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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MW 2011-12-16
14:30
山口 山口大学 伝送線路の損失に対する異常表皮効果の影響
土谷 亮小野寺秀俊京大MW2011-139
微細化に伴って動作周波数が100GHzを超える集積回路が実現できるようになってきている.
集積回路内では配線構造の制約... [more]
MW2011-139
pp.77-81
ICD 2011-12-16
09:55
大阪 大阪大学会館 MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ
山本亮輔濱中 力京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTICD2011-129
ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し,フリップフロップの3重化等,多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案され... [more] ICD2011-129
pp.131-136
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-29
15:05
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法
松本高士牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大CPM2011-160 ICD2011-92
近年のLSI の微細化により、信頼性の高いシステムを構築することはますます困難となってきている。主要な要因の1つとして、... [more] CPM2011-160 ICD2011-92
pp.59-63
VLD 2011-03-02
17:00
沖縄 沖縄県男女共同参画センター [フェロー記念講演]More Mooreに立ちはだかるCMOSばらつきの理解に向けて
小野寺秀俊京大/JSTVLD2010-124
デバイス寸法がナノメートルの領域に入ってきた現在、デバイス特性の
ばらつきはLSI設計における深刻な問題となってきた。... [more]
VLD2010-124
p.49
ICD 2010-12-16
15:10
東京 東京大学 先端科学技術研究センター [ポスター講演]測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討
松本高士牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTICD2010-104
本論文において我々は400nsの測定遅延を持つNBTI回復センサー回路を提案した。本回路は多数のユニットセルを含む。1つ... [more] ICD2010-104
pp.55-58
ICD 2010-12-17
10:55
東京 東京大学 先端科学技術研究センター Development of Procedure for Modeling MOSFET Compatible with ITRS -- Noise and I-V Characteristics Modeling for RF/Analog MOSFET --
Sin-Nyoung KimAkira TsuchiyaHidetoshi OnoderaKyoto Univ.ICD2010-119
A procedure for modeling MOSFET compatible with ITRS is prop... [more] ICD2010-119
pp.119-123
ICD, SDM
(共催)
2010-08-27
14:10
北海道 札幌エルプラザ内男女共同参画センター C-elementのソフトエラー耐性を強化した65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy (BCDMR) FF.
古田 潤京大)・濱中 力・○小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大SDM2010-146 ICD2010-61
 [more] SDM2010-146 ICD2010-61
pp.121-124
VLD 2010-03-10
15:25
沖縄 沖縄県男女共同参画センター 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討
濱中 力京都工繊大)・古田 潤牧野紘明京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大/JSTVLD2009-103
集積化が進むにつれ素子固有のエラー耐性は低下し,1bit が反転するSEU(Single Event Upset),複数... [more] VLD2009-103
pp.25-30
ICD 2009-12-15
16:35
静岡 静岡大学(浜松) 相互結合インダクタを用いたTIA帯域向上手法
奥村佳弘京大)・中村 誠NTT)・岸根桂路滋賀県立大)・土谷 亮小野寺秀俊京大ICD2009-104
光通信システムの受信モジュールのプリアンプである
TransImpedance Amplifier(TIA)について,... [more]
ICD2009-104
pp.157-161
ICD, ITE-IST
(共催)
2008-10-23
10:20
北海道 北海道大学 情報教育館3F [招待講演]ばらつき考慮設計に向けて
小野寺秀俊京大/JSTICD2008-73
 [more] ICD2008-73
pp.83-88
ICD, ITE-IST
(共催)
2008-10-23
16:05
北海道 北海道大学 情報教育館3F [パネル討論]サブ100nm CMOSデバイスによるアナログ回路設計の課題と展望
川人祥二静岡大)・須川成利東北大)・大黒達也東芝)・小野寺秀俊京大)・後藤邦彦富士通研)・濱崎利彦日本テキサス・インスツルメンツ)・道正志郎松下電器
 [more]
VLD, ICD
(共催)
2008-03-07
13:50
沖縄 沖縄県男女共同参画センター 遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度・歩留まり向上手法
久米洋平杉原有理Ngo Cam Lai小林和淑小野寺秀俊京大VLD2007-163 ICD2007-186
本稿では遅延比較器を用いた低コストなFPGAの速度および歩留まりの向上手法につい
て述べる。ランダムばらつきが支配的な... [more]
VLD2007-163 ICD2007-186
pp.41-46
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
CPSY, RECONF, IPSJ-ARC
(併催) [詳細]
2007-11-20
16:00
福岡 北九州国際会議場 ランダムばらつきを利用したトラック入れ替えによるFPGAの速度と歩留まり向上
杉原有理久米洋平小林和淑小野寺秀俊京大RECONF2007-34
本稿ではFPGAにおいて製造ばらつきを利用した配線トラックの入れ替えによる速度および歩留まり向上について述べる。ランダム... [more] RECONF2007-34
pp.13-18
VLD, IPSJ-SLDM
(共催)
2007-05-11
14:35
京都 京大会館 ダミーフィルが配線の高周波特性に与える影響
土谷 亮小野寺秀俊京大VLD2007-16
本稿はダミーフィルが配線特性に与える影響について議論する.
近年の微細プロセスでは,配線の疎密による配線厚さのばらつき... [more]
VLD2007-16
pp.55-59
RECONF 2006-05-19
11:30
宮城 東北大学 FPGAのチップ内ばらつきを利用した再配置による高速化の検討
尾形幸亮小谷 学香月和也小林和淑小野寺秀俊京大
 [more] RECONF2006-14
pp.19-24
ICD, VLD
(共催)
2006-03-10
14:25
沖縄 メルパルク沖縄 ばらつきを利用し補償するための再構成可能回路
小谷 学香月和也尾形幸亮小林和淑小野寺秀俊京大
微細プロセスにおけるチップ内ばらつきによる速度差を利用して、回路の動作速度を高める再構成回路の原理、試作したLSI、その... [more] VLD2005-130 ICD2005-247
pp.49-54
VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
2005-12-01
16:15
福岡 北九州国際会議場 オンチップグローバル配線における確定的/確率的ノイズとエラー率のモデル化
湯山洋一小林和淑小野寺秀俊京大
 [more] VLD2005-73 ICD2005-168 DC2005-50
pp.73-78
VLD, ICD
(共催)
2005-03-10
- 2005-03-11
沖縄 メルパルク沖縄 オンチップ高速信号伝送用配線の解析的性能評価
土谷 亮京大)・橋本昌宜阪大/JST)・小野寺秀俊京大
 [more] VLD2004-145 ICD2004-241
pp.49-54
VLD, ICD
(共催)
2005-03-10
- 2005-03-11
沖縄 メルパルク沖縄 エネルギ最小周波数を利用したタスク再配置によるマルチプロセッサ向け消費エネルギ削減手法
高務祐哲小林和淑小野寺秀俊京大
 [more] VLD2004-143 ICD2004-239
pp.37-42
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