| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2020-12-11 13:00 |
兵庫 | 洲本市文化体育館 （淡路島） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について ○森 誠一郎・権藤昌之・三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）  DC2020-59 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の発生が懸念されており，高信頼システムに使用される場合，回路の劣化による故障が... [more] | DC2020-59 pp.1-6 |
| DC | 2019-12-20 16:30 |
和歌山 | 南紀くろしお商工会 | 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測 ○三宅庸資・加藤隆明・梶原誠司（九工大）・麻生正雄・二見治司・松永恵士（シスウェーブ）・三浦幸也（首都大東京） DC2019-85 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．回路の劣化による遅延の増加を検出するには，フィールドで... [more] | DC2019-85 pp.37-42 |
| R | 2019-11-28 16:25 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | 階層ベイズモデルと機械学習による劣化予測 ○貝瀬 徹・江上豊彦（兵庫県立大） R2019-49 |
本報告では，劣化進展に関する状態空間モデルを与え，機械学習を用いた推定とリアルオプションによる信頼性評価の方法論を扱う．... [more] | R2019-49 pp.35-38 |
| CPM, ED, EID, SDM, ICD, MRIS, SCE, OME, EMD (共催) QIT (併催) [詳細] |
2018-03-08 15:15 |
静岡 | 東レ総合研修センター | 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 ～ いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較4 ～ ○越田圭治・和田真一（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 |
著者らは，振動下における電気接点の劣化現象に関する検討を行ってきた．また，ピエゾ・アクチュエータと弾性ヒンジを用いた微摺... [more] | EMD2017-75 MR2017-46 SCE2017-46 EID2017-48 ED2017-120 CPM2017-140 SDM2017-120 ICD2017-125 OME2017-69 pp.15-20 |
| EE | 2018-01-30 13:35 |
大分 | サテライトキャンパスおおいた (大分市) | 負荷変動時のリンギング検出によるデジタル電源出力コンデンサの故障予測 ○中尾 宏・米澤 遊・中島善康（富士通研）・黒川不二雄（長崎総合科学大） EE2017-71 |
山中の携帯基地局等のインフラ系施設では、維持管理における信頼性と保守コストのバランスが課題である。中でも電源装置およびそ... [more] | EE2017-71 pp.165-170 |
| OME, SDM (共催) |
2017-04-21 14:05 |
鹿児島 | 龍郷町生涯学習センター | 直流電界下におけるジルコニアセラミックスの電荷蓄積挙動 ～ バイオセラミックス利用における低温劣化現象の抑制に向けて ～ ○田中優実（東京理科大）・原 浩之（九大） SDM2017-8 OME2017-8 |
優れた強度と生体親和性により医療材料として利用されているイットリア安定化正方晶ジルコニア（Y-TZP）には、水の介在によ... [more] | SDM2017-8 OME2017-8 pp.35-39 |
| EMD | 2015-10-02 16:50 |
埼玉 | 富士電機機器制御株式会社 | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism
-- The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions -- ○Shin-ichi Wada・Keiji Koshida（TMC）・Koichiro Sawa（NIT） EMD2015-66 |
[more] | EMD2015-66 pp.37-42 |
| EMD, R (共催) |
2015-02-20 15:20 |
静岡 | 静岡大（浜松キャンパス） | 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 ～ いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅 ～ ○和田真一・越田圭治・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） R2014-73 EMD2014-110 |
著者らは，超磁歪アクチュエータと並行板バネを用いることより，電子デバイスを直接微小摺動させることができる機構（MSM1）... [more] | R2014-73 EMD2014-110 pp.13-20 |
| EMD | 2013-11-16 09:30 |
海外 | 華中科技大学（中国・武漢） | プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法 ～ 入力としての矩形波および正弦波の応答特性 ～ ○和田真一・越田圭治・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2013-78 |
[more] | EMD2013-78 pp.15-18 |
| EMD | 2013-11-16 09:45 |
海外 | 華中科技大学（中国・武漢） | プリント基板上に設置した対象物の基本的力学パラメータ評価方法 ～ 固有振動数と減衰比(2) ～ ○和田真一・越田圭治・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2013-79 |
[more] | EMD2013-79 pp.19-22 |
| EMD | 2012-12-01 14:30 |
千葉 | 千葉工業大学 | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構の特性に関する基礎的検討 (25) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・益田直樹・石黒 明・柳 国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2012-86 |
Authors developed the mechanism which gives real vibration t... [more] | EMD2012-86 pp.125-131 |
| VLD | 2012-03-07 09:15 |
大分 | ビーコンプラザ | NBTIを考慮した電源配線最適化の一手法 ○長田賢明・福井正博（立命館大）・築山修治（中大） VLD2011-132 |
LSIの微細化・高集積化技術の進展に伴い, LSIの信頼性問題であるNBTI (負バイアス温度不安定性)によるタイミング... [more] | VLD2011-132 pp.73-78 |
| EMD | 2011-11-18 16:15 |
秋田 | 秋田大学 手形キャンパス | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism
-- Minimal Sliding Amplitudes estimated under some conditions by the Mechanism (18) -- ○Shin-ichi Wada・Keiji Koshida・Masahiro Kawanobe・Saindaa Norovling・Naoki Masuda・Akira Ishiguro・Kunio Yanagi・Hiroaki Kubota（TMC System）・Koichiro Sawa（Nippon Inst. of Tech.） EMD2011-102 |
Authors have developed the mechanism which gives damping vib... [more] | EMD2011-102 pp.189-194 |
| NLP | 2011-03-11 16:35 |
東京 | 東京理科大学森戸記念館 | いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 ～ 接触抵抗変動のモデリング ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・池口 徹（埼玉大）・堀尾喜彦（東京電機大）・澤 孝一郎（日本工大） NLP2010-196 |
著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more] | NLP2010-196 pp.187-192 |
| EMD | 2010-11-12 13:15 |
海外 | 西安交通大学（中国、西安） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究 ～ モデリング (10) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2010-111 |
[more] | EMD2010-111 pp.185-188 |
| EMD, OPE, LQE, CPM (共催) |
2010-08-26 09:20 |
北海道 | 千歳アルカディアプラザ | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング（9） ～ ○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 pp.1-6 |
| EMD | 2010-05-21 14:50 |
秋田 | 秋田大学 | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 加振機構のモデリング（その8） ～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダー ノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（日本工大） EMD2010-4 |
電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more] | EMD2010-4 pp.19-24 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]