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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 10:30 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ［ポスター講演］テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法 ○平本和子・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  VLD2008-80 DC2008-48 |
本研究では，テストポイント挿入によるテストデータ量の削減法を考案する．故障の中には，同じ信号線に異なる値の割当を必要とす... [more] | VLD2008-80 DC2008-48 pp.121-126 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 10:55 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ［ポスター講演］伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計 ○怒和友美・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2008-81 DC2008-49 |
遅延故障のテスト手法として，スキャンベースの遅延テストであるハイブリッド遅延テストが文献\cite{hybrid}で提案... [more] | VLD2008-81 DC2008-49 pp.127-132 |
| DC, CPSY (共催) |
2008-04-23 11:30 |
東京 | 東大・武田ホール | FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察 ○野地亮志・藤恵里司・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） CPSY2008-4 DC2008-4 |
FPGA（Field Programmable Gate Array）は今日広く利用されているVLSIであり， 回路構... [more] |
CPSY2008-4 DC2008-4 pp.19-24 |
| DC | 2008-02-08 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 演算規則を用いたフォールトセキュアデータパスの合成について ○塩道寛貴・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2007-75 |
平行誤り検出によるフォールトセキュアデータパスの合成法について考察する． 文献 [2] で示された低エイリアス確率の条... [more] |
DC2007-75 pp.51-56 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:55 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法 ○森永広介・岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2007-72 DC2007-27 |
無閉路順序回路のクラスは$\tau^2$-boundedであり，実用的にテスト容易と考えられている\cite{tau1}... [more] | VLD2007-72 DC2007-27 pp.13-18 |
| CPSY, DC (共催) |
2007-04-20 14:15 |
東京 | 産総研臨海副都心センター | チェイニングによる耐ソフトエラーを指向した高位合成のスケジューリングアルゴリズム ○今村慎太郎・市原英行・井上智生（広島市大） CPSY2007-2 DC2007-2 |
ハードウエアの物理的な欠陥ではなく，一時期な機能不全をソフトエラーという． ソフトエラーは，これまで，記憶素子への放射... [more] |
CPSY2007-2 DC2007-2 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-28 10:55 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 平衡構造に基づく階層テストにおけるテストプラン生成法 ○川原侑大・市原英行・井上智生（広島市大） |
[more] | VLD2006-55 DC2006-42 pp.23-28 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-28 11:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | マルチメディアコアの展開機能を利用したテストデータ圧縮・展開 ○瀬戸原志典・中島佑介・市原英行・井上智生（広島市大） |
[more] | VLD2006-56 DC2006-43 pp.29-34 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) RECONF, CPSY, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2006-11-28 16:35 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 動的再構成可能なプロセッサの自己テストに関する考察 ○藤井昂志・市原英行・井上智生（広島市大） |
マルチコンテキスト型の動的再構成可能なプロセッサでは，1つのタスクの実行中に複数のコンテキストを切り替えることで高い面積... [more] | VLD2006-62 DC2006-49 pp.65-70 |
| RECONF | 2005-05-12 09:30 |
京都 | 京都大学 | LSIテストにおける再構成可能な埋込み展開器について ○佐伯友之・市原英行・井上智生（広島市大） |
製造したLSIの故障を検出するテスト工程において，LSIの大規模化に伴いテストデータサイズの増大という問題が発生している... [more] | RECONF2005-1 pp.1-6 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について ○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生（広島市大） |
ハフマン符号などの可変長符号を用いたテストデータ圧縮・展開手法は，テスト実行時間の増加およびテスタメモリ不足の問題に対し... [more] | CPM2004-168 ICD2004-213 pp.35-40 |
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