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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2015-06-19
11:10
愛知 名古屋大学 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー [依頼講演]SiC/SiO2界面における窒素化学状態の結晶面方位依存性
森 大輔井上 慧寺西秀明広瀬隆之瀧川亜樹富士電機SDM2015-42
SiC(000-1)面(C面)、SiC(0001)面(Si面)それぞれのSiC/SiO2界面の原子構造を明らかにするため... [more] SDM2015-42
pp.21-26
US 2014-02-21
15:05
東京 JAXA 調布航空宇宙センター 飛行場分室 超音波による水素とヘリウムの比熱比測定
平松智寛葛 晰遥九大)・藤田秀朗オリイメック)・古君 修加藤喜峰九大US2013-108
超音波を利用して、気体の比熱比を測定することに成功した。気体の温度が変化した場合や気体が混合した場合に、音速の変化が起こ... [more] US2013-108
pp.75-79
OME 2013-12-17
13:45
東京 機械振興会館 ピリジル系鉄コバルト錯体を前駆体とした酸素還元触媒の有効窒素化学種の解析
高橋勝国城石英伸東京高専)・齋藤守弘田中優実東京理科大OME2013-78
2,2’-ビピリジン,1,10-フェナントロリンを配位子とする鉄・コバルト錯体を多層カーボンナノチューブに担持しアンモニ... [more] OME2013-78
pp.7-12
CPM, LQE, ED
(共催)
2013-11-28
16:40
大阪 大阪大学 吹田キャンパス A novel method for crystallizations of aluminum nitride
PeiTsen WuMitsuru FunatoYoichi KawakamiKyoto Univ.ED2013-75 CPM2013-134 LQE2013-110
In this work, a new method of AlN crystal growth is proposed... [more] ED2013-75 CPM2013-134 LQE2013-110
pp.51-55
SDM 2013-10-18
10:00
宮城 東北大学未来研 窒素添加LaB6薄膜のデバイス応用に関する検討
前田康貴大見俊一郎東工大)・後藤哲也大見忠弘東北大SDM2013-93
低仕事関数を有するLaB6は,窒素を添加することで酸化耐性が向上することが報告されている.本研究では窒素添加したLaB6... [more] SDM2013-93
pp.27-31
LQE, LSJ
(共催)
2013-05-17
15:20
石川 金沢大学角間キャンパス 窒素ドープ同位体制御化学気相成長で作製したダイヤモンドNVセンターサンプルの光学・スピン特性
五味朋寛富澤周平慶大)・渡邊幸志梅澤 仁鹿田真一産総研)・伊藤公平早瀬潤子慶大LQE2013-12
ダイヤモンド中窒素空孔中心 (NVセンター)の電子スピン状態は,量子情報技術や高感度ナノ磁場センシングへの応用が期待され... [more] LQE2013-12
pp.53-56
QIT
(第二種研究会)
2012-11-27
- 2012-11-28
神奈川 慶応大学 日吉キャンパス [ポスター講演]ダイヤモンド中の単一NV中心の核スピンを用いた多量子ビット化と室温での量子もつれ生成
下岡孝明阪大)・加藤宙光山崎 聡産総研)・三輪真嗣鈴木義茂水落憲和阪大
近年、ダイヤモンド中のNV 中心はその優れたコヒーレンス特性から盛んに研究がなされている。
本研究で我々は室温下で単一... [more]

CPM 2011-08-10
15:45
青森 弘前大学 文京町キャンパス プラズマCVD法によるSiおよびN同時添加DLC膜特性に対する水素の影響
奥野さおり三浦創史鎌田亮輔中澤日出樹弘前大CPM2011-62
ダイヤモンドライクカーボン(DLC)の膜特性の改善のために、SiおよびN源にヘキサメチルジシラザン(HMDS)を用いたプ... [more] CPM2011-62
pp.31-36
EMD 2010-11-11
09:30
海外 西安交通大学(中国、西安) Simulation of the influence of silver contact vapor on the DC arc behavior in a sealed relay
