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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM | 2008-12-05 14:10 |
京都 | 京都大学桂キャンパスA1-001 | NO直接酸化法により作製したC面上4H-SiC MOSデバイスの特性 ○大城ゆき・岡本 大・矢野裕司・畑山智亮・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大）  SDM2008-190 |
[more] | SDM2008-190 pp.31-35 |
| SDM | 2008-06-10 14:35 |
東京 | 東京大学(生産研 An棟) | High-k膜を利用したバイオ系ドット型フローティングゲートメモリ ○小原孝介・浦岡行治・冬木 隆・山下一郎（奈良先端大）・八重樫利武・茂庭昌弘・吉丸正樹（半導体理工学研究センター） SDM2008-57 |
我々は生体由来の球殻タンパク質(フェリチン)を利用したドット型フローティングゲートメモリの開発を目指した研究を行っている... [more] | SDM2008-57 pp.89-92 |
| SDM, OME (共催) |
2008-04-11 14:05 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | Ga2o3-In2O3-Zno(GIZO)薄膜を用いた薄膜トランジスタの劣化 ○藤井茉美・矢野裕司・畑山智亮・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大）・Ji Sim Jung・Jang Yeon Kwon（サムスン総合技術院） SDM2008-10 OME2008-10 |
我々は、DCストレス下におけるGa2O3-In2O3-ZnO（GIZO）薄膜トランジスタの劣化について調査した。正のゲー... [more] | SDM2008-10 OME2008-10 pp.47-50 |
| SDM | 2007-12-14 10:00 |
奈良 | 奈良先端科学技術大学院大学 | パルス急速熱処理によるNi内包フェリチンを用いた結晶成長速度の向上 ○越知誠弘・菅原祐太・三浦篤志・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大）・山下一郎（奈良先端大/松下電器） SDM2007-222 |
我々はこれまでにNi内包フェリチンを用いて高品質のシリコン薄膜の結晶化に成功している。本研究では結晶化時間の短縮を目的と... [more] | SDM2007-222 pp.1-4 |
| SDM | 2007-12-14 11:40 |
奈良 | 奈良先端科学技術大学院大学 | 極薄トンネル酸化膜を用いたバイオナノドットフローティングゲートMOSデバイスの充放電特性 ○梅田朋季・矢野裕司・三浦篤志・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大）・山下一郎（奈良先端大/松下電器） |
[more] | |
| SDM | 2007-12-14 15:10 |
奈良 | 奈良先端科学技術大学院大学 | シリコン太陽電池用SiNxパッシベーション膜におけるNH3プラズマ界面改質効果 ○岸山友紀・高橋 優・大鐘章義・Athapol Kitiyanan・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大） SDM2007-232 |
Si太陽電池の高効率化に際し、高品質な表面パッシベーション技術の開発とその評価は必要不可欠なものとなっている。本研究では... [more] | SDM2007-232 pp.43-46 |
| SDM | 2007-12-14 16:40 |
奈良 | 奈良先端科学技術大学院大学 | 4H-SiC nMOSFETおよびpMOSFETに対するチャージポンピング測定 ○岡本 大・矢野裕司・畑山智亮・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大） SDM2007-234 |
4H-SiC nMOSFETとpMOSFETに対してチャージポンピング（CP）測定を行った．nチャネルMOSFETに対し... [more] | SDM2007-234 pp.51-54 |
| SDM | 2007-06-07 16:45 |
広島 | 広島大学（学士会館） | 高圧水蒸気処理によるSiO2/4H-SiC界面改質とMOSFET特性 ○矢野裕司・武田大輔・畑山智亮・浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大） SDM2007-38 |
パワーMOSFET用材料として注目されている4H-SiCであるが，MOSFETの反転層チャネル移動度が小さいという問題が... [more] | SDM2007-38 pp.37-42 |
| SDM | 2006-06-21 17:15 |
広島 | 広島大学, 学士会館 | フェリチンタンパク質コアの非晶質Si薄膜中熱処理による還元 松村貴志・三浦篤志・○浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大）・吉井重雄・山下一郎（松下電器） |
[more] | SDM2006-51 pp.55-59 |
| R, ED, SDM (共催) |
2005-11-25 10:10 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | ［招待講演］低温多結晶シリコン薄膜トランジスタの信頼性評価技術 ○浦岡行治・冬木 隆（奈良先端大） |
[more] | R2005-38 ED2005-173 SDM2005-192 pp.1-6 |
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