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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2017-12-15 15:30 |
秋田 | 放送大学秋田学習センター | FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  DC2017-75 |
FPGAの自己テストによるフィールド高信頼化のため，論理BISTと可変なテストクロックを組み合わせた遅延測定手法が提案さ... [more] | DC2017-75 pp.37-42 |
| RCS, SAT (併催) |
2017-08-18 13:25 |
新潟 | 新潟大学 | 5G無線アクセスにおける新規無線フレーム構成を用いた高信頼低遅延通信の屋外伝送実験 ○岩渕匡史・ベンジャブール アナス・岸山祥久（NTTドコモ）・Tingjian Tian・Guangmei Ren・Chen Tang・Liang Gu（ファーウェイ）・高田輝文・鹿島 毅（華為技術日本） RCS2017-165 |
2020年以降の移動無線通信システムである5G/5G+無線アクセスでは，URLLC (Ultra Reliability... [more] | RCS2017-165 pp.117-122 |
| DC | 2017-02-21 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 論理回路の組込み自己診断に関する提案 ○香川敬祐・矢野郁也・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）・大竹哲史（大分大） DC2016-76 |
近年，自動車の機能安全を実現するために車載集積回路が果たす役割が増加している．自動車の機能安全を保証するためには，フィー... [more] | DC2016-76 pp.11-16 |
| ICD, SDM (共催) ITE-IST (連催) [詳細] |
2016-08-03 13:20 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | ［招待講演］機能安全規格ISO26262 ASIL Bに対応する16nm FinFETヘテロジニアス9コアSoC ○高橋睦史・芝原真一・福岡一樹・松嶋 潤・北地祐子（ルネサス システムデザイン）・島崎靖久・原 博隆・入田隆宏（ルネサス エレクトロニクス） SDM2016-64 ICD2016-32 |
本稿では，機能安全規格ISO26262 ASIL Bに対応する次世代自動車情報機器向けヘテロジニアス9コアSoCについて... [more] | SDM2016-64 ICD2016-32 pp.105-110 |
| ET | 2015-03-14 13:40 |
徳島 | 四国大学交流プラザ | タブレットで筆記された回答の自動採点 ○中川正樹・内田吉郎・佐々木進亮・三田和広（東京農工大） ET2014-113 |
本稿では，学習者・受験者の深い理解を問うためには筆記回答を求める問題が不可欠であるとの認識に立ち，採点の正しさを保障ある... [more] | ET2014-113 pp.157-162 |
| NC | 2015-01-29 16:05 |
福岡 | 九州工業大学 若松キャンパス（北九州学術研究都市） | 欠損データに対するTensor SOMのロバスト性 ○脇田靖弘・岩崎 亘・古川徹生（九工大） NC2014-61 |
Tensor SOMは自己組織化マップ (Self-Organizing Map: SOM) の拡張であり，関係データの... [more] | NC2014-61 pp.21-26 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 14:45 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | FPGAにおけるオンチップ遅延測定について ○安部賢太朗・三宅庸資・梶原誠司・佐藤康夫（九工大） VLD2014-109 DC2014-63 |
本論文では，FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる．半導体技術の進歩により，微細化，高... [more] | VLD2014-109 DC2014-63 pp.245-250 |
| MICT | 2014-10-23 15:25 |
富山 | 富山大学 五福キャンパス | KINECT・自走ロボットを使用した歩行データの取得 ○安達宏幸・中山栄純（北里大）・菅生 誠・水澤純一（テレビジネス） MICT2014-50 |
日本は高齢化社会を迎え，リハビリテーションを必要とする人々が今後増加する．高齢化に伴い，歩行能力の低下が発生する．歩行能... [more] | MICT2014-50 pp.25-30 |
| ET | 2014-10-18 11:15 |
石川 | 金沢大学（角間キャンパス） | 工学部学生の学習意欲推移モデル ○赤倉貴子・東本崇仁（東京理科大） ET2014-41 |
工学部学生の学習意欲に関わる要因について分析した．その結果，学習意欲は，実際にテストで得た点数よりも「できた感」「わかっ... [more] | ET2014-41 pp.23-26 |
| DC | 2014-02-10 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法 ○小河 亮・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-82 |
VLSIのテスト時にはオーバーテストを防ぐために消費電力を通常動作時程度にする必要がある．テスト時の電力が高いとテスト時... [more] | DC2013-82 pp.19-24 |
