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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2016-02-17
14:25
東京 機械振興会館 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法
里中沙矢香米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] DC2015-92
pp.37-42
DC 2014-02-10
12:25
東京 機械振興会館 メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
里中沙矢香岩田大志山口賢一奈良高専
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しか... [more] DC2013-86
pp.43-48
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