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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EE, IEE-SPC
(併催)
2022-03-10
14:55
ONLINE オンライン開催 位相シフトフルブリッジコンバータのサージ低減に関する解析検討
吉川薫平鈴木健一新電元)・西嶋仁浩崇城大EE2021-55
車載DC-DCコンバータは広い入力電圧範囲への対応が求められるため、位相シフトフルブリッジコンバータが広く使われている。... [more] EE2021-55
pp.18-22
EE, IEE-SPC
(併催)
2021-03-01
16:10
ONLINE オンライン開催 電磁界・熱連成解析手法の確立と車載高電力密度DC-DCコンバータ設計への適用
吉川薫平箱田康徳宮近峻匡新電元)・村田雅昭新電元熊本テクノリサーチ)・鈴木健一新電元EE2020-43
GaNトランジスタを搭載した高電力密度車載DC – DCコンバータについて報告する。電源の小型化実現には回路設計と構造設... [more] EE2020-43
pp.19-24
EE 2016-11-29
15:10
東京 機械振興会館 トランスの電磁界解析精度に関する考察
吉川薫平押方哲也新電元EE2016-47
近年の複雑化する電源設計において、設計コストの低減や設計期間の短縮、最適設計による高効率電源実現のため、電磁界解析技術の... [more] EE2016-47
pp.99-103
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
10:30
福岡 九州大学百年講堂 デジタルLSIにおけるLSIチップ・パッケージ・ボードを統合した電源雑音協調評価
吉川薫平佐々木悠太神戸大)・市川浩司デンソー)・齊藤義行パナソニック)・永田 真神戸大VLD2012-91 DC2012-57
近年,LSIの高集積化や低動作電圧化が進むにつれ,電源雑音がシステムの性能に決定的な影響を与えるようになっている.
こ... [more]
VLD2012-91 DC2012-57
pp.183-188
EMCJ 2012-04-20
15:10
石川 金沢大学角間キャンパス デジタルLSIの電源ノイズに関するオンボードおよびオンチップ測定の統合評価
吉川薫平佐々木悠太神戸大)・市川浩司デンソー)・永田 真神戸大/JSTEMCJ2012-7
近年,LSIシステムの動作における雑音環境の悪化が進んでおり,システムにおける雑音対策やEMC対策が重要となっている.
... [more]
EMCJ2012-7
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
09:25
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 デジタルLSIにおけるオンチップ・オンボード電源雑音の評価・協調解析手法
吉川薫平佐々木悠太神戸大)・市川浩司デンソー)・齊藤義行パナソニック)・永田 真神戸大/JSTCPM2011-163 ICD2011-95
ICの電源雑音は、チップ・パッケージ・ボードを統合したPDN(Power Delivery Network)のインピーダ... [more] CPM2011-163 ICD2011-95
pp.73-78
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2011-11-30
10:30
宮崎 ニューウェルシティ宮崎 オンチップ診断機構とDPIを用いたSRAMコアのイミュニティ評価
澤田卓也利川 托吉川薫平神戸大)・高田英裕新居浩二ルネサス エレクトロニクス)・永田 真神戸大/JSTCPM2011-165 ICD2011-97
 [more] CPM2011-165 ICD2011-97
pp.85-90
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2010-11-29
10:40
福岡 九州大学医学部百年講堂 CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価
吉川薫平松本 大佐々木悠太神戸大)・永田 真神戸大/JSTCPM2010-124 ICD2010-83
近年のVLSIの大規模化・高集積化・低動作電圧化によりチップ内部の電流密度上昇や雑音マージンの低下がおこり,電源雑音が顕... [more] CPM2010-124 ICD2010-83
pp.1-6
ICD 2008-12-11
13:30
東京 東工大(大岡山)国際交流会館 [ポスター講演]LSIのEMC ~ チップとボードを統合した電源ノイズの評価・解析手法 ~
吉川薫平永田 真神戸大ICD2008-109
0.18$\mu$mCMOSプロセスで作成したテストチップを用いて電源雑音の統合的な評価を行った。
チップ内の電源ノイ... [more]
ICD2008-109
pp.43-46
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