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電子材料研究会 (IEE-EFM)
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電磁界理論技術委員会 (IEE-EMT)
家電・民生技術委員会 (IEE-HCA)
産業電力電気応用研究会(解散) (IEE-IEA)
次世代産業システム (IEE-IIS)
情報システム研究会 (IEE-IS)
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医用・生体工学技術委員会 (IEE-MBE)
マイクロマシン・センサシステム研究会 (IEE-MSS)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
EMD
,
R
(共催)
2009-02-20
11:05
三重
住友電装本社
微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究
○
伊藤大二
・
池田博榮
・
齋藤 寧
・
玉井輝雄
・
飯田和生
(
三重大
)・
伊藤哲也
・
服部康弘
(
オートネットワーク技研
)
R2008-47 EMD2008-123
近年、車載用コネクタの小型化に伴い接触荷重が低下し、接続の信頼性を確保する上で、微摺動摩耗現象が重要な問題となっている。...
[more]
R2008-47
EMD2008-123
pp.19-24
LQE
2008-12-12
15:10
東京
機械振興会館 地下3階2号室
緑色半導体レーザに向けたInP基板上II-VI族材料の開拓
○
野村一郎
・
岸野克巳
・
蛯沢智也
・
櫛田 俊
・
田才邦彦
・
中村 均
・
朝妻庸紀
・
中島 博
(
上智大
)
LQE2008-138
InP基板上のMgZnCdSe、BeZnTe、BeZnSeTe?-?族半導体は可視光中域、特に緑色発光素子材料として有望...
[more]
LQE2008-138
pp.53-58
SDM
2008-12-05
15:30
京都
京都大学桂キャンパスA1-001
紫外線プラズマ照射によるSiO2/Si界面及びSi中の電気的特性変化
○
滝内 芽
・
鮫島俊之
(
東京農工大
)
SDM2008-193
プラズマ及び紫外線レーザ照射後のMOS試料の電気特性の変化について報告する。P型シリコン基板に100nmの熱酸化膜を形成...
[more]
SDM2008-193
pp.49-54
MoNA
,
IPSJ-MBL
(共催)
2008-05-22
11:15
沖縄
沖縄県青年会館
センサネットワーク省電力化機構HGAFにおけるノード間ネットワーク接続性に関する検討
○
稲垣徳也
・
石原 進
(
静岡大
)
無線センサネットワークでは,無線センサノードを観測したい領域に配置し,それらノード間におけるマルチホップ通信を用いて観測...
[more]
MoMuC2008-7
pp.39-44
CPM
,
ED
,
SDM
(共催)
2008-05-16
15:05
愛知
名古屋工業大学
マイクロ波光導電減衰法によるp型4H-SiCエピタキシャル膜の評価
○
松下由憲
・
加藤正史
・
市村正也
(
名工大
)・
畑山智亮
(
奈良先端大
)・
大島 武
(
原子力機構
)
ED2008-20 CPM2008-28 SDM2008-40
SiCは高出力,高周波デバイスの材料として注目されている.実用化を妨げる原因のひとつとしてウェハー中の結晶欠陥の存在が挙...
[more]
ED2008-20
CPM2008-28
SDM2008-40
pp.95-100
EMT
,
LQE
,
OPE
,
PN
(共催)
2008-01-29
09:30
大阪
大阪電気通信大学
量子井戸レーザにおけるバンドオフセットのキャリヤ再結合寿命に与える影響
○
角田慎一
・
西村英晋
・
田中将士
・
須崎 渉
(
阪電通大
)
PN2007-55 OPE2007-163 LQE2007-141
GaAsとInP基板上に形成した各種の光・キャリヤ分離閉じ込め型量子井戸レーザのキャリヤ再結合寿命を矩形電流パルスに対す...
[more]
PN2007-55
OPE2007-163
LQE2007-141
pp.101-106
RCS
,
SIP
(共催)
2008-01-25
13:25
広島
広島市大
アドホックネットワークにおける位置情報を用いた経路構築に関する提案
○
木村英雄
(
東大
)・
浅野正一郎
(
NII
)
SIP2007-173 RCS2007-176
移動を前提とした携帯端末で構築されるアドホックネットワークにおいて、リンクが切断よることによって性能が低下してしまうとい...
[more]
SIP2007-173
RCS2007-176
pp.91-96
EMD
2007-11-14
09:50
静岡
アクトシティ浜松
錫めっき接点における微摺動摩耗の微視的観察
○
池田博榮
・
伊藤哲也
・
澤田 滋
・
服部康弘
(
オートネットワーク技研
)・
齋藤 寧
・
玉井輝雄
・
飯田和生
(
三重大
)
EMD2007-70
[more]
EMD2007-70
pp.7-12
EMD
2007-10-19
09:30
神奈川
慶応義塾大学(日吉キャンパス)
Au-Niメッキを施した電力伝達用小形スリップリングの長寿命化に関する研究
○
小林辰也
・
澤 孝一郎
(
慶大
)・
遠藤 薫
・
萩野弘司
(
日本サーボ
)
EMD2007-56
本研究ではAu-Ni メッキスリップリングとAg-Pd 合金ブラシを組み合わせたシステムを用いて実験を
行い,その長寿...
