お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Ｃの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール		 技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
（ 研究会名/開催地/テーマ  ）→
 
（ 講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード ）→

すべての研究会開催スケジュール  (検索条件: すべての年度)

講演検索結果
 登録講演（開催プログラムが公開されているもの）  （日付・降順）
 63件中　61～63件目 [前ページ]  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, ICD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)		 2005-12-02
09:30		 福岡 北九州国際会議場 スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について
○鈴木達也・温　暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平・皆本義弘（JST） 		スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のＩＲドロップを引き起こす可能性が... [more] VLD2005-76 ICD2005-171 DC2005-53
pp.1-6
ICD, CPM
(共催)		 2005-01-28
11:45		 東京 機械振興会館 故障診断のための観測性の定量化について
○豊田直哉・梶原誠司・温　暁青（九工大）・真田　克（NECエレクトロニクス） 		現在の故障診断は，回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い．しかし，回路の大規模化により，こ... [more] CPM2004-167 ICD2004-212
pp.31-34
ICD, CPM
(共催)		 2005-01-28
14:00		 東京 機械振興会館 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） 		本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提... [more] CPM2004-169 ICD2004-214
pp.41-46
 63件中　61～63件目 [前ページ]  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください ＮＥＷ！！
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式

[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]
IEICE / 電子情報通信学会