| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2023-02-28 16:15 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability ○Ruijun Ma（AUST）・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Hui Xu（AUST）・Aibin Yan（AU）  DC2022-91 |
[more] | DC2022-91 pp.51-55 |
| DC | 2021-02-05 11:35 |
ONLINE | オンライン開催 | A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch Design ○Ruijun Ma・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Aibin Yan（AHU）・Hui Xu（AUST） DC2020-71 |
[more] | DC2020-71 pp.12-17 |
| VLD, HWS (併催) |
2018-02-28 16:55 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構の信頼性評価 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2017-102 |
LSIの微細化に伴った様々な問題の中，ソフトエラーは信頼性低下の主な要因の一つとされている．配線や部品の間隔が狭くなるに... [more] | VLD2017-102 pp.79-84 |
| VLD | 2017-03-03 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構と回路面積評価 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2016-129 |
VLSI の微細化に伴ったソフトエラーによる信頼性低下がより深刻化している．これまで，システムレベルの対策として，比較・... [more] | VLD2016-129 pp.151-156 |
| VLD | 2016-02-29 15:50 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | コンポーネント間近接制約を考慮した整数線形計画法による耐ソフトエラーデータパス合成 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2015-116 |
近年，半導体デバイスの微細化が進み，それに伴ったソフトエラーによるVLSIの信頼性低下が問題となっている．本研究では，単... [more] | VLD2015-116 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 10:10 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | コンポーネント間近接制約を考慮した耐ソフトエラーデータパス合成 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2015-62 DC2015-58 |
近年，半導体デバイスの微細化が進み，それに伴ったソフトエラーによるVLSIの信頼性の低下が問題となっている．本研究では，... [more] | VLD2015-62 DC2015-58 pp.159-164 |
| RCC, MICT (共催) |
2015-05-28 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 通信装置向けFPGAのソフトエラー高速リカバリ技術 ○新保健一・鳥羽忠信・上薗 巧・伊部英史（日立） RCC2015-9 MICT2015-9 |
通信インフラを流れるデータトラフィック量の急増に伴い，高速・大容量の通信装置開発が求められている．通信装置には設計の柔軟... [more] | RCC2015-9 MICT2015-9 pp.37-42 |
| VLD | 2015-03-03 10:20 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 整数線形計画法による高面積効率耐ソフトエラーデータパス回路合成 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2014-164 |
近年，半導体デバイスの微細化が進み，それに伴ったソフトエラーによるVLSI の信頼性の低下が問題となっている．これに対し... [more] | VLD2014-164 pp.67-72 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-26 17:05 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | 耐ソフトエラーデータパス回路の最適設計のためのチェック変数選択 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2014-90 DC2014-44 |
近年，半導体デバイスの微細化が進み，それに伴ったソフトエラーによるLSIの信頼性の低下が問題となっている．本稿では，高位... [more] | VLD2014-90 DC2014-44 pp.129-134 |
| VLD | 2014-03-05 10:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 積極的資源共有による高面積効率耐ソフトエラーデータパス回路の設計 ○呉 政訓・金子峰雄（北陸先端大） VLD2013-156 |
近年，半導体デバイスの微細化が進み，それに伴ったソフトエラーによるLSIの信頼性の低下が問題となっている．本研究ではアル... [more] | VLD2013-156 pp.119-124 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-28 16:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | 二重冗長ソフトコアプロセッサにおけるソフトエラーの高速復旧技術 ○一ノ宮佳裕（熊本大/学振）・藤野 誠・尼崎太樹・久我守弘・飯田全広・末吉敏則（熊本大） RECONF2011-42 |
SRAM型FPGA（Field Programmable Gate Array）は，再構成可能という特徴をもつ反面，ソフ... [more] | RECONF2011-42 pp.7-12 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2010-05-19 17:00 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 誤り伝播に着目した粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け部分的三重化手法 ○湯浅洋史・今川隆司・廣本正之・越智裕之・佐藤高史（京大） VLD2010-4 |
近年のプロセス微細化や低電圧化に伴い，大容量SRAMはもとより，演算回路や制御回路内でもソフトエラーの発生率が増加してい... [more] | VLD2010-4 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-02 13:50 |
高知 | 高知市文化プラザ | ［招待講演］最新半導体デバイスの環境中性子線エラー ～ デザインルール22nmへのインパクトと対策 ～ ○伊部英史・新保健一・谷口 斉・鳥羽忠信（日立） CPM2009-139 ICD2009-68 |
メモリ、論理ゲートなど半導体デバイスの環境中性子線によるエラーのメカニズム、各種エラーモードの現状と22nmデザインルー... [more] | CPM2009-139 ICD2009-68 pp.29-34 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 10:00 |
高知 | 高知市文化プラザ | 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関 ○新保健一・鳥羽忠信・伊部英史・西井浩士（日立） CPM2009-143 ICD2009-72 |
中性子照射試験により情報システム装置のソフトエラー耐性評価を行った．メモリ構成の異なる２台の装置のソフトエラー比について... [more] | CPM2009-143 ICD2009-72 pp.51-55 |
| DC, CPSY (共催) |
2008-04-23 15:00 |
東京 | 東大・武田ホール | 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ○伊部英史（日立） CPSY2008-7 DC2008-7 |
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が２０００年前後から顕在 化しはじめ、各種... [more] |
CPSY2008-7 DC2008-7 pp.37-42 |
| ICD | 2008-04-18 11:15 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ～ マルチノードアップセット問題の対応 ～ ○伊部英史（日立） ICD2008-10 |
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が２０００年前後から顕在化しはじめ、各種の問... [more] | ICD2008-10 pp.51-56 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]