| DC | 2013-12-13 13:25 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 ○佐藤康夫・松浦宗寛・荒川 等・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2013-69 |
FPGAに搭載された論理を自己テストする際の可変テストタイミング生成手法を提案する．FPGAのアプリケーション依存テスト... [more] | DC2013-69 pp.7-12 |
| PN | 2013-11-12 10:00 |
東京 | 早稲田大学 西早稲田キャンパス | アトラクター選択にもとづく仮想網制御の実装と実証実験によるトラヒック変動に対する適応性の評価 ○小泉佑揮・荒川伸一（阪大）・鎌村星平・島崎大作・笹山浩二（NTT）・村田正幸（阪大） PN2013-30 |
これまでに、トラヒック変動などの環境変化に対して適応的に仮想網を再構築する自己組織化制御を提案した。提案手法は、生物が環... [more] | PN2013-30 pp.33-38 |
| IN, NV (併催) |
2013-07-18 15:40 |
北海道 | 北海道大学 工学部アカデミックラウンジ3 | ［招待講演］格子上の道順を数え上げる高速アルゴリズム ○岩下洋哲（JST） IN2013-44 |
グラフにおいて同じ点を2回以上通らないパスはself-avoiding walk（SAW）と呼ばれ，その単純な定義にも関... [more] | IN2013-44 pp.49-54 |
| VLD | 2013-03-04 14:40 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | オンチップセンサを用いたばらつき自己補償手法の検討 ○樋口裕磨・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-138 |
半導体の製造プロセスの微細化に伴い，回路性能や歩留まりへの製造ばらつきの影響が深刻化している．製造後に回路性能を調整する... [more] | VLD2012-138 pp.13-17 |
| DC | 2013-02-13 16:40 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法 ○吉見優太（奈良先端大）・畠山一実・大和勇太・米田友和・井上美智子（奈良先端大/JST） DC2012-90 |
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため，その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] | DC2012-90 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 13:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ［招待講演］組込み自己テストによるフィールド高信頼化について ○梶原誠司（九工大） VLD2012-65 DC2012-31 |
出荷後のシステムにおいて，パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで，回路の遅... [more] | VLD2012-65 DC2012-31 pp.37-42 |
| TL | 2012-07-22 10:30 |
山形 | 山形大学 | Preservation of the Initial Analysis with Japanese Relative Clause Sentences ○Chie Nakamura（Keio Univ.）・Manabu Arai（Univ. of Tokyo） TL2012-19 |
(事前公開アブストラクト) Previous studies reported that language compre... [more] | TL2012-19 pp.53-58 |
| DC | 2012-06-22 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察 ○深澤祐樹・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大） DC2012-11 |
BIST回路（テスト生成器や応答圧縮器など）の故障は， 被テスト回路に対するテスト実行結果の判定を誤らせる可能性があり... [more] |
DC2012-11 pp.15-20 |
| PRMU, HIP (共催) |
2012-03-29 16:50 |
兵庫 | 神戸大学 | Analyzing the "●" Communication System's Effect on Users' Self-Disclosures during Tele-Communication Session ○Li Jen Chen・Jun Ohya（Waseda Univ.）・Shunichi Yonemura（NTT）・Yukio Tokunaga（Shibaura Inst. of Tech.） PRMU2011-259 HIP2011-87 |
[more] | PRMU2011-259 HIP2011-87 pp.123-128 |
| MW | 2012-03-02 09:30 |
佐賀 | 佐賀大学 | 2重自己注入同期広帯域・低位相雑音VCOの試作 ○津留正臣・川上憲司・谷口英司・檜枝護重（三菱電機） MW2011-179 |
発振器の低位相雑音化には，共振器の高Q化手法が良く用いられる．しかしながら，共振器の高Q化に伴う低位相雑音化は共振器の無... [more] | MW2011-179 pp.65-69 |
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