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A: 基礎・境界
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(第二種) A: 基礎・境界
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光エレクトロニクス研究会 (OPE)
超伝導エレクトロニクス研究会 (SCE)
シリコン材料・デバイス研究会 (SDM)
人工知能と知識処理研究会 (AI)
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電磁界理論技術委員会 (IEE-EMT)
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マイクロマシン・センサシステム研究会 (IEE-MSS)
光・量子デバイス技術委員会 (IEE-OQD)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
SANE
2018-11-09
08:50
海外
中国(許昌市)
Throughput and Frame Error Rate Evaluation in different frequencies for Integrated-Aeronautical Mobile Communication Terminal
○
Kazuyuki Morioka
・
Naoki Kanada
・
Shunichi Futatsumori
・
Akiko Kohmura
・
Naruto Yonemoto
・
Yasuto Sumiya
(
ENRI
)
SANE2018-81
[more]
SANE2018-81
pp.127-131
ET
2018-10-20
10:05
福岡
福岡工業大学
データベースを利用した学校事務作業の効率化のための座席表作成システムの開発
○
三坂祐人
(
佐賀大
)・
森田佐知子
(
高知大
)・
福本尚生
・
古川達也
(
佐賀大
)
ET2018-38
教員が行う日常業務の作業の一つに,授業等での座席表作成が挙げられる.これまで座席表の作成は,手作業で行うことが多く,ミス...
[more]
ET2018-38
pp.1-6
PRMU
,
BioX
(共催)
2018-03-19
11:15
東京
青山学院大学 青山キャンパス
下方から取得した画像を用いたペンの持ち方による個人認証
○
佐藤美奈子
・
山中高夫
(
上智大
)
BioX2017-60 PRMU2017-196
本論文ではペンの持ち方に着目し,下方から取得した画像を用いて個人認証を行う.下方から画像を取得することで筆跡認証と組み合...
[more]
BioX2017-60
PRMU2017-196
pp.145-150
CS
,
CAS
(共催)
2018-03-13
10:10
福岡
九州大学 西新プラザ
低PAPR-SOCC-OFDMシステムの実装と送受信特性評価
○
横川朋樹
・
落合秀樹
(
横浜国大
)
CAS2017-148 CS2017-102
直交周波数分割多重(OFDM: Orthogonal Frequency-Division Multiplexing) ...
[more]
CAS2017-148
CS2017-102
pp.87-92
VLD
,
HWS
(併催)
2018-02-28
16:55
沖縄
沖縄県青年会館
コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構の信頼性評価
○
呉 政訓
・
金子峰雄
(
北陸先端大
)
VLD2017-102
LSIの微細化に伴った様々な問題の中,ソフトエラーは信頼性低下の主な要因の一つとされている.配線や部品の間隔が狭くなるに...
[more]
VLD2017-102
pp.79-84
VLD
,
HWS
(併催)
2018-02-28
17:20
沖縄
沖縄県青年会館
FDSOIに適したスタック構造におけるソフトエラー対策手法の提案・評価と微細化による影響の評価
○
丸岡晴喜
・
山田晃大
・
榎原光則
・
古田 潤
・
小林和淑
(
京都工繊大
)
VLD2017-103
トランジスタサイズの微細化に伴い、ソフトエラーにより集積回路の信頼性が低下している。本稿では65 nm FDSOI プロ...
[more]
VLD2017-103
pp.85-90
VLD
,
HWS
(併催)
2018-02-28
17:45
沖縄
沖縄県青年会館
65 nm FDSOIプロセスのトランジスタモデルの違いによるフリップフロップのソフトエラー耐性の実測と評価
○
榎原光則
・
丸岡晴喜
・
山田晃大
・
古田 潤
・
小林和淑
(
京都工繊大
)
VLD2017-104
ムーアの法則に従い, 集積回路 (LSI)が微細化することで, PCやスマートフォン
といった高性能な製品を作れるよう...
[more]
VLD2017-104
pp.91-96
SR
2018-01-26
14:50
福岡
福岡大学
ソフトウェア無線機による低PAPR-SOCC-OFDMシステムの実装
○
横川朋樹
・
落合秀樹
(
横浜国大
)
SR2017-108
直交周波数分割多重 (OFDM: Orthogonal Frequency-Division Multiplexing)...
[more]
SR2017-108
pp.85-89
HCGSYMPO
(第二種研究会)
2017-12-13
- 2017-12-15
石川
金沢歌劇座(金沢)
BubbleFlick:スマートウォッチ向け日本語かなフリック入力インターフェースの改良と30日間の連続評価
○
東條貴希
・
加藤恒夫
・
山本誠一
(
同志社大
)
スマートウォッチ向けに操作性のよい日本語文字入力方式が確立されれば,日本語を使用するユーザにとってスマートウォッチの利便...
[more]
EMM
2017-11-07
13:00
鹿児島
鹿児島大学 稲盛アカデミー棟
誤り訂正符号を用いたDCT-OFDM型電子透かし方式の耐性向上に関する考察
○
重本章吾
・
栗林 稔
・
舩曵信生
(
岡山大
)
EMM2017-64
様々な種類の攻撃に対して耐性を持つDCT-OFDM型電子透かし方式には,スペクトル拡散(SS)法と量子化(QIM)法があ...
