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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| MW, ED (共催) |
2019-01-18 11:05 |
東京 | 日立中研 | 高温信頼度試験におけるGaN-HEMTのパルスI-V特性劣化メカニズムの解析 ○舘野泰範（住友電工）・四田泰代（住友電工デバイス・イノベーション）・山本 洋・中林隆志（住友電工）  ED2018-82 MW2018-149 |
高温保存試験におけるGaN-HEMTのパルスI-V特性変化の物理的メカニズムについて解析を行った. GaN-HEMTに高... [more] | ED2018-82 MW2018-149 pp.71-74 |
| OPE, LQE (共催) |
2014-06-20 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | リニアドライバIC内蔵の224Gb/s DP-16QAM小型変調器モジュール開発 ○巽 泰三・板橋直樹・五十川知子・河野直哉・関 守弘・田中啓二・山路和宏・藤村 康・上坂勝己・中林隆志・小路 元・荻田省一（住友電工） OPE2014-18 LQE2014-23 |
1波長あたり100 Gb/s以上の大容量伝送を実現する方式として, 多値変調方式を活用したデジタルコヒーレント伝送技術が... [more] | OPE2014-18 LQE2014-23 pp.27-30 |
| OPE, CPM, R (共催) |
2009-04-17 13:40 |
東京 | 機械振興会館 | AlGaInAsレーザのESD耐性 ○市川弘之・福田智恵・松川真治・浜田耕太郎・生駒暢之・中林隆志（住友電工） R2009-2 CPM2009-2 OPE2009-2 |
高速変調、高温駆動に優れたAlGaInAsレーザではESD耐圧の報告がこれまでなかった。そこで今回我々は、AlGaInA... [more] | R2009-2 CPM2009-2 OPE2009-2 pp.7-10 |
| CPM, OPE, R (共催) |
2007-04-20 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術 ○市川弘之・伊東雅史・福田智恵・浜田耕太郎・山口 章・中林隆志（住友電工） R2007-6 CPM2007-6 OPE2007-6 |
我々は、光通信システムの光源に用いられるGaInAsP/InPレーザについて、信頼性向上のための劣化解析に取り組んできた... [more] | R2007-6 CPM2007-6 OPE2007-6 pp.29-33 |
| OPE, R, CPM (共催) |
2005-04-22 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | InGaAsP/InPレーザの劣化解析 ○浜田耕太郎・市川弘之・松川真治・中林隆志・山口 章・加藤隆志（住友電工） |
[more] | R2005-3 CPM2005-3 OPE2005-3 pp.11-15 |
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