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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2012-12-18 10:55 |
東京 | 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール | ［招待講演］ソフトエラー評価技術と対策技術 ○上村大樹（富士通セミコンダクター）  ICD2012-116 |
ソフトエラーとは一過性のエラーのことで、宇宙線起因の中性子線、IC材料中の放射性不純物起因のα線により発生する。近年微細... [more] | ICD2012-116 pp.103-108 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | 中性子起因SEMTの電源電圧及び基板バイアス依存性測定 ○原田 諒（阪大）・密山幸男（高知工科大）・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2012-100 DC2012-66 |
本稿では，中性子起因一過性複数パルス(SEMT) の測定結果を示す．まずSEMT 測定回路を提案し，65nmプロセスで試... [more] | VLD2012-100 DC2012-66 pp.237-241 |
| SDM | 2010-11-12 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | インバータセルにおけるSingle-Event-Transientパルス発生のモデリング ○田中克彦・中村英之・上村大樹・竹内 幹・福田寿一・熊代成孝・最上 徹（MIRAI-Selete） SDM2010-180 |
宇宙線中性子起因の二次イオンが発生させた電荷によって生じたエラー信号パルスが組み合わせ回路中を伝播する Single E... [more] | SDM2010-180 pp.47-52 |
| VLD | 2010-09-28 15:25 |
京都 | 京都工繊大 60周年記念館 | 高時間分解能を実現するSETパルス幅測定回路の提案 ○原田 諒・密山幸男・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大） VLD2010-55 |
本稿では，放射線起因一過性パルス (SET) のパルス幅測定回路を提案する．まず中性子加速実験によるSET測定に必要な要... [more] | VLD2010-55 pp.77-82 |
| SANE | 2008-06-26 16:30 |
茨城 | JAXA筑波宇宙センター | 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(仮) ○牧野高紘（総研大）・柳川善光（東大）・小林大輔（総研大/JAXA）・福田盛介（JAXA）・廣瀬和之・池田博一（総研大/JAXA）・斎藤宏文（東大/JAXA）・小野田 忍・平尾敏雄・大島 武（原子力機構）・高橋大輔・石井 茂・草野将樹・池淵 博・黒田能克（三菱重工） SANE2008-25 |
放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている． 論理LSIはチップ内部... [more] |
SANE2008-25 pp.67-72 |
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