMD, R
(共催)
2011-02-18
15:25
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 開放故障に伴う不安定論理の固定化
安富泰輝眞田 克高知工科大R2010-47 EMD2010-148
不安定な出力論理を有するフローティングゲート故障に対して、出力論理値を固定化する実験を行った.実験はゲートオープン故障を... [more] R2010-47 EMD2010-148
pp.31-36
EMD, R
(共催)
2011-02-18
15:50
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理
松岡敏成三菱電機R2010-48 EMD2010-149
電子部品の製造工程は複雑で,作り込みだけで目標品質を達成できるまで製造条件のばらつきを抑え込むことが難しく,検査やエージ... [more] R2010-48 EMD2010-149
pp.37-42
EMD, R
(共催)
2011-02-18
16:15
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発
中村共則岩井秀直山内豊彦寺田浩敏浜松ホトニクスR2010-49 EMD2010-150
 [more] R2010-49 EMD2010-150
pp.43-48
EMD, R
(共催)
2011-02-18
16:40
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察
伊藤貞則イトケン事務所)・鈴木雅史オムロンR2010-50 EMD2010-151
 [more] R2010-50 EMD2010-151
pp.49-52
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