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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
EMD 2011-11-18
11:50
秋田 秋田大学 手形キャンパス Sample-Shape to Avoid Self-Heating Effect in PIM measurements \\using the standing wave coaxial tube method
Keita HoshinoDaijiro IshibashiNobuhiro KugaYokohama National Univ.
 [more]
EMD 2011-11-18
12:10
秋田 秋田大学 手形キャンパス Simulation Method of Passive Intermodulation caused by a Short Source in Standing Wave
Daijiro IshibashiKeita HoshinoNobuhiro KugaYokohama National Univ.EMD2011-96
 [more] EMD2011-96
pp.155-159
EMD, EMCJ
(共催)
2011-07-15
12:45
東京 機械振興会館 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(3) ~
和田真一・○越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕竹田弘毅石塚大貴柳 国男久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎日本工大EMCJ2011-62 EMD2011-21
著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな“タッピング・デバイス(TPD)”を開発し試... [more] EMCJ2011-62 EMD2011-21
pp.7-12
EMD 2011-01-28
15:40
東京 日本航空電子工業株式会社 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(1) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン川述真裕石塚大貴柳 国男小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-141
著者らは,ハンマリング加振機構(HOM),摺動接触機構(SCM),および3次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が... [more] EMD2010-141
pp.35-40
EMD 2011-01-28
16:05
東京 日本航空電子工業株式会社 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ~ タッピング・デバイスの試作(2) ~
越田圭治和田真一サインダー ノロブリン川述真裕小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・久我宣裕横浜国大)・澤 孝一郎慶大名誉教授/日本工大EMD2010-142
著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試... [more] EMD2010-142
pp.41-46
AP 2011-01-21
16:10
佐賀 佐賀大学 ダイオード付き円板モノポールアンテナの相互変調ひずみ特性
入江健治久我宣裕横浜国大)・長 敬三NTTドコモAP2010-161
 [more] AP2010-161
pp.165-169
EMD 2010-12-17
14:55
東京 玉川大学 定印加力を有するタッピングデバイスを用いた高周波同軸コネクタの振動特性評価
富菜将基石橋大二郎久我宣裕横浜国大EMD2010-133
パネルに実装されたケーブル付き小型コネクタで発生する相互変調ひずみ(PIM)特性を,10Nの定印加力を実現するタッピング... [more] EMD2010-133
pp.23-27
EMD 2010-12-17
15:20
東京 玉川大学 相互変調ひずみ源の消費電力から見た整合法・不整合法PIM測定の相関に関する考察
吉田 翔石橋大二郎久我宣裕横浜国大EMD2010-134
不整合法を用いたPIM測定が従来の整合法測定に比べ高感度であることは実験的に確認されているが,その原理に関する定量的説明... [more] EMD2010-134
pp.29-34
EMD 2010-03-05
15:25
神奈川 横浜国立大学 外部衝撃に対して同軸接点で発生する相互変調歪みの測定
富菜将基久我宣裕横浜国大EMD2009-136
 [more] EMD2009-136
pp.37-40
RCS, AP
(併催)
2009-11-27
10:50
東京 東工大 PIMソースを内蔵したパッチアンテナの構成法
入江健治久我宣裕横浜国大AP2009-132
本報告では,アンテナ相互変調ひずみの測定環境の評価を目的とした基準アンテナについて検討を行っている.提案アンテナは相互変... [more] AP2009-132
pp.79-84
EMD 2009-11-20
11:40
東京 日本工業大学 神田キャンパス Passive Intermodulation due to Distributed Nonlinearity in Mismatched Passive Circuits
Daijiro IshibashiNobuhiro KugaKazuki KumagaiYokohama Nat'l Univ.EMD2009-95
 [more] EMD2009-95
pp.113-116
EMD, EMCJ
(共催)
2009-05-22
13:00
東京 日本工業大学 神田キャンパス 電気接点で発生する相互変調ひずみの非接触測定
久我宣裕横浜国大EMCJ2009-14 EMD2009-6
 [more] EMCJ2009-14 EMD2009-6
p.33
EMD 2008-11-16
10:40
宮城 東北文化学園大学(仙台) Intermodulation caused by Surface Mount-Device and Defected Connection
Ken-ichi OhnishiNobuhiro KugaYokohama Nat'l Univ.EMD2008-92
 [more] EMD2008-92
pp.109-112
EMD 2008-11-16
11:00
宮城 東北文化学園大学(仙台) A Consideration for Duplexer Design in Connection Inspection using Passive Intermodulation
Takeo NomuraNobuhiro KugaYokohama Nat'l Univ.
 [more]
EMCJ, EMD
(共催)
2008-07-18
15:15
東京 機械振興会館 導体で発生する3次相互変調ひずみのFDTD解析
石橋大二郎久我宣裕横浜国大EMCJ2008-46 EMD2008-28
導体のマイクロ波帯相互変調ひずみ特性に関する解析手法として,電流による非線形電界を考慮したFDTD法を提案している.本報... [more] EMCJ2008-46 EMD2008-28
pp.31-36
EMD 2008-01-25
14:50
東京 機械振興会館 定在波同軸管内の共振試料に対する非接触相互変調ひずみ測定法
小倉裕俊久我宣裕横浜国大EMD2007-112
本稿では,受動素子で生ずる相互変調ひずみ(PIM:Passive Intermodulation)の評価法として定在波同... [more] EMD2007-112
pp.17-22
EMD 2007-05-18
15:25
宮城 石巻専修大学 アンテナ近傍界を用いた電気接点の非接触PIM特性測定法
久我宣裕遠藤充哲横浜国大EMD2007-10
アンテナ近傍界を用いたPIM 特性評価法を提案し,これによる電気接点の非接触特性評価の可能性について実験的に検討している... [more] EMD2007-10
pp.17-20
EMD 2007-04-20
15:05
東京 日本工業大学(神田キャンパス,東京都) マイクロ波定在波伝送線路を用いた高周波材料の非接触PIM特性評価
小倉裕俊久我宣裕横浜国大EMD2007-4
本稿では,高周波材料の相互変調ひずみ(PIM:Passive Intermodulation) 特性の評価法として,同軸... [more] EMD2007-4
pp.17-21
AP 2006-08-24
11:35
新潟 朱鷺メッセ(新潟) ディジタル可変キャパシタを用いた受信用整合回路
玉置亮太郎久我宣裕新井宏之横浜国大AP2006-62
携帯型端末の受信アンテナの整合状態について,反射波を検出せずに改善する方法を検討している.
複数のPINダイオードスイ... [more]
AP2006-62
pp.29-32
CPM, EMD, OME
(共催)
2006-06-30
16:40
東京 機械振興会館 定在波伝送線路を用いた導体材料の相互変調ひずみ評価
山本泰之久我宣裕横浜国大
本稿ではPIM(受動相互変調ひずみ:Passive Intermodulation)の新たな評価方法として短絡法を提案し... [more] EMD2006-15 CPM2006-39 OME2006-49
pp.57-61
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