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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| HWS, VLD (共催) [詳細] |
2021-03-03 10:25 |
ONLINE | オンライン開催 | Evaluation on Approximate Multiplier for CNN Calculation ○Yuechuan Zhang・Masahiro Fujita・Takashi Matsumoto（UTokyo）  VLD2020-68 HWS2020-43 |
畳み込みニューラルネットワーク（CNN）の精度を向上させるには、通常、より大きなハードウェアとより多くのエネルギー消費が... [more] | VLD2020-68 HWS2020-43 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 09:15 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル ○保坂 巧（埼玉大）・西澤真一（福岡大）・岸田 亮（東京理科大）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-35 DC2019-59 |
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性（NBTI）モデルを提案する．提案モデルは反応拡散（tn）およびホールトラッ... [more] | VLD2019-35 DC2019-59 pp.57-62 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-28 15:30 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法 ○籔内美智太郎・大島 梓・駒脇拓弥・小林和淑・岸田 亮・古田 潤（京都工繊大）・Pieter Weckx（ルーベン・カトリック大/IMEC）・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小野寺秀俊（京大） VLD2016-52 DC2016-46 |
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] | VLD2016-52 DC2016-46 pp.49-54 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-17 09:40 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 ○大島 梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） ICD2015-63 CPSY2015-76 |
[more] | ICD2015-63 CPSY2015-76 pp.1-6 |
| ICD, CPSY (共催) |
2015-12-17 16:00 |
京都 | 京都工芸繊維大学 | ［ポスター講演］40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化 ○大島 梓（京都工繊大）・Pieter Weckx・Ben Kaczer（IMEC）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） |
[more] | |
| VLD | 2014-03-03 13:00 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析 ○西村彰平・松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2013-134 |
近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシ... [more] | VLD2013-134 pp.1-6 |
| VLD | 2014-03-03 13:25 |
沖縄 | 沖縄県青年会館 | CMOSトランジスタのランダム・テレグラフ・ノイズが組合せ回路遅延に及ぼす影響 ○松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2013-135 |
[more] | VLD2013-135 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ランダム・テレグラフ・ノイズに起因した組合せ回路遅延ゆらぎに対する基板バイアスの影響 ○松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） VLD2012-70 DC2012-36 |
近年のLSI素子の微細化により、NBTIおよび、RTNなどのゲート絶縁膜の信頼性が回路の信頼性に与える影響がますます深刻... [more] | VLD2012-70 DC2012-36 pp.63-68 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-29 15:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大） CPM2011-160 ICD2011-92 |
近年のLSI の微細化により、信頼性の高いシステムを構築することはますます困難となってきている。主要な要因の１つとして、... [more] | CPM2011-160 ICD2011-92 pp.59-63 |
| ICD | 2010-12-16 15:10 |
東京 | 東京大学 先端科学技術研究センター | ［ポスター講演］測定時の劣化の影響を除去した高速NBTI回復特性センサーの検討 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大/JST）・小野寺秀俊（京大/JST） ICD2010-104 |
本論文において我々は400nsの測定遅延を持つNBTI回復センサー回路を提案した。本回路は多数のユニットセルを含む。1つ... [more] | ICD2010-104 pp.55-58 |
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