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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2009-06-19 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大）  DC2009-13 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い，タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．故障診断結果... [more] | DC2009-13 pp.19-24 |
| DC | 2009-02-16 10:50 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 ○秋山祐介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2008-70 |
近年，VLSIのテストではより100％の故障検出効率が求められている．しかしながら，VLSIの大規模化や複雑化に伴い，検... [more] | DC2008-70 pp.13-18 |
| ISEC | 2008-05-16 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | PINを用いるアルゴリズム的耐タンパ認証装置の再考(その2) ○駒野雄一（東芝）・太田和夫（電通大）・三宅秀享・新保 淳（東芝） ISEC2008-7 |
GennaroらはPIN認証を行うアルゴリズム的耐タンパデバイス (ATP device) の概念を導入し，認証の誤り回... [more] | ISEC2008-7 pp.43-48 |
| DC | 2008-02-08 16:05 |
東京 | 機械振興会館 | ATPGベクトルを利用したTPGの電流評価 ○土屋秀和・阿部高也・浅川 毅（東海大） DC2007-80 |
近年，LSIデバイスの動作速度の高速化や回路の大規模化が進んでいる．それに伴って，テスト時の消費電力が問題となっている．... [more] | DC2007-80 pp.83-88 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について ○福澤友晶・宮瀬紘平・大和勇太・古川 寛・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2007-71 DC2007-26 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] | VLD2007-71 DC2007-26 pp.7-12 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について ○塔ノ上義章・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平（JST）・鈴木達也・大和勇太（九工大） |
スキャンテストにおいて，キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性... [more] | CPM2006-148 ICD2006-190 pp.109-114 |
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