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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2021-02-05 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）  DC2020-74 |
近年，大規模集積回路のテストコスト増大伴い，テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている．従来手法ではコ... [more] | DC2020-74 pp.30-35 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2020-12 DC2020-12 |
近年，集積回路の高集積化・複雑化に伴い，セル内の欠陥が増加し，セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] | CPSY2020-12 DC2020-12 pp.75-80 |
| DC | 2017-02-21 10:30 |
東京 | 機械振興会館 | キャプチャセーフテストベクトルを利用した低消費電力指向テスト生成における動的テスト圧縮法 ○細川利典・平井淳士・山崎紘史・新井雅之（日大） DC2016-74 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ動作時の過度な電力消費は回路の熱破壊や誤テストといった深刻な問題を引き起こし，歩... [more] | DC2016-74 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:25 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察 ○楠山友紀乃・山崎達也・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） VLD2012-105 DC2012-71 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により，テストパターン数が増大して... [more] | VLD2012-105 DC2012-71 pp.267-272 |
| DC | 2012-02-13 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法 ○高橋明彦・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-82 |
近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，回路内のゲート数が増加している．それにともない，テスト対象となる故障数が増加... [more] | DC2011-82 pp.37-42 |
| DC | 2010-02-15 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 ○湯本仁高・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2009-72 |
近年，半導体集積技術の進展に伴い，大規模集積回路(LSI)が大規模化，高集積化している．LSIが大規模化，高集積化するこ... [more] | DC2009-72 pp.45-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 13:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | テスト圧縮指向ドントケア抽出法 ○若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2009-62 DC2009-49 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている．それらの問題を解決す... [more] | VLD2009-62 DC2009-49 pp.149-154 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-09-08 11:20 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法 ○樋上喜信（愛媛大）・Kewal K Saluja（Univ. of Wisconsin-madision）・高橋 寛・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
近年，論理回路のテストや故障診断におけるコスト削減が重要になってきている． テストや故障診断のコストは，印加されるテス... [more] |
CPM2005-89 ICD2005-99 pp.25-30 |
| RECONF | 2005-05-12 09:30 |
京都 | 京都大学 | LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について ○佐伯友之・市原英行・井上智生（広島市大） |
製造したLSIの故障を検出するテスト工程において，LSIの大規模化に伴いテストデータサイズの増大という問題が発生している... [more] | RECONF2005-1 pp.1-6 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について ○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生（広島市大） |
ハフマン符号などの可変長符号を用いたテストデータ圧縮・展開手法は，テスト実行時間の増加およびテスタメモリ不足の問題に対し... [more] | CPM2004-168 ICD2004-213 pp.35-40 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） |
本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] | CPM2004-169 ICD2004-214 pp.41-46 |
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