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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2016-06-20 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト容易化機能的時間展開モデル生成のためのテスト容易化バインディング法 ○佐藤 護・細川利典・増田哲也・西間木 淳（日大）・藤原秀雄（阪学院大）  DC2016-14 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，テスト容易化機能的時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている... [more] | DC2016-14 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 13:50 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成 ○上岡真也・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大） VLD2015-40 DC2015-36 |
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) ... [more] | VLD2015-40 DC2015-36 pp.19-24 |
| CCS | 2015-08-07 10:45 |
北海道 | 第一滝本館（北海道登別市） | 複数の系列を同時に使用する離散フーリエ変換検定法について ○岡田大樹・梅野 健（京大） CCS2015-42 |
NIST SP 800-22 の離散フーリエ変換検定(DFT検定)の問題点について考察し，そ してその問題点を克... [more] |
CCS2015-42 pp.73-78 |
| MI | 2015-07-14 13:30 |
北海道 | 函館市勤労者総合福祉センター（サン・リフレ函館） | FMD検査支援のための超音波画像からの動脈領域自動抽出 ○野村香織（名工大）・益田博之（ユネクス）・佐野和政（トーエ）・小山俊彦（デンソー）・鈴木英範（ユネクス）・本谷秀堅（名工大） MI2015-32 |
腕部や頸部の超音波画像より、動脈領域を自動的に抽出・追尾する手法を提案する。FMD（Flow Mediated Dila... [more] | MI2015-32 pp.1-6 |
| DC | 2014-06-20 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | テスト環境生成結果を用いた階層テスト容易化バインディング法 ○西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-16 |
効率的な順序回路テスト生成法として機能レジスタ転送レベルの回路情報を利用した階層テスト生成法が提案されている．機能レジス... [more] | DC2014-16 pp.39-44 |
| DC | 2014-06-20 16:25 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木 淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17 |
データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more] | DC2014-17 pp.45-50 |
| DC | 2014-02-10 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法 ○小河 亮・岩田大志・山口賢一（奈良高専） DC2013-82 |
VLSIのテスト時にはオーバーテストを防ぐために消費電力を通常動作時程度にする必要がある．テスト時の電力が高いとテスト時... [more] | DC2013-82 pp.19-24 |
| QIT (第二種研究会) |
2013-11-19 16:10 |
東京 | 早稲田大学 | Quantum Hypothesis Testing and an Operational Interpretation of the Quantum Renyi Relative Entropies Milan Mosonyi（BME）・○Tomohiro Ogawa（UEC） |
[more] | |
| DC | 2013-06-21 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2013-10 |
近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more] | DC2013-10 pp.1-6 |
| IT | 2013-05-24 14:45 |
福井 | 福井・あわら温泉 まつや千千 | 畳語分解に基づく文字列の複雑度の提案とその乱数検定への応用 ○真矢 滋・山本博資（東大） IT2013-8 |
乱数検定法としてNIST SP 800-22 がよく知られている．その中の検定方法の一つとしてLZ-複雑度(LZ-com... [more] | IT2013-8 pp.35-40 |
| NLP | 2012-11-19 14:20 |
宮城 | 石巻専修大学 | NIST SP800-22 rev.1aによる疑似乱数の検定に関する一考察 ○吉田等明・村上 武（岩手大）・川村 暁（石巻専修大） NLP2012-78 |
NIST Special Publication 800-22は，暗号アプリケーションのための乱数や疑似乱数の標準的な統... [more] | NLP2012-78 pp.13-18 |
| NC, MBE (併催) |
2011-03-08 14:35 |
東京 | 玉川大学 | ネットワーク構造推定問題における同時多重性を考慮したグレンジャー因果推定の改良手法について ○播磨 輝（京大）・大羽成征（京大/JST）・石井 信（京大） NC2010-178 |
観測時系列データ間の因果関係に基づく有向ネットワーク構造推定のために、グレンジャー因果推定およびその改良手法が提案されて... [more] | NC2010-178 pp.301-306 |
| DC | 2011-02-14 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-65 |
近年，より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている．動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] | DC2010-65 pp.39-44 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 ○岩本由香・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-63 DC2010-30 |
近年，LSIテスト手法の１つとして組込み自己テストが利用されている．組込み自己テストでは，LSI内部にテストベクトル系列... [more] | VLD2010-63 DC2010-30 pp.43-48 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 11:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング ○井上諒一・藤原浩顕・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大） VLD2010-76 DC2010-43 |
順序回路に対して多くのテスト生成アルゴリズムが提案されているが，組合せ回路に対するテスト生成と比べ困難な問題であり，現実... [more] | VLD2010-76 DC2010-43 pp.143-148 |
| DC | 2010-02-15 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 ○中尾 良・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-66 |
VLSIのテスト実行時は，消費電力が空間や時間でばらつき，それに伴い回路温度が変動する．一方，回路の動作遅延は温度に依存... [more] | DC2009-66 pp.7-12 |
| DC | 2009-12-11 13:25 |
島根 | 松江勤労者総合福祉センター「松江テルサ」 | Note on Programmable On-Product Clock Generation (OPCG) Circuitry for Low Power Aware Delay Test Anis Uzzaman（Cadence Design Systems/Tokyo Metro. Univ）・Brion Keller・Tom Snethen（Cadence）・Kazuhiko Iwasaki・○Masayuki Arai（Tokyo Metro. Univ） DC2009-57 |
[more] | DC2009-57 pp.7-12 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2009-05-20 15:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法 ○小河宏志（日大）・吉村正義（九大）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2009-3 |
LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている．過剰テストの抑制策のひとつとして，テスト不可能故... [more] | VLD2009-3 pp.13-18 |
| MI | 2008-09-17 14:10 |
京都 | 島津製作所(京都) | 連検定を用いたLogan Graphical Analysisの開始点決定によるPET神経受容体定量化の精度改善 ○大柿宏人（千葉大/放射線医学総研）・木村裕一・長縄美香（放射線医学総研/東京都老人総研）・坂田宗之（東京都老人総研/放射線医学総研）・志田原美保（放射線医学総研）・菅 幹生（千葉大/放射線医学総研） MI2008-40 |
Logan Graphical Analysis (LGA)は、陽電子断層像を用いた神経受容体の画像化において標準的に使... [more] | MI2008-40 pp.27-31 |
| ISEC | 2008-05-16 10:45 |
東京 | 機械振興会館 | 全自己相関値に基づく新しい乱数検定法 ○濱野健二・山本博資（東大） ISEC2008-4 |
米国商務省標準技術局（NIST）の乱数検定セットに含まれる離散フーリエ変換検定と，Beker and Piperの5個の... [more] | ISEC2008-4 pp.23-30 |
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