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研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2014-11-28 10:05	大分	ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター）	キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-99 DC2014-53	ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more]	VLD2014-99 DC2014-53 pp.185-190
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2014-11-28 10:30	大分	ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター）	キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法 ○山崎紘史・西間木　淳・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） VLD2014-100 DC2014-54	[more]	VLD2014-100 DC2014-54 pp.191-196
DC	2014-06-20 16:00	東京	機械振興会館	テスト環境生成結果を用いた階層テスト容易化バインディング法 ○西間木　淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-16	効率的な順序回路テスト生成法として機能レジスタ転送レベルの回路情報を利用した階層テスト生成法が提案されている．機能レジス... [more]	DC2014-16 pp.39-44
DC	2014-06-20 16:25	東京	機械振興会館	機能的k時間展開モデルのテスト容易性評価 ○増田哲也・西間木　淳・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2014-17	データパスを対象とした効率的なテスト生成手法として，機能的k時間展開モデルを用いたテスト生成法が提案されている．機能的k... [more]	DC2014-17 pp.45-50
DC	2014-02-10 10:55	東京	機械振興会館	SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2013-83	ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more]	DC2013-83 pp.25-30
DC	2014-02-10 15:10	東京	機械振興会館	BASTにおけるシフトデータ量削減法 ○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大） DC2013-87	LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more]	DC2013-87 pp.49-54
DC	2014-02-10 16:00	東京	機械振興会館	マルチサイクルキャプチャテスト生成を用いた低消費電力指向遷移故障テスト生成法 ○山崎紘史・川連裕斗・西間木　淳・平井淳士・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2013-89	ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高... [more]	DC2013-89 pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2013-11-28 14:10	鹿児島	鹿児島県文化センター	BASTにおけるテストデータ量削減のためのインバータブロック構成法 ○田中まりか・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・新井雅之（日大）・中尾教伸（読売理工医療福祉専門学校） VLD2013-85 DC2013-51	LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more]	VLD2013-85 DC2013-51 pp.171-176
DC	2013-06-21 13:45	東京	機械振興会館	データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木　淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大） DC2013-10	近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提... [more]	DC2013-10 pp.1-6
DC	2013-02-13 11:35	東京	機械振興会館	縮退故障テスト集合と遷移故障テスト集合を用いた欠陥検出能力向上のためのドントケア割当て法 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-83	[more]	DC2012-83 pp.19-24
DC	2013-02-13 14:40	東京	機械振興会館	AES暗号回路におけるトロイ回路設計の影響評価およびその一考察 ○荻田英実・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-86	[more]	DC2012-86 pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2012-11-28 15:20	福岡	九州大学百年講堂	遷移故障テストパターンに基づいた故障活性化率向上指向ドントケア割当て法 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2012-103 DC2012-69	[more]	VLD2012-103 DC2012-69 pp.255-260
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2012-11-28 16:25	福岡	九州大学百年講堂	テスト圧縮効率化のためのテスト生成法の一考察 ○楠山友紀乃・山崎達也・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） VLD2012-105 DC2012-71	近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，テスト対象となる故障モデル数と故障数の増加により，テストパターン数が増大して... [more]	VLD2012-105 DC2012-71 pp.267-272
DC	2012-06-22 13:00	東京	機械振興会館	故障活性化率向上指向ドントケア割当て法の評価 ○若杉諒介・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2012-9	従来，VLSIのテスト生成には単一縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられていている．しかしながら，近年VLSIの大... [more]	DC2012-9 pp.1-6
DC	2012-02-13 10:25	東京	機械振興会館	AES暗号回路におけるトロイ設計の影響評価 ○荻田英実・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-77	[more]	DC2011-77 pp.7-12
DC	2012-02-13 14:25	東京	機械振興会館	制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法 ○高橋明彦・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-82	近年，VLSIの大規模化，複雑化にともない，回路内のゲート数が増加している．それにともない，テスト対象となる故障数が増加... [more]	DC2011-82 pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2011-11-29 09:50	宮崎	ニューウェルシティ宮崎	BASTにおけるテストデータ量を削減するためのスキャンチェインの接続法 ○陳　贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2011-73 DC2011-49	LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more]	VLD2011-73 DC2011-49 pp.127-132
VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細]	2011-11-30 10:55	宮崎	ニューウェルシティ宮崎	VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2011-85 DC2011-61	近年，製造テストで正常VLSIと判定されるが，出荷後の使用環境で経年劣化の結果，出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more]	VLD2011-85 DC2011-61 pp.191-195
DC	2011-06-24 14:00	東京	機械振興会館	VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-10	近年，製造テストで正常VLSIと判定されるが，出荷後の使用環境で経年劣化の結果，出荷時の遅延時間に対して微小な遅延が発生... [more]	DC2011-10 pp.11-16
DC	2011-06-24 15:50	東京	機械振興会館	ケアビット分布制御ドントケア抽出～キャプチャ消費電力削減への適用～ ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2011-12	近年VLSI の大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化，テスト時の過剰な消費電力による誤テス... [more]	DC2011-12 pp.23-28

著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

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