Xue ZhouWenying YangGuofu ZhaiHarbin Inst. of Tech.EMD2010-71
Species compositions of silver-nitrogen plasmas in temperatu... [more] EMD2010-71
pp.19-22
ED 2010-10-25
13:50
京都 宇治おうばくプラザ(京都大学) 窒素添加ダイヤモンドからの電子放出特性とC-N結合の関係
工藤唯義筑波大/国際基督教大)・増澤智昭佐藤祐介国際基督教大)・齋藤市太郎国際基督教大/ケンブリッジ大)・山田貴壽産総研)・Angel KohDaniel Chuaシンガポール国立大)・吉野輝雄田 旺帝国際基督教大)・山崎 聡筑波大/産総研)・岡野 健国際基督教大ED2010-130
尿素,ジメチル尿素という2種類の不純物源を用いて合成した窒素添加ダイヤモンドについて,飛行時間二次イオン質量分析(TOF... [more] ED2010-130
pp.11-15
SDM 2009-06-19
13:40
東京 東京大学(生産研An棟) HfO2/Ge MIS構造のF2処理と窒素ラジカル処理による電気的特性の向上
今庄秀人Hyun LeeDong-Hun Lee吉岡祐一金島 岳奥山雅則阪大SDM2009-34
我々はGe表面へのF2処理により界面のダングリングボンドを終端することで電気的特性が改善されることを報告したが,ゲート絶... [more] SDM2009-34
pp.45-50
SDM 2008-10-10
16:15
宮城 東北大学 角度分解光電子分光法によるゲート絶縁膜/シリコン基板界面に形成される構造遷移層に関する研究
諏訪智之東北大)・荒谷 崇信越化学)・樋口正顕東芝)・須川成利東北大)・池永英司高輝度光科学研究センター)・牛尾二郎日立)・野平博司武蔵工大)・寺本章伸大見忠弘服部健雄東北大SDM2008-167
研究は、Si(100)、Si(111)、Si(110)基板上にNHラジカルにより形成したシリコン窒化膜について、軟X線励... [more] SDM2008-167
pp.69-74
SDM 2007-06-08
09:50
広島 広島大学(学士会館) SiON pMOSFETに対するNBTI劣化のモデリング
下川淳二遠田利之青木伸俊谷本弘吉伊藤早苗豊島義明東芝SDM2007-41
SiO${}_2$ pMOSFETに対するNBTI劣化のモデルとして,理論的なモデルは反応拡散モデルが,実験的なモデルは... [more] SDM2007-41
pp.55-58
SDM 2007-06-08
10:30
広島 広島大学(学士会館) HfSiOxのBTIに対する窒素添加効果
田村知大内藤達也筑波大)・佐藤基之犬宮誠治半導体先端テクノロジーズ)・蓮沼 隆山部紀久夫筑波大SDM2007-42
電圧ストレス下におけるHfSiOx膜およびHfSiON膜のしきい値電圧変化を評価した。その結果、しきい値電圧の変化を-Δ... [more] SDM2007-42
pp.59-64
SDM 2007-06-08
11:20
広島 広島大学(学士会館) ラジカル窒化によるLa2O3ゲート絶縁膜への窒素導入効果 ~ 堆積時窒化によるEOT増加抑制効果 ~
佐藤創志舘 喜一宋 在烈角嶋邦之パールハット アヘメト筒井一生杉井信之服部健雄岩井 洋東工大SDM2007-44
窒素ラジカルの照射下においてEB蒸着によりLa2O3膜を堆積することにより、La2O3膜への窒素導入を行った。La2O3... [more] SDM2007-44
pp.71-74
SDM 2006-06-22
11:20
広島 広島大学, 学士会館 極薄ゲート絶縁膜のNBTIに及ぼす窒素と水素の影響
三谷祐一郎佐竹秀喜東芝
極薄ゲート絶縁膜の負バイアス温度不安定性(NBTI)は、微細化の進むCMOSデバイスのPチャネルMOSFETにおいてもっ... [more] SDM2006-57
pp.87-92
R, ED, SDM
(共催)
2005-11-25
15:30
大阪 中央電気倶楽部 水素プラズマ照射されたn型窒化ガリウムの電気特性評価
須田将之都立大)・中村成志須原理彦奥村次徳都立大/首都大東京
プラズマ照射によるn-GaNの電気特性への影響を評価した.水素プラズマ照射されたSi doped n-GaNにおいて,低... [more] R2005-45 ED2005-180 SDM2005-199
pp.43-46
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