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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 ○王 森レイ・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大）  VLD2012-102 DC2012-68 |
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である．スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] | VLD2012-102 DC2012-68 pp.249-254 |
| DC | 2012-06-22 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 論理BISTの電力低減手法と評価 ○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2012-14 |
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが，発生パターンのランダム性から，その制御... [more] | DC2012-14 pp.33-38 |
| DC | 2012-06-22 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討 ○三宅庸資・笹川拓麿・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-16 |
VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている．フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには... [more] | DC2012-16 pp.45-50 |
| DC | 2012-02-13 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について ○加藤隆明・王 森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） DC2011-80 |
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では，テスト時の高い電力消費が問題である．本研究では，スキャンBISTに... [more] | DC2011-80 pp.25-29 |
| DC | 2012-02-13 16:20 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） DC2011-86 |
VLSIの高機能化や高性能化，製造プロセスの微細化に伴い，劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し，障害発生による... [more] | DC2011-86 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2011-11-30 10:05 |
宮崎 | ニューウェルシティ宮崎 | マルチサイクルテスト構造を用いたキャプチャ電力の低減 山口久登・○松薗 誠・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） VLD2011-83 DC2011-59 |
組込み自己テスト（BIST）では，テスト時の消費電力が通常動作時より多いため，電圧降下による誤動作や，発熱による性能劣化... [more] | VLD2011-83 DC2011-59 pp.179-183 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価 ○山口久登・松薗 誠・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST） VLD2010-61 DC2010-28 |
フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため，テストデータ量を極力少なく... [more] | VLD2010-61 DC2010-28 pp.31-36 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:05 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | Rotating Test and Pattern Partitioning for Field Test ○Senling Wang・Seiji Kajihara・Yasuo Sato・Kohei Miyase・Xiaoqing Wen（Kyushu Insti. Tech.） |
[more] | |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | ［招待講演］Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism ○Yasuo Sato・Seiji Kajihara（Kyusyu Institute of Technology）・Michiko Inoue・Tomokazu Yoneda・Satoshi Ohtake・Hideo Fujiwara（NAIST）・Yukiya Miura（Tokyo Metropolitan Univ.） |
The main task of test had traditionally been screening of ha... [more] | |
| DC | 2010-02-15 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について 奥 慎治・○梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JTS） DC2009-73 |
本研究では，テストキューブに対する3値の遅延故障シミュレーションにおいて，故障遅延の遅延値の算出手法を提案する．テストキ... [more] | DC2009-73 pp.51-56 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 14:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | 劣化検知テストにおけるパス選択について ○野田光政（九工大）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大/JST）・三浦幸也（首都大東京/JST） VLD2009-65 DC2009-52 |
VLSIの微細化に伴い，経時劣化による故障への対応が重要になってくる．劣化の進行度合いは，同じ回路であっても回路内の箇所... [more] | VLD2009-65 DC2009-52 pp.167-172 |
| DC | 2008-06-20 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］テスト設計における最近の課題と展望 ○佐藤康夫（日立） DC2008-15 |
LSI回路の微細化・高速化に伴いLSIテストも質的および量的な変化が求められている．質的変化については，テスト品質向上の... [more] | DC2008-15 pp.23-28 |
| DC | 2008-06-20 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | 論理回路の動作環境とトランジスタの劣化特性について ○原口雅史（九工大）・三浦幸也（首都大東京）・梶原誠司・佐藤康夫・宮瀬紘平・温 暁青（九工大） DC2008-17 |
集積回路の微細化技術の進展とともに，回路の劣化に伴う経時変化の考慮が重要になっている．本研究では，回路の劣化検知を行う準... [more] | DC2008-17 pp.35-40 |
| R | 2007-09-14 13:10 |
高知 | 高知工科大学 | ［招待講演］故障診断における欠陥モデルの動向 ～ チュートリアル ～ ○佐藤康夫（日立） R2007-32 |
LSI故障診断における故障モデルの動向を中心に最近の診断技術を紹介する．故障診断は，ATEにおけるテスト結果を最もよく説... [more] | R2007-32 pp.17-22 |
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