[more]
EMM2017-64
pp.47-52
ET
2017-10-21
14:30
福岡
九州工業大学(戸畑キャンパス)
データベースを利用したドラッグアンドドロップ式座席表作成システムの設計と実装
○
三坂祐人
・
森田佐知子
・
福本尚生
・
古川達也
(
佐賀大
)
ET2017-47
講義における座席表や合同会社説明会における企業ブースの配置図を作成する際,それらの作業を手入力で行うと,時間が掛かるだけ...
[more]
ET2017-47
pp.37-42
RCS
2017-06-23
09:30
沖縄
石垣商工会館
軟判定出力per-survivor processingによる伝送路予測形多重遅延検波
○
下村和輝
・
森 俊樹
・
久保博嗣
(
立命館大
)
RCS2017-77
本報告では,多重遅延検波 (MDD : multiple differential detection) の追随特性改善...
[more]
RCS2017-77
pp.161-166
RCS
2017-06-23
10:10
沖縄
石垣商工会館
SCMAの大規模化におけるランダム符号設計とその制約に関する一検討
○
稲垣慶亮
・
高橋拓海
・
衣斐信介
・
三瓶政一
(
阪大
)
RCS2017-81
本稿では、SCMA (Sparse Code Multiple Access) による大規模同時接続を想定し, 空間多重...
[more]
RCS2017-81
pp.185-190
RCS
2017-04-24
09:55
香川
ことひら温泉 琴参閣
過負荷MU-MIMO通信路におけるPDAのための適応スケールビリーフに関する一検討
○
高橋拓海
・
衣斐信介
・
三瓶政一
(
阪大
)
RCS2017-2
本稿では,6 GHz以下の低周波数帯で想定される中規模・過負荷MU-MIMO (Multi-User Multiple-...
[more]
RCS2017-2
pp.5-10
ISEC
,
WBS
,
IT
(共催)
2017-03-10
10:55
東京
東海大学 高輪キャンパス
q入力r出力対称通信路におけるq元線形符号の性能評価システム(2)
○
古屋杏志郎
・
山口和彦
(
電通大
)
IT2016-123 ISEC2016-113 WBS2016-99
川島らは多元線形符号に対する軟判定復号の誤り率計算の式を示している.この計算は硬判定復号器に軟判定復調器と簡単な判断回路...
[more]
IT2016-123
ISEC2016-113
WBS2016-99
pp.155-160
SIS
2017-03-03
11:20
神奈川
神奈川工大横浜サテライト
HW/SW複合環境における画像の勾配に基づく高速なエッジ保存平滑化フィルタの実装
○
小松弘人
(
徳山高専
)・
田向 権
(
九工大
)・
末竹規哲
(
山口大
)・
古賀崇了
(
徳山高専
)
SIS2016-59
エッジ保存平滑化は,画像の主要なエッジを維持しながら,小振幅信号を平滑化する処理である.一般的に,組み込みシステムに用い...
[more]
SIS2016-59
pp.95-100
VLD
2017-03-03
13:25
沖縄
沖縄県青年会館
コンポーネント間近接制約に基づいた混合誤り訂正機構と回路面積評価
○
呉 政訓
・
金子峰雄
(
北陸先端大
)
VLD2016-129
VLSI の微細化に伴ったソフトエラーによる信頼性低下がより深刻化している.これまで,システムレベルの対策として,比較・...
[more]
VLD2016-129
pp.151-156
VLD
,
DC
(共催)
CPM
,
ICD
,
IE
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2016-11-28
14:15
大阪
立命館大学大阪いばらきキャンパス
TCADシミュレーションを用いたFDSOIプロセスの耐ソフトエラー回路構造の検討
○
山田晃大
・
丸岡晴喜
・
梅原成宏
・
古田 潤
・
小林和淑
(
京都工繊大
)
VLD2016-49 DC2016-43
集積回路はムーアの法則に従って微細化してきたが,それに伴いソフトエラーに
よる信頼性の低下が問題となっている.既にソ...
[more]
VLD2016-49
DC2016-43
pp.31-36
VLD
,
DC
(共催)
CPM
,
ICD
,
IE
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2016-11-28
14:40
大阪
立命館大学大阪いばらきキャンパス
PHITS-TCADシミュレーションによるFinFETとFDSOIのソフトエラー耐性の評価
○
梅原成宏
・
古田 潤
・
小林和淑
(
京都工繊大
)
VLD2016-50 DC2016-44
集積回路の微細化に伴い,ソフトエラーによる信頼性の低下が問題となっている.近年,SOIやFinFETのような従来と異なる...
[more]
VLD2016-50
DC2016-44
pp.37-41
VLD
,
DC
(共催)
CPM
,
ICD
,
IE
(共催)
CPSY
,
RECONF
(併催)
[詳細]
2016-11-28
15:05
大阪
立命館大学大阪いばらきキャンパス
重イオン照射測定によるFDSOIにおけるFFのソフトエラー耐性の評価
○
一二三 潤
・
梅原成宏
・
丸岡晴喜
・
古田 潤
・
小林和淑
(
京都工繊大
)
VLD2016-51 DC2016-45
微細プロセスではレイアウト構造を変更することで様々な影響が及ぶ.本研究では 28 nm と 65 nm の FDSOI ...
[more]
VLD2016-51
DC2016-45
pp.43-48
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