| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2022-03-01 15:45 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価 ○土渕航平・徐 浩豊・千田裕弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）  DC2021-76 |
[more] | DC2021-76 pp.69-74 |
| DC | 2022-03-01 16:10 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・新井雅之・山内ゆかり（日大） DC2021-77 |
[more] | DC2021-77 pp.75-80 |
| DC | 2021-12-10 13:00 |
香川 | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法 ○三浦 怜・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2021-55 |
近年，超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い，低消費電力指向テスト生成手法が提案されてい... [more] | DC2021-55 pp.1-6 |
| DC | 2021-12-10 14:00 |
香川 | 国民宿舎小豆島（ふるさと荘交流センター） （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法 ○辻川敦也・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） DC2021-57 |
近年，大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり，IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] | DC2021-57 pp.13-18 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:00 |
ONLINE | オンライン開催 | ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法 ○太田菜月・細川利典（日大）・山崎浩二（明大）・山内ゆかり・新井雅之（日大） CPSY2020-61 DC2020-91 |
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため，スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] | CPSY2020-61 DC2020-91 pp.67-72 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:20 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 ○土渕航平・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） CPSY2020-62 DC2020-92 |
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い，超大規模集積回路において，故障解析は歩留まりの向上のために重要である．被疑故障を事前... [more] | CPSY2020-62 DC2020-92 pp.73-78 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 11:40 |
ONLINE | オンライン開催 | コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法 ○飯塚恭平・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2020-63 DC2020-93 |
近年，VLSIの微細化，高速化，電源電圧の低下に伴い，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっ... [more] | CPSY2020-63 DC2020-93 pp.79-84 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2021-03-26 12:00 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベルにおけるアンチSATに基づく論理暗号化法 ○辻川敦也・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2020-64 DC2020-94 |
近年，大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり，IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] | CPSY2020-64 DC2020-94 pp.85-90 |
| DC | 2021-02-05 14:00 |
ONLINE | オンライン開催 | RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2020-74 |
近年，大規模集積回路のテストコスト増大伴い，テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている．従来手法ではコ... [more] | DC2020-74 pp.30-35 |
| DC | 2021-02-05 14:50 |
ONLINE | オンライン開催 | テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法 ○中村健太・石山悠太・細川利典（日大） DC2020-76 |
[more] | DC2020-76 pp.42-47 |
| DC | 2021-02-05 15:30 |
ONLINE | オンライン開催 | レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） DC2020-77 |
VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテス... [more] | DC2020-77 pp.48-53 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 15:45 |
ONLINE | オンライン開催 | テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法 ○浅見竜輝・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） CPSY2020-12 DC2020-12 |
近年，集積回路の高集積化・複雑化に伴い，セル内の欠陥が増加し，セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] | CPSY2020-12 DC2020-12 pp.75-80 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 16:15 |
ONLINE | オンライン開催 | データ量に基づく可検査性尺度を用いたテスト容易化機能的時間展開モデル生成法 ○中村健太・細川利典・石山悠太（日大）・藤原秀雄（阪学院大） CPSY2020-13 DC2020-13 |
[more] | CPSY2020-13 DC2020-13 pp.81-86 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-ARC (連催) [詳細] |
2020-07-31 17:30 |
ONLINE | オンライン開催 | 機能等価な有限状態機械生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法 ○辻川敦也・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） CPSY2020-15 DC2020-15 |
近年，コントローラ拡大はレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計やセキュリティ設計に用い られている．コントローラ... [more] | CPSY2020-15 DC2020-15 pp.93-98 |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2020-03-06 14:30 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 （開催中止，技報発行あり） |
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・石山悠太・松田竜馬・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） VLD2019-131 HWS2019-104 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | VLD2019-131 HWS2019-104 pp.215-220 |
| DC | 2020-02-26 12:00 |
東京 | 機械振興会館 | n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法 ○竹内勇希・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大） DC2019-90 |
近年，VLSIの微細化，高速化にともない，遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている．しか... [more] | DC2019-90 pp.25-30 |
| DC | 2020-02-26 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法 ○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） DC2019-92 |
近年，実速度スキャンテストにおいて，過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている．キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] | DC2019-92 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 15:20 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法 ○石山悠太・細川利典・池ヶ谷祐輝（日大） VLD2019-43 DC2019-67 |
テスト容易化設計手法において，高い故障検出効率を維持したまま，面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] | VLD2019-43 DC2019-67 pp.133-138 |
| DC, SS (共催) |
2019-10-24 16:00 |
熊本 | 熊本大学 | n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法 ○池ヶ谷祐輝・石山悠太・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） SS2019-19 DC2019-47 |
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして，通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] | SS2019-19 DC2019-47 pp.37-42 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (共催) (連催) [詳細] |
2019-03-18 09:00 |
鹿児島 | 西之表市民会館（種子島） | 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法 ○山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） CPSY2018-117 DC2018-99 |
従来，VLSIのテストでは，縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた．しかしながら，半導体微細化技術の進展に伴... [more] | CPSY2018-117 DC2018-99 pp.315-320 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]