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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD, SDM
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2016-08-03
15:30
大阪 中央電気倶楽部 負性容量によるトンネルFETの性能向上に関する検討
小林正治チャン キュンミン上山 望平本俊郎東大SDM2016-68 ICD2016-36
センサーネットワークを構成するIoTデバイスには,エナジーハーベスティング技術を利用して超低電圧・超低消費電力で動作する... [more] SDM2016-68 ICD2016-36
pp.127-130
SDM 2016-06-29
10:40
東京 キャンパス・イノベーションセンター東京 [依頼講演]強誘電体絶縁膜の負性容量を利用した急峻スイッチング実現のためのSOI-FET設計指針
太田裕之右田真司服部淳一福田浩一産総研)・鳥海 明東大SDM2016-34
本研究では負性容量を用いて急峻なサブスレショルド係数(SS)を実現するための完全空乏型silicon-on-insula... [more] SDM2016-34
pp.9-13
OME 2011-10-14
15:20
東京 機械振興会館 B3-2 (BEDT-TTF)(TCNQ)結晶FETにおける電界誘起熱刺激電流と誘電特性との相関
花田光聡酒井正俊石黒雅人千葉大)・松原亮介奈良先端大)・山内 博千葉大)・中村雅一奈良先端大)・工藤一浩千葉大OME2011-53
これまで我々は、有機モット絶縁体(BEDT-TTF)(TCNQ)を活性層とした電界効果トランジスタ(FET)を作製し、誘... [more] OME2011-53
pp.27-30
ICD 2010-12-17
10:20
東京 東京大学 先端科学技術研究センター エンタープライズSSD向け低消費電力・高信頼性強誘電体NANDフラッシュメモリ
畑中輝義矢島亮児野田晋司東大)・高橋光恵酒井滋樹産総研)・竹内 健東大ICD2010-118
低書き込み/消去電圧(6V)と高書き換え耐久性(1億回)を持つFe-NANDフラッシュメモリについて、高信頼性化技術を提... [more] ICD2010-118
pp.113-118
OME 2010-10-22
16:30
東京 NTT武蔵野研究開発センター 有機モット絶縁体(BEDT-TTF)(TCNQ)のキャリア伝導特性と結晶構造の解析
石黒雅人伊藤裕哉高原知樹花田光聡酒井正俊中村雅一工藤一浩千葉大OME2010-54
有機モット絶縁体(BEDT-TTF)(TCNQ)は、ドナー性分子であるbis(ethylenedithio)-tetra... [more] OME2010-54
pp.41-45
ICD, SDM
(共催)
2010-08-27
09:25
北海道 札幌エルプラザ内男女共同参画センター 単一セル自己昇圧法による10V動作,書き込み速度9.5GB/sec強誘電体NANDフラッシュSSD
宮地幸祐野田晋司畑中輝義東大)・高橋光恵酒井滋樹産総研)・竹内 健東大SDM2010-139 ICD2010-54
強誘電体NANDフラッシュメモリにおける新規書き込み法として単一セル自己昇圧法(SCSB: Single-Cell Se... [more] SDM2010-139 ICD2010-54
pp.83-88
ICD 2010-04-22
11:40
神奈川 湘南工大 しきい値電圧自己調整機能による60%スタティック・ノイズ・マージン(SNM)増加, 32%アクティブ電力削減, 42%リーク電流削減の強誘電体FETを使用した6T-SRAM
田中丸周平畑中輝義矢島亮児東大)・高橋光恵酒井滋樹産総研)・竹内 健東大ICD2010-5
強誘電体トランジスタを使用した0.5V動作の6T-SRAMが提案され,実験的に実証された.提案のSRAMはNMOSの基板... [more] ICD2010-5
pp.23-28
OME 2009-09-03
14:15
東京 機械振興会館 (BEDT-TTF)(TCNQ)配向結晶FETの相転移点近傍におけるキャリア伝導と誘電特性の相関
石黒雅人伊藤裕哉高原知樹酒井正俊中村雅一工藤一浩千葉大OME2009-39
有機モット絶縁体(BEDT-TTF)(TCNQ)は、ドナー性分子bis(ethylenedithio)-tetrathi... [more] OME2009-39
pp.19-22
ED 2009-04-23
15:30
宮城 東北大学電気通信研究所 酸化物エピタキシャル技術を用いた強誘電体ゲート薄膜トランジスタメモリ
金子幸広田中浩之加藤剛久嶋田恭博パナソニックED2009-5
微細化可能な新規不揮発性メモリとして,酸化物材料の積層構造を用いた強誘電体ゲート薄膜トランジスタを開発した.SrTiO3... [more] ED2009-5
pp.17-22
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