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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2011-06-24 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト ○宮瀬紘平・内之段裕太・榎元和成（九工大）・大和勇太（奈良先端大）・温 暁青・梶原誠司（九工大）・Fangmei Wu・Luigi Dilillo・Alberto Bosio・Patrick Girard・Arnaud Verazel（Lirmm）  DC2011-13 |
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する．本稿では，X判定技術とX割当技術を... [more] | DC2011-13 pp.29-34 |
| DC | 2011-02-14 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定 ○坂井僚太・宮瀬紘平・温 暁青（九工大）・麻生正雄・古川 寛（ルネサス マイクロシステム）・大和勇太（福岡県産業・科学技術振興財団）・梶原誠司（九工大） DC2010-60 |
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は，LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし，歩留り低下の... [more] | DC2010-60 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:05 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | Rotating Test and Pattern Partitioning for Field Test ○Senling Wang・Seiji Kajihara・Yasuo Sato・Kohei Miyase・Xiaoqing Wen（Kyushu Insti. Tech.） |
[more] | |
| DC | 2010-02-15 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について 奥 慎治・○梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JTS） DC2009-73 |
本研究では，テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて，故障遅延の遅延値の算出手法を提案する．テストキ... [more] | DC2009-73 pp.51-56 |
| DC | 2010-02-15 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化 ○宮瀬紘平（九工大）・中村優介（パナソニックCCソフト）・大和勇太・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2009-76 |
LSIの微細化，高速化は欠陥の振る舞いを複雑・多様にし，故障箇所，故障の原因の特定を困難なものとしている．X故障モデルは... [more] | DC2009-76 pp.69-74 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 14:05 |
高知 | 高知市文化プラザ | 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究 ○別府 厳（九工大）・宮瀬紘平（九工大/JST）・大和勇太（九工大）・温 暁青・梶原誠司（九工大/JST） VLD2009-55 DC2009-42 |
LSIのテストにおけるスキャンシフト動作，キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は，解決すべき重要な課題である... [more] | VLD2009-55 DC2009-42 pp.95-100 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 14:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | 劣化検知テストにおけるパス選択について ○野田光政（九工大）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） VLD2009-65 DC2009-52 |
VLSIの微細化に伴い，経時劣化による故障への対応が重要になってくる．劣化の進行度合いは，同じ回路であっても回路内の箇所... [more] | VLD2009-65 DC2009-52 pp.167-172 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 13:50 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について ○高嶋敦之・大和勇太・古川 寛・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2008-62 DC2008-30 |
スキャンテストのキャプチャモードにおいて，回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可... [more] | VLD2008-62 DC2008-30 pp.13-18 |
| DC | 2008-06-20 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について ○原口雅史（九工大）・三浦幸也（首都大東京）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大） DC2008-17 |
集積回路の微細化技術の進展とともに，回路の劣化に伴う経時変化の考慮が重要になっている．本研究では，回路の劣化検知を行う準... [more] | DC2008-17 pp.35-40 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について ○福澤友晶・宮瀬紘平・大和勇太・古川 寛・温 暁青・梶原誠司（九工大） VLD2007-71 DC2007-26 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] | VLD2007-71 DC2007-26 pp.7-12 |
| R | 2007-09-14 13:40 |
高知 | 高知工科大学 | LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について ○中村優介・大和勇太・温 暁青・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大）・K. K. サルージャ（ウィスコンシン大） R2007-33 |
LSIの微細化・高速化により，欠陥の振舞いは複雑化し，複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた．このような回路を精確に... [more] | R2007-33 pp.23-28 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 13:00 |
東京 | 機械振興会館 | 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について ○塔ノ上義章・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平（JST）・鈴木達也・大和勇太（九工大） |
スキャンテストにおいて，キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性... [more] | CPM2006-148 ICD2006-190 pp.109-114 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-28 11:45 |
福岡 | 北九州国際会議場 | ブロードサイドテストにおけるN回検出用テストパターンに対するX判定 ○谷口謙二郎（九工大）・宮瀬紘平（JST）・梶原誠司・温 暁青（九工大） |
[more] | VLD2006-57 DC2006-44 pp.35-40 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-02 09:30 |
福岡 | 北九州国際会議場 | スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について ○鈴木達也・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平・皆本義弘（JST） |
スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のＩＲドロップを引き起こす可能性が... [more] | VLD2005-76 ICD2005-171 DC2005-53 pp.1-6 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 11:45 |
東京 | 機械振興会館 | 故障診断のための観測性の定量化について ○豊田直哉・梶原誠司・温 暁青（九工大）・真田 克（NECエレクトロニクス） |
現在の故障診断は，回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い．しかし，回路の大規模化により，こ... [more] | CPM2004-167 ICD2004-212 pp.31-34 |
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