[more]
EMD2007-56
pp.1-6
CPM
,
ED
,
LQE
(共催)
2007-10-11
13:30
福井
福井大学
単一InGaN/GaNナノコラムの顕微分光
○
金田昭男
(
京大/JST
)・
金井聡庸
(
京大
)・
船戸 充
・
川上養一
(
京大/JST
)・
菊池昭彦
・
岸野克己
(
上智大/JST
)
ED2007-157 CPM2007-83 LQE2007-58
c面サファイア基板上に成長したInGaN/GaNナノコラムを、基板表面に微小ミラー構造を作製したSi基板上に分散させるこ...
[more]
ED2007-157
CPM2007-83
LQE2007-58
pp.7-12
IT
2007-07-19
15:40
兵庫
神戸大学
残余エネルギーに着目したBluetooth-Based WPAN構成アルゴリズム
○
飯田康隆
・
橋本 猛
(
電通大
)
IT2007-13
Bluetooth-Based WPAN(BT-WPAN)では,マスターノードとブリッジノードの選択方法がノードの電源の...
[more]
IT2007-13
pp.25-29
PRMU
,
DE
(共催)
2007-06-29
10:00
北海道
北海道大学
顧客生涯価値を高めるためのリコメンデーション法
○
岩田具治
・
斉藤和巳
・
山田武士
(
NTT
)
DE2007-11 PRMU2007-37
オンラインストアの収益を向上させるためには,顧客生涯価値(LTV)を高めることが重要である.従来のリコメンデーション法は...
[more]
DE2007-11
PRMU2007-37
pp.57-62
ED
,
SDM
(共催)
2007-06-25
15:55
海外
Commodore Hotel Gyeongju Chosun, 慶州, 韓国
Analysis of plasma etching damages in GaN by excess carrier lifetime measurements
○
Masashi Kato
・
Keisuke Fukushima
・
Masaya Ichimura
(
Nagoya Inst. of Tech.
)・
Masakazu Kanechika
・
Osamu Ishiguro
・
Tetsu Kachi
(
Toyota Central R&D Labs.
)
窒化ガリウム(GaN)は高出力,高周波デバイスへの応用が期待されており,GaNのバイポーラデバイスプロセスにおいてエッチ...
[more]
SDM
,
ED
,
CPM
(共催)
2007-05-24
14:50
静岡
静岡大学 浜松キャンパス
過剰キャリアライフタイム測定によるGaNのプラズマエッチングダメージの解析とアニール効果の評価
○
福島圭亮
・
加藤正史
・
市村正也
(
名工大
)・
兼近将一
・
石黒 修
・
加地 徹
(
豊田中研
)
窒化ガリウム(GaN)は高出力,高周波デバイスへの応用が期待されており,GaNのバイポーラデバイスプロセスにおいてエッチ...
[more]
EE
2007-01-26
10:40
長崎
長崎県美術館
宇宙機用バランス回路の開発
○
瀬上 剛
・
艸分宏昌
・
清水康弘
・
内藤 均
・
山田知佐
・
岐部公一
(
JAXA
)・
坂本 浩
(
崇城大
)
EE2006-48
宇宙機のミッション機器搭載比率の増加を目指すため、電源系機器の小型軽量化が期待され、リチウムイオン電池、電源制御器、太陽...
[more]
EE2006-48
pp.65-70
ED
,
CPM
,
LQE
(共催)
2006-10-06
11:50
京都
京都大学
電流注入発光寿命によるGan系LEDにおける内部量子効率の評価
○
財満康太郎
(
東芝
)・
成田哲生
(
名大
)・
斎藤真司
・
橘 浩一
・
名古 肇
・
波多腰玄一
・
布上真也
(
東芝
)
InGaN量子井戸を活性層とする発光ダイオード(Light Emitting Diode, LED)を試料として、電流注...
[more]
ED2006-166
CPM2006-103
LQE2006-70
pp.79-82
ED
,
CPM
,
SDM
(共催)
2006-05-19
14:00
愛知
豊橋技術科学大学VBL
過剰キャリア減衰曲線に現れる遅い成分の温度依存性からのトラップパラメータの導出
○
市村正也
(
名工大
)
光導電減衰法によるキャリアライフタイム測定では、過剰キャリア密度減衰曲線の後半部分に遅い成分が顕著に表れることがある。こ...
[more]
ED2006-38
CPM2006-25
SDM2006-38
pp.101-106
ICD
,
VLD
(共催)
2006-03-10
10:05
沖縄
メルパルク沖縄
電池駆動システムにおける電池ライフタイムのモデル化に関する一提案
○
森 千浩
・
小八木達也
・
福井正博
(
立命館大
)
ユビキタス情報化時代に向けて,超低消費電力化技術や, 電池の長時間動作を実現する技術の要望が高まっている.本稿では, 診...
[more]
VLD2005-124
ICD2005-241
pp.13-18
EE
2006-02-16
16:50
熊本
崇城大学
据置用大容量リチウムイオン二次電池の寿命・残容量推定
○
松島敏雄
(
NTTファシリティーズ
)・
堀江利夫
(
NTT
)
据置用に開発された大容量のリチウムイオン二次電池について、高温加速劣化試験法によって充電電圧をパラメータとして電池の寿命...
[more]
EE2005-68
pp.45-50
OCS
,
NS
(併催)
2006-01-26
17:00
大阪
大阪工業大学
[奨励講演]パケット分配送信による複数シンクセンサネットワークの省電力化について
○
鈴木孝明
・
萬代雅希
・
渡辺 尚
(
静岡大
)
センサネットワークの問題の一つに,地理的に観測データの発生が偏ることでパケット中継による電力消費に偏りが生じ,一部のセン...
[more]
NS2005-153
pp.13-16
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