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 75件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:00
ONLINE オンライン開催 ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・山内ゆかり新井雅之日大CPSY2020-61 DC2020-91
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため,スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] CPSY2020-61 DC2020-91
pp.67-72
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:20
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
土渕航平細川利典日大)・山崎浩二明大CPSY2020-62 DC2020-92
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い,超大規模集積回路において,故障解析は歩留まりの向上のために重要である.被疑故障を事前... [more] CPSY2020-62 DC2020-92
pp.73-78
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:40
ONLINE オンライン開催 コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
飯塚恭平細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-63 DC2020-93
近年,VLSIの微細化,高速化,電源電圧の低下に伴い,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっ... [more] CPSY2020-63 DC2020-93
pp.79-84
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
12:00
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおけるアンチSATに基づく論理暗号化法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-64 DC2020-94
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] CPSY2020-64 DC2020-94
pp.85-90
DC 2021-02-05
14:00
ONLINE オンライン開催 RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2020-74
近年,大規模集積回路のテストコスト増大伴い,テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている.従来手法ではコ... [more] DC2020-74
pp.30-35
DC 2021-02-05
14:50
ONLINE オンライン開催 テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法
中村健太石山悠太細川利典日大DC2020-76
 [more] DC2020-76
pp.42-47
DC 2021-02-05
15:30
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2020-77
VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテス... [more] DC2020-77
pp.48-53
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
15:45
ONLINE オンライン開催 テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2020-12 DC2020-12
近年,集積回路の高集積化・複雑化に伴い,セル内の欠陥が増加し,セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] CPSY2020-12 DC2020-12
pp.75-80
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
16:15
ONLINE オンライン開催 データ量に基づく可検査性尺度を用いたテスト容易化機能的時間展開モデル生成法
中村健太細川利典石山悠太日大)・藤原秀雄阪学院大CPSY2020-13 DC2020-13
 [more] CPSY2020-13 DC2020-13
pp.81-86
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
17:30
ONLINE オンライン開催 機能等価な有限状態機械生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-15 DC2020-15
近年,コントローラ拡大はレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計やセキュリティ設計に用い られている.コントローラ... [more] CPSY2020-15 DC2020-15
pp.93-98
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史石山悠太松田竜馬細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] VLD2019-131 HWS2019-104
pp.215-220
DC 2020-02-26
12:00
東京 機械振興会館 n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
竹内勇希細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2019-90
近年,VLSIの微細化,高速化にともない,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている.しか... [more] DC2019-90
pp.25-30
DC 2020-02-26
14:10
東京 機械振興会館 パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2019-92
近年,実速度スキャンテストにおいて,過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている.キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] DC2019-92
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2019-11-14
15:20
愛媛 愛媛県男女共同参画センター コントローラ拡大とパーシャルスキャン設計を用いた遷移故障モデルのためのテスト容易化機能的k時間展開モデル生成法
石山悠太細川利典池ヶ谷祐輝日大VLD2019-43 DC2019-67
テスト容易化設計手法において,高い故障検出効率を維持したまま,面積オーバヘッドやテスト実行時間の削減をすることが重要であ... [more] VLD2019-43 DC2019-67
pp.133-138
DC, SS
(共催)
2019-10-24
16:00
熊本 熊本大学 n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大SS2019-19 DC2019-47
VLSIの経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,通常動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するオンラインテスト... [more] SS2019-19 DC2019-47
pp.37-42
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島 西之表市民会館(種子島) 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大CPSY2018-117 DC2018-99
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] CPSY2018-117 DC2018-99
pp.315-320
DC 2019-02-27
09:50
東京 機械振興会館 キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2018-73
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために,低消費電力を志向したドントケ判... [more] DC2018-73
pp.13-18
DC 2019-02-27
13:40
東京 機械振興会館 コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
吉村正義京都産大)・竹内勇希山崎紘史細川利典日大DC2018-78
近年,VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し,遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である.しかし,回路... [more] DC2018-78
pp.43-48
DC 2019-02-27
14:30
東京 機械振興会館 コントローラのテスト活性化用状態圧縮法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典山崎紘史日大DC2018-80
VLSIのテストにおける課題の一つとして,テスト容易化設計回路の面積削減と故障検出効率の向上が挙げられる.その課題を解決... [more] DC2018-80
pp.55-60
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
10:55
広島 サテライトキャンパスひろしま ニューラルネットワークを用いたランダムキャプチャセーフテストベクトル生成について
越智小百合三澤健一郎細川利典山内ゆかり新井雅之日大VLD2018-51 DC2018-37
実速度スキャンテストにおいて,過度のキャプチャ消費電力はIRドロップを引き起こし,誤テストにより歩留り損失が発生する.キ... [more] VLD2018-51 DC2018-37
pp.89-94
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