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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2011-05-13 14:35 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | XRDを用いたカーボンナノチューブ構造体の結晶構造解析法 ○古田 寛（高知工科大）  R2011-10 |
カーボンナノチューブ構造体は、その高い電流密度耐性、熱伝導性などにより、LSIビア配線をはじめとする電気材料として注目さ... [more] | R2011-10 pp.13-17 |
| DC | 2011-02-14 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 ○古谷博司・酒井孝郎・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） DC2010-66 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている．そのため，従来の縮退故障およ... [more] | DC2010-66 pp.45-50 |
| EID, ITE-IDY, IEE-EDD, IEIJ-SSL (連催) |
2011-01-29 09:55 |
高知 | 高知工科大学 研究教育棟B | 低温形成表示デバイス向け絶縁膜の新規対向電極CVD法による形成 ○松田時宜・古田 守・平松孝浩・古田 寛・平尾 孝（高知工科大） EID2010-35 |
薄膜トランジスタのような半導体デバイスを、フレキシブル電子ペーパーなどへの応用が期待される低耐熱性基板へ応用するため、絶... [more] | EID2010-35 pp.87-90 |
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