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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2013-12-13 13:00 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ ○伊藤渓太・米田友和・大和勇太・畠山一実・井上美智子（奈良先端大）  DC2013-68 |
本論文では，FPGA上のアプリケーション回路をテスト対象とした効率の良いスキャンBISTアーキテクチャを提案する． 提... [more] |
DC2013-68 pp.1-6 |
| DC | 2013-02-13 16:40 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法 ○吉見優太（奈良先端大）・畠山一実・大和勇太・米田友和・井上美智子（奈良先端大/JST） DC2012-90 |
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため，その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] | DC2012-90 pp.61-66 |
| DC | 2012-06-22 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing ○Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda・Kazumi Hatayama・Michiko Inoue（NAIST） DC2012-15 |
[more] | DC2012-15 pp.39-44 |
| DC | 2012-02-13 15:55 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング ○森永洋介（奈良先端大）・米田友和（奈良先端大/JST）・李 賢彬（Hanbat National Univ.）・井上美智子（奈良先端大/JST） DC2011-85 |
[more] | DC2011-85 pp.55-60 |
| DC | 2011-02-14 11:50 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法 ○小副川絵美子・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-63 |
LSIのフィールド使用時における劣化検知は，LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である．劣化は遅延値の増加とし... [more] | DC2010-63 pp.27-32 |
| DC | 2011-02-14 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 高精度遅延テストのためのテストパターン生成法 ○堀 慧悟（奈良先端大）・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-64 |
本研究では，システムクロックより速い複数のテストクロックを用いて，微小遅延を検出するテスト手法を提案する．半導体の製造プ... [more] | DC2010-64 pp.33-38 |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | ［招待講演］Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism ○Yasuo Sato・Seiji Kajihara（Kyusyu Institute of Technology）・Michiko Inoue・Tomokazu Yoneda・Satoshi Ohtake・Hideo Fujiwara（NAIST）・Yukiya Miura（Tokyo Metropolitan Univ.） |
The main task of test had traditionally been screening of ha... [more] | |
| DC | 2010-06-25 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法 ○岩田大志・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2010-8 |
VLSIの大規模，高速化に伴い，大域クロックの分配が困難になるなどの問題が顕在化しており， それらの問題を解決する手段... [more] |
DC2010-8 pp.1-6 |
| DC | 2010-02-15 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 ○中尾 良・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-66 |
VLSIのテスト実行時は，消費電力が空間や時間でばらつき，それに伴い回路温度が変動する．一方，回路の動作遅延は温度に依存... [more] | DC2009-66 pp.7-12 |
| DC | 2010-02-15 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 ○竹谷 啓・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-74 |
本稿では，LFSR，フェーズシフタ及びMISRで構成されるスキャンBISTを対象とし，テストデータ量制約下における高品質... [more] | DC2009-74 pp.57-62 |
| DC | 2009-02-16 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法 ○植本雄一・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2008-77 |
VLSI回路中の微小遅延を検出するテスト手法としてパス遅延故障テストがあるが，回路中の全パス数が膨大であるなど実用上の問... [more] | DC2008-77 pp.55-60 |
| DC | 2008-02-08 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | 平衡構造を利用した安全なスキャン設計 ○長谷川宗士・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-73 |
暗号回路といった秘密情報を内部に持つ回路に対するスキャン設計を利用したサイドチャネル攻撃に耐性のある安全なスキャン設計法... [more] | DC2007-73 pp.39-44 |
| DC | 2008-02-08 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定 ○池田直嗣・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-77 |
本稿では，高位合成情報を用いたRTLフォールスパスの判定方法を提案する．フォールスパス情報を利用することは，テスト生成時... [more] | DC2007-77 pp.63-68 |
| ICD, IPSJ-ARC (共催) |
2006-06-08 15:30 |
神奈川 | NEC玉川ルネッサンスシティ | プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計 ○中里昌人・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
本稿では，テンプレートを利用したテストプログラム生成法から合成された任意のテストプログラム実行時に起こる誤りマスクを回避... [more] | ICD2006-48 pp.49-54 |
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