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登録講演（開催プログラムが公開されているもの） （日付・降順）

研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
EMD	2012-01-20 13:35	神奈川	レンタルホール湘南平塚	ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗とそのモデル (20) ～ ○和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒　明・柳　国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMD2011-112	著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more]	EMD2011-112 pp.1-6
EMD	2011-12-16 13:55	東京	日本工業大学神田キャンパス	ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗とそのモデル (19) ～ ○和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・益田直樹・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMD2011-108	著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more]	EMD2011-108 pp.11-16
EMD	2011-10-21 12:35	東京	立川市市民会館第一会議室	ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗とそのモデル(17) ～ ○和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒　明・柳　国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMD2011-57	著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more]	EMD2011-57 pp.1-6
EMD, EMCJ (共催)	2011-07-15 12:20	東京	機械振興会館	ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗とそのモデル(16) ～ ○和田真一・越田圭治・川述真裕・サインダーノロブリン・益田直樹・石黒　明・柳　国男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMCJ2011-61 EMD2011-20	著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more]	EMCJ2011-61 EMD2011-20 pp.1-6
EMD, EMCJ (共催)	2011-07-15 12:45	東京	機械振興会館	タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象～タッピング・デバイスの試作(3) ～和田真一・○越田圭治・サインダーノロブリン・川述真裕・竹田弘毅・石塚大貴・柳　国男・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤　孝一郎（日本工大） EMCJ2011-62 EMD2011-21	著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな“タッピング・デバイス(TPD)”を開発し試... [more]	EMCJ2011-62 EMD2011-21 pp.7-12
EMD	2011-05-20 15:50	宮城	東北大学サイバーサイエンスセンター	ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗とそのモデル(15) ～ ○和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2011-7	著者らは，電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検... [more]	EMD2011-7 pp.33-38
EMD	2011-01-28 15:40	東京	日本航空電子工業株式会社	タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象～タッピング・デバイスの試作(1) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳　国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-141	著者らは，ハンマリング加振機構(HOM)，摺動接触機構(SCM)，および３次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more]	EMD2010-141 pp.35-40
EMD	2011-01-28 16:05	東京	日本航空電子工業株式会社	タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象～タッピング・デバイスの試作(2) ～ ○越田圭治・和田真一・サインダーノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-142	著者らは，専用のステージが必要なく，また，ある程度の定量性をもつ，ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more]	EMD2010-142 pp.41-46
EMD	2010-12-17 14:30	東京	玉川大学	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗について (14) ～ ○和田真一・サインダーノロブリン・越田圭治・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-132	著者らは，ハンマリング加振機構によって電気接点における鉛直方向の微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本報告にお... [more]	EMD2010-132 pp.17-22
EMD	2010-11-12 13:15	海外	西安交通大学（中国、西安）	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象の研究～モデリング (10) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMD2010-111	[more]	EMD2010-111 pp.185-188
EMD	2010-10-15 14:35	東京	NTT武蔵野研究開発センタ	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗について(13) ～ ○和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-65	著者らは，摺動接触機構を用いて，摩擦力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ... [more]	EMD2010-65 pp.13-18
EMD, OPE, LQE, CPM (共催)	2010-08-26 09:20	北海道	千歳アルカディアプラザ	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～加振機構のモデリング（9）～ ○和田真一・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24	電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more]	EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 pp.1-6
EMCJ, EMD (共催)	2010-07-16 12:35	東京	機械振興会館	ハンマリング加振機構による電気接点劣化現象～接触抵抗について(その13) ～和田真一・○園田健人・越田圭治・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMCJ2010-32 EMD2010-17	著者らは，鉛直方向においてハンマリング加振機構によって電気接点に対する微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本研... [more]	EMCJ2010-32 EMD2010-17 pp.1-6
EMD, CPM, OME (共催)	2010-06-25 16:20	東京	機械振興会館地下3階研修2号室	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗について（12）～和田真一・○越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33	著者らは，摺動接触機構を用いて，摺動力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ... [more]	EMD2010-14 CPM2010-28 OME2010-33 pp.31-36
EMD, CPM, OME (共催)	2010-06-25 16:45	東京	機械振興会館地下3階研修2号室	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～摺動機構のモデリング（1）～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大） EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34	著者らは，摺動接触機構において，摺動力2.0N/pinおよび0.3N/pin，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの... [more]	EMD2010-15 CPM2010-29 OME2010-34 pp.37-42
EMD	2010-05-21 14:50	秋田	秋田大学	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～加振機構のモデリング（その8）～ ○和田真一・越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（日本工大） EMD2010-4	電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し，微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してき... [more]	EMD2010-4 pp.19-24
EMD	2009-12-18 13:05	千葉	千葉工業大学津田沼キャンパス	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗について（その9）～和田真一・○越田圭治・園田健人・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大） EMD2009-106	著者らは，摺動接触機構において，摺動力2.0Nおよび0.3N，摺動振幅±5.0μmおよび±10.0μmの条件で，それぞれ... [more]	EMD2009-106 pp.1-6
OPE, EMD, CPM, LQE (共催)	2009-08-21 17:05	宮城	東北大学	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗について(その7) ～ ○和田真一・園田健人・越田圭治・サインダーノロブリン・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大） EMD2009-58 CPM2009-82 OPE2009-106 LQE2009-65	著者らは，鉛直方向においてハンマリング加振機構によって電気接点に対する微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した．ハンマリ... [more]	EMD2009-58 CPM2009-82 OPE2009-106 LQE2009-65 pp.169-174
CPM, EMD, OME (共催)	2009-06-19 16:20	東京	機械振興会館	ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象～接触抵抗について(その6) ～和田真一・○園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大） EMD2009-19 CPM2009-31 OME2009-26	著者らは，鉛直方向のハンマリング加振機構及び摺動接触機構によって電気接点における微小振動が接触抵抗に与える影響を検討した... [more]	EMD2009-19 CPM2009-31 OME2009-26 pp.27-32
EMD	2008-10-17 13:35	東京	東京都八王子労政会館	3次元加振機構による電気接点の劣化現象～ 3D加振機構の加振特性～ ○和田真一・越田圭治・峯岸寛人・園田健人・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大） EMD2008-60	著者らは，ハンマリング加振機構や摺動接触機構などの１次元加振機構を３次元に発展させた，実用的振動をシミュレートできる３次... [more]	EMD2008-60 pp.1-6

著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

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