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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2016-12-16 13:00 |
山形 | 酒田市 総合文化センター(山形県酒田市) | High Reliable Memory Architecture with Adaptive Combination of Aging-Aware In-Field Self-Repair and ECC Gian Mayuga・Yuta Yamato（NAIST）・Yasuo Sato（KIT）・○Michiko Inoue（NAIST）  DC2016-64 |
[more] | DC2016-64 pp.1-6 |
| VLD, DC (共催) CPM, ICD, IE (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2016-11-30 11:45 |
大阪 | 立命館大学大阪いばらきキャンパス | A Golden-IC Free Clock Tree Driven Authentication Approach for Hardware Trojan Detection ○Fakir Sharif Hossain・Tomokazu Yoneda・Michiko Inoue（NAIST）・Alex Orailoglu（UCSD） VLD2016-67 DC2016-61 |
[more] | VLD2016-67 DC2016-61 pp.135-140 |
| DC, SS (共催) |
2016-10-27 11:50 |
滋賀 | 彦根勤労福祉会館(彦根市) | MRSWレジスタモデルに対するオブリビアス敵対スケジューラ下での無待機乱択合意アルゴリズムの高速化 ○守屋 宣（近畿大）・井上美智子（奈良先端大） SS2016-20 DC2016-22 |
MRSWレジスタによる非同期共有メモリシステムに対する，オブリビアス敵対スケジューラ下での無待機乱択合意アルゴリズムにつ... [more] | SS2016-20 DC2016-22 pp.13-18 |
| COMP | 2016-09-06 11:00 |
富山 | 富山県立大学 | ビザンチン環境における認証機能付き白板を用いたモバイルエージェント集合アルゴリズム ○土田将司・大下福仁・井上美智子（奈良先端大） COMP2016-15 |
本稿では，ビザンチン環境において，モバイルエージェントを一つのノードに集合させるアルゴリズムを提案する．提案するアルゴリ... [more] | COMP2016-15 pp.7-14 |
| CPSY, DC (共催) IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC (連催) (併催) [詳細] |
2016-03-25 15:45 |
長崎 | 福江文化会館・勤労福祉センター | LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討 ○小河 亮（奈良先端大）・中村芳行（ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ）・井上美智子（奈良先端大） CPSY2015-158 DC2015-112 |
近年，データマイニングを用いたテストコスト削減手法が注目を集めている．LSIは多数のテスト工程を経て市場に出荷される．こ... [more] | CPSY2015-158 DC2015-112 pp.271-276 |
| DC | 2016-02-17 11:55 |
東京 | 機械振興会館 | ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境 ○川崎真司・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大） DC2015-90 |
故障インジェクションとは，故障が発生した回路の振る舞いを再現するための技術であり，ソフトエラーの影響解析などの目的で使用... [more] | DC2015-90 pp.25-30 |
| DC | 2016-02-17 14:25 |
東京 | 機械振興会館 | 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法 ○里中沙矢香・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大） DC2015-92 |
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] | DC2015-92 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 12:45 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | Scan Segmentation Approach to Magnify Detection Sensitivity for Tiny Hardware Trojan ○Fakir Sharif Hossain・Tomokazu Yoneda・Michiko Inoue（NAIST） VLD2015-38 DC2015-34 |
[more] | VLD2015-38 DC2015-34 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 13:50 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成 ○上岡真也・米田友和・大和勇太・井上美智子（奈良先端大） VLD2015-40 DC2015-36 |
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) ... [more] | VLD2015-40 DC2015-36 pp.19-24 |
| COMP | 2015-09-01 14:00 |
長野 | 信州大学 | 木においてDデーモン下で1-極大マッチングを求めるサイレントな匿名自己安定アルゴリズム 麻田優真・大下福仁・○井上美智子（奈良先端大） COMP2015-20 |
We propose a silent self-stabilizing 1-maximal matching algo... [more] | COMP2015-20 pp.27-34 |
| DC | 2014-12-19 14:15 |
富山 | 高岡テクノドーム | Reliability of ECC-based Memory Architectures with Online Self-repair Capabilities ○Gian Mayuga・Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda（NAIST）・Yasuo Sato（Kyutech）・Michiko Inoue（NAIST） DC2014-70 |
[more] | DC2014-70 pp.19-24 |
| DC | 2014-10-27 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | An Efficient Silent Self-Stabilizing Algorithm to Solve 1-Maximal Matching in Anonymous Networks ○Yuma Asada・Michiko Inoue（NAIST） DC2014-23 |
We propose a new self-stabilizing 1-maximal matching algorit... [more] | DC2014-23 pp.11-16 |
| COMP | 2014-03-10 14:15 |
東京 | 明治大学 | オブリビアス敵対スケジューラ下でのMRSWレジスタを用いた乱択合意アルゴリズム ○中島 悟・井上美智子（奈良先端大） COMP2013-68 |
本研究では, 共有メモリ分散システム上において, オブリビアス敵対スケジューラ下で乱択合意アルゴリズムを提案する. ... [more] |
COMP2013-68 pp.53-60 |
| DC | 2013-12-13 13:00 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ ○伊藤渓太・米田友和・大和勇太・畠山一実・井上美智子（奈良先端大） DC2013-68 |
本論文では，FPGA上のアプリケーション回路をテスト対象とした効率の良いスキャンBISTアーキテクチャを提案する． 提... [more] |
DC2013-68 pp.1-6 |
| DC | 2013-02-13 16:40 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法 ○吉見優太（奈良先端大）・畠山一実・大和勇太・米田友和・井上美智子（奈良先端大/JST） DC2012-90 |
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため，その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] | DC2012-90 pp.61-66 |
| DC | 2012-06-22 16:10 |
東京 | 機械振興会館 | On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing ○Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda・Kazumi Hatayama・Michiko Inoue（NAIST） DC2012-15 |
[more] | DC2012-15 pp.39-44 |
| DC | 2012-02-13 15:55 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング ○森永洋介（奈良先端大）・米田友和（奈良先端大/JST）・李 賢彬（Hanbat National Univ.）・井上美智子（奈良先端大/JST） DC2011-85 |
[more] | DC2011-85 pp.55-60 |
| DC | 2011-02-14 11:50 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法 ○小副川絵美子・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-63 |
LSIのフィールド使用時における劣化検知は，LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である．劣化は遅延値の増加とし... [more] | DC2010-63 pp.27-32 |
| DC | 2011-02-14 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 高精度遅延テストのためのテストパターン生成法 ○堀 慧悟（奈良先端大）・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST） DC2010-64 |
本研究では，システムクロックより速い複数のテストクロックを用いて，微小遅延を検出するテスト手法を提案する．半導体の製造プ... [more] | DC2010-64 pp.33-38 |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | ［招待講演］Circuit Failure Prediction by Field Test (DART) with Delay-Shift Measurement Mechanism ○Yasuo Sato・Seiji Kajihara（Kyusyu Institute of Technology）・Michiko Inoue・Tomokazu Yoneda・Satoshi Ohtake・Hideo Fujiwara（NAIST）・Yukiya Miura（Tokyo Metropolitan Univ.） |
The main task of test had traditionally been screening of ha... [more] | |
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