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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2009-06-19 10:45 |
東京 | 機械振興会館 | SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察 ○新井雅之・遠藤辰朗・岩崎一彦（首都大東京）・中尾教伸・鈴木 巌（ルネサステクノロジ）  DC2009-11 |
本研究では，メモリBIST回路の面積削減手法，および歩留りと面積を考慮したSRAMへの冗長割り当てアルゴリズムの有効性に... [more] | DC2009-11 pp.7-12 |
| DC | 2009-02-16 14:40 |
東京 | 機械振興会館 | ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル ○新井雅之・周藤明史・岩崎一彦（首都大東京）・中野勝幸・新谷道広・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2008-75 |
[more] | DC2008-75 pp.43-48 |
| DC | 2008-12-12 13:50 |
山口 | サンライフ萩 | 耐故障プロセッサ評価モデルの解析について ○福本 聡・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2008-61 |
本稿では，著者らの提案した，耐故障プロセッサの性能を解析的に評価するための確率モデルに関する追加的な議論をおこなう．はじ... [more] | DC2008-61 pp.11-13 |
| DC | 2008-10-20 14:20 |
東京 | 学術総合センター | 耐故障プロセッサの信頼性・性能評価手法に関する一考察 ○福本 聡・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2008-24 |
近年，半導体に発生する過渡故障などの影響を排除するため，さまざまな構成や方式の耐故障プロセッサが研究・提案されている．本... [more] | DC2008-24 pp.13-16 |
| DC | 2008-06-20 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 同時多重に発生する過渡故障を前提とした高信頼プロセッサ設計 木村真琴・新井雅之・○福本 聡・岩崎一彦（首都大東京） DC2008-13 |
近年の半導体関連技術は微細化，低消費電力化，高性能化を主軸に目覚ましい進歩を遂げてきた．しかし，これらの技術進歩は過渡故... [more] | DC2008-13 pp.13-18 |
| DC | 2008-06-20 16:40 |
東京 | 機械振興会館 | メモリBISTにおけるハードウェアオーバヘッドおよび故障位置特定に関する一考察 ○新井雅之・大沢健太郎・岩崎一彦（首都大東京）・中尾教伸（ルネサステクノロジ） DC2008-18 |
[more] | DC2008-18 pp.41-46 |
| DC | 2008-02-08 11:15 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンベースハイブリッドBISTにおける消費電力削減に関する一考察 ○周藤明史・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2007-72 |
[more] | DC2007-72 pp.33-38 |
| DC | 2008-02-08 16:30 |
東京 | 機械振興会館 | ばらつきを考慮した無線送信回路のテストに関する一考察 ○遠藤辰朗・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DC2007-81 |
RF 用 IC の高集積化，回路の複雑化と共に，そのテストも課題となってきている． RF 送信回路は，データレート毎に定... [more] | DC2007-81 pp.89-94 |
| DE, DC (共催) |
2007-10-15 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | 多世代データを保持する複製プロトコルのノード時間配置 福本 聡・○池田貴彦・新井雅之・岩崎一彦（首都大東京） DE2007-122 DC2007-19 |
本稿では，多世代データを保持する複製プロトコルのノード配置について議論する．各データ世代のノード数を表す密度関数を定義し... [more] | DE2007-122 DC2007-19 pp.43-46 |
| DE, DC (共催) |
2007-10-16 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | Evaluation Model of Pseudo Random Pattern Quality for Logic BIST ○Satoshi Fukumoto・Harunobu Kurokawa・Masayuki Arai・Kazuhiko Iwasaki（Tokyo Metropolitan Univ.） DE2007-124 DC2007-21 |
本稿では，ランダムパターンテストにおける故障検出率分布の確率統計的な解析について議論する．ランダムパターンテストにおいて... [more] | DE2007-124 DC2007-21 pp.51-56 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 13:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討 ○新井雅之・福本 聡・岩崎一彦（首都大東京）・松尾 達・平出貴久（富士通研）・小西秀明・江守道明・相京 隆（富士通） |
[more] | CPM2006-149 ICD2006-191 pp.115-120 |
| CPSY, DC (共催) |
2006-04-14 10:00 |
東京 | 東大武田ホール | 多世代データ保持のためのデータ複製プロトコル ○池田貴彦・新井雅之・福本 聡・岩崎一彦（首都大東京） |
データ複製配置手法では，データの書き込みと読み込みにおけるオーバヘッドバランスの調整を目的とした種々のプロトコルが提案さ... [more] | CPSY2006-3 DC2006-3 pp.13-18 |
| VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM (共催) |
2005-12-02 10:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 畳込み圧縮器のガロア体上への拡張に関する一考察 ○新井雅之・福本 聡・岩崎一彦（首都大東京） |
畳込み圧縮器は，不定値を含むテスト応答圧縮に対して有効な技術である．本稿では，圧縮率およびXマスク確率の改善を目的として... [more] | VLD2005-78 ICD2005-173 DC2005-55 pp.13-18 |
| DE, DC (共催) |
2005-10-17 13:15 |
東京 | ＮＴＴ武蔵野研究開発センタ | 有限なロールバック間隔に対するハイブリッド状態保存手法の最適チェックポイント間隔 ○大原 衛（都立大）・新井雅之・福本 聡・岩崎一彦（首都大東京） |
本稿では，限られた計算資源を用いて動作する実際的なアプリケーションにおける，非連携チェックポインティングの総期待オーバヘ... [more] | DE2005-127 DC2005-21 pp.13-18 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 15:00 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 ○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本 聡・岩崎一彦（都立大） |
本稿では，複数のスキャンチェーンが存在するスキャンBISTに対する，LFSRの初期値とフェーズシフタの選択法について議論... [more] | CPM2004-171 ICD2004-216 pp.53-58 |
| DE, DC (共催) |
2004-10-18 11:30 |
東京 | 東京工業大学(大岡山) | データ複製用確率的台形プロトコルの解析と実装 ○鈴木旅人・大原 衛・新井雅之・福本 聡・岩崎一彦（都立大） |
[more] | DE2004-107 DC2004-22 pp.5-10 |
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