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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2011-02-14 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 高精度遅延テストのためのテストパターン生成法 ○堀 慧悟（奈良先端大）・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST）  DC2010-64 |
本研究では，システムクロックより速い複数のテストクロックを用いて，微小遅延を検出するテスト手法を提案する．半導体の製造プ... [more] | DC2010-64 pp.33-38 |
| AP, ITE-BCT (連催) |
2011-02-09 15:05 |
東京 | NHK放送技術研究所 | マルチパスリッチ環境を実現する電波反射箱 [III] ～ 電波吸収シートを用いた環境制御：その2 ～ ○アリフ リズワン・篠沢政宏・大島一郎・唐沢好男（電通大） AP2010-164 |
MIMO通信端末を模擬電波環境で評価したい場合には、OTA (Over-the-Air)状態での測定評価環境が必要になる... [more] | AP2010-164 pp.19-23 |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | ［招待講演］Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism ○Yasuo Sato・Seiji Kajihara（Kyusyu Institute of Technology）・Michiko Inoue・Tomokazu Yoneda・Satoshi Ohtake・Hideo Fujiwara（NAIST）・Yukiya Miura（Tokyo Metropolitan Univ.） |
The main task of test had traditionally been screening of ha... [more] | |
| DC | 2010-02-15 13:20 |
東京 | 機械振興会館 | 差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減 ○田辺 融・湊 浩久・加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） DC2009-71 |
近年のVLSIにおける微細化や高集積化，高速化に伴い，回路内の信号伝播時間がわずかに変化する微小遅延欠陥が問題視されてい... [more] | DC2009-71 pp.39-44 |
| DC | 2010-02-15 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 ○竹谷 啓・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-74 |
本稿では，LFSR，フェーズシフタ及びMISRで構成されるスキャンBISTを対象とし，テストデータ量制約下における高品質... [more] | DC2009-74 pp.57-62 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 14:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | 劣化検知テストにおけるパス選択について ○野田光政（九工大）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） VLD2009-65 DC2009-52 |
VLSIの微細化に伴い，経時劣化による故障への対応が重要になってくる．劣化の進行度合いは，同じ回路であっても回路内の箇所... [more] | VLD2009-65 DC2009-52 pp.167-172 |
| DC | 2009-02-16 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法 ○植本雄一・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2008-77 |
VLSI回路中の微小遅延を検出するテスト手法としてパス遅延故障テストがあるが，回路中の全パス数が膨大であるなど実用上の問... [more] | DC2008-77 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 10:55 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ［ポスター講演］伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計 ○怒和友美・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2008-81 DC2008-49 |
遅延故障のテスト手法として，スキャンベースの遅延テストであるハイブリッド遅延テストが文献\cite{hybrid}で提案... [more] | VLD2008-81 DC2008-49 pp.127-132 |
| NS | 2008-10-24 10:45 |
大阪 | 関西大学 | 劣通信環境における複数通信路を活用したデータ転送方式 ○永田 晃・山村新也（NICT）・内田真人・鶴 正人（九工大） NS2008-85 |
劣通信環境(通信切断が頻発，遅延が極めて大きい，ロスや帯域変動が激しい等)では，従来の安定したインターネットを前提として... [more] | NS2008-85 pp.99-104 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術 ○野口宏一朗・野瀬浩一（NEC）・尾野年信（NECエレクトロニクス）・水野正之（NEC） SDM2008-132 ICD2008-42 |
プロセスの微細化によるチップの高集積化に伴い、微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はＬ... [more] | SDM2008-132 ICD2008-42 pp.23-28 |
| DC, CPSY (共催) |
2008-04-23 16:15 |
東京 | 東大・武田ホール | 幅の広いエラーパルス検出機能を有する耐ソフトエラーFF ○阮 双玉・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） CPSY2008-9 DC2008-9 |
VLSI の微細化および低電力化に伴い論理回路におけるソフトエラーが問題となってきている．近年では，メモリ部やラッチ回路... [more] | CPSY2008-9 DC2008-9 pp.49-54 |
| DC | 2008-02-08 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定 ○池田直嗣・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-77 |
本稿では，高位合成情報を用いたRTLフォールスパスの判定方法を提案する．フォールスパス情報を利用することは，テスト生成時... [more] | DC2007-77 pp.63-68 |
| IA | 2007-07-20 14:00 |
京都 | 京都女子大学 J校舎5階会議室1 （J501） | 遅延計測による日本のインターネットトポロジ推定 ○菊池 豊（高知工科大）・藤井資子（慶大）・山本正晃・永見健一・中川郁夫（インテック・ネットコア） IA2007-27 |
われわれは，インターネットの通信遅延の実測値に基づき，ISPのネットワークトポロジを推定することを試みた．本研究では，I... [more] | IA2007-27 pp.103-108 |
| CPSY, DC (共催) |
2007-04-20 13:45 |
東京 | 産総研臨海副都心センター | 遅延故障テスト容易化耐ソフトエラーラッチの設計 ○池田卓史・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） CPSY2007-1 DC2007-1 |
近年，LSIの微細化，高集積化に伴い，回路の臨界電荷量が減少し，また，動作周波数が増加している．臨界電荷量の低下はソフト... [more] | CPSY2007-1 DC2007-1 pp.1-6 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-01 09:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 同位相構造に基づく特定用途を考慮したFPGAの相互接続遅延テスト ○矢葺光佑・大竹哲史・藤原秀雄（奈良先端大） |
本稿では，特定用途を考慮したFPGA(Field-Programmable Gate Array)の相互接続線のパス遅延... [more] | VLD2005-61 ICD2005-156 DC2005-38 pp.1-6 |
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