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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2010-10-21
16:10
宮城 東北大学 Hf混晶化によるPtSiの高精度仕事関数制御に関する検討
高 峻石川純平大見俊一郎東工大SDM2010-155
 [more] SDM2010-155
pp.17-20
SDM 2010-10-21
16:40
宮城 東北大学 Effect of ultra-thin Yb layer on n-type characteristics of pentacene based MOS diodes
Young-uk SongHiroshi IshiwaraShun-ichiro OhmiTokyo Inst. of Tech.SDM2010-156
 [more] SDM2010-156
pp.21-24
SDM 2010-10-22
13:10
宮城 東北大学 Effect of gate insulator on the electrical properties of pentacene based organic field-effect transistors
Min LiaoHiroshi IshiwaraShun-ichiro OhmiTokyo Inst. of Tech.SDM2010-164
 [more] SDM2010-164
pp.49-52
SDM 2010-10-22
14:10
宮城 東北大学 ECRスパッタ法によるHfN/HfSiON積層構造のin-situ形成
佐野貴洋大見俊一郎東工大SDM2010-166
 [more] SDM2010-166
pp.57-60
ED, SDM
(共催)
2010-06-30
15:55
東京 東工大 大岡山キャンパス Investigation of n-type pentacene based MOS diodes with ultra-thin metal interface layer
Young uk SongShun-ichiro OhmiTokyo Inst. of Tech.ED2010-60 SDM2010-61
 [more] ED2010-60 SDM2010-61
pp.43-46
ED, SDM
(共催)
2010-07-02
11:45
東京 東工大 大岡山キャンパス Modulation of PtSi work function by alloying with low work function metal
Jun GaoJumpei IshikawaShun-ichiro OhmiTokyo Inst. of Tech.ED2010-91 SDM2010-92
 [more] ED2010-91 SDM2010-92
pp.173-176
SDM 2009-10-29
14:30
宮城 東北大学 2段階シリサイド化によるHf混晶化PtSiの耐熱性向上に関する検討
高 峻石川純平大見俊一郎東工大SDM2009-118
400℃/60 minで形成したPtxHfySiの耐熱性を改善するため、2段階シリサイド化プロセスに関する検討を行った。... [more] SDM2009-118
pp.7-10
SDM 2009-10-29
15:00
宮城 東北大学 ECRスパッタ法によるHfN/HfON積層構造の形成
佐野貴洋大西峻人大見俊一郎東工大SDM2009-119
 [more] SDM2009-119
pp.11-14
SDM 2009-10-30
11:00
宮城 東北大学 Investigation of characteristics of pentacene-based MOSFETs structures
Young-Uk SongShun-ichiro OhmiHiroshi IshiwaraTokyo Inst. of Tech.SDM2009-127
 [more] SDM2009-127
pp.43-46
SDM 2008-10-10
13:30
宮城 東北大学 Hf混晶化PtSiの仕事関数変調機構の検討
高 峻石川純平大見俊一郎東工大SDM2008-162
PtSiのn-Siに対する障壁高さを低減することを目的として、Hfとの混晶化によるPtSiの仕事関数変調に関する検討を行... [more] SDM2008-162
pp.41-44
SDM 2008-03-14
14:20
東京 機械振興会館 Characteristics of metal-ferroelectric-insulartor-semiconductor structures based on poly(vinylidene fluoride-trifluoroethylene)
尹 珠元大見俊一郎石原 宏東工大SDM2007-275
 [more] SDM2007-275
pp.13-16
SDM 2007-10-04
16:30
宮城 東北大学 ECRプラズマプロセスによるHfO2系絶縁膜の極薄膜化の検討
仲野雄介佐藤雅樹大見俊一郎東工大SDM2007-178
HfN膜のECR-Ar/O$_{2}$プラズマ酸化により形成したHfO$_{x}$N$_{y}$薄膜の極薄膜化に関する検... [more] SDM2007-178
pp.19-22
SDM 2007-10-05
14:00
宮城 東北大学 SBSI プロセスによるSOI/BOX 層の均一形成に関する検討
野武幸輝須田雄一郎大見俊一郎東工大SDM2007-188
本研究では、SBSIプロセスによる均一なSOI/BOX層の作製を目的として、SiGe選択エッチング時におけるSi層へのダ... [more] SDM2007-188
pp.49-52
SDM 2007-10-05
14:25
宮城 東北大学 Hfとの混晶化によるPtSiの仕事関数制御
大見俊一郎高 峻仲野雄介東工大SDM2007-189
Hfとの混晶化によるPtSiの仕事関数制御に関する検討を行った。Pt/Hf/n-Si(100)積層構造を形成後に、窒素中... [more] SDM2007-189
pp.53-56
SDM 2006-06-22
12:45
広島 広島大学, 学士会館 HfNのECRプラズマ酸化によるHfON薄膜の形成
大見俊一郎黒瀬朋紀佐藤雅樹東工大
 [more] SDM2006-58
pp.93-97
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