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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2015-12-18 13:20 |
新潟 | クリエート村上(村上市) | デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について ○三宅庸資・加藤隆明・糸永卓矢・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  DC2015-74 |
VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている．このデジタルモニタは，一般的なアナログ回路によるモ... [more] | DC2015-74 pp.5-10 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-01 15:45 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | ［フェロー記念講演］VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待 ○梶原誠司（九工大） VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51 |
VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は，テスト品質向上（故障検出能力の向上）とコスト削減を主眼に研究... [more] | VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51 pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF) |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 10:50 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討 ○喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2015-63 DC2015-59 |
フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として，チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミング... [more] | VLD2015-63 DC2015-59 pp.165-170 |
| DC | 2015-06-16 15:00 |
東京 | 機械振興会館 地下3階2号室 | レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究 ○宮瀬紘平（九工大）・ザウアー マティアス・ベッカー ベルンド（フライブルク大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） DC2015-18 |
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している．特に，瞬間的な過度の消費電力の増加は，過度なI... [more] | DC2015-18 pp.13-18 |
| DC | 2014-12-19 13:00 |
富山 | 高岡テクノドーム | FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 ○佐藤康夫・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2014-67 |
リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが，NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問... [more] | DC2014-67 pp.1-6 |
| DC | 2014-12-19 13:25 |
富山 | 高岡テクノドーム | FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-68 |
VLSI動作時の信頼性確保に，チップへの温度モニタの搭載が有効であり，リングオシレータを用いてその周波数から温度測定する... [more] | DC2014-68 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 14:45 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | FPGAにおけるオンチップ遅延測定について ○安部賢太朗・三宅庸資・梶原誠司・佐藤康夫（九工大） VLD2014-109 DC2014-63 |
本論文では，FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる．半導体技術の進歩により，微細化，高... [more] | VLD2014-109 DC2014-63 pp.245-250 |
| DC | 2014-06-20 14:05 |
東京 | 機械振興会館 | 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法 ○李 富強・温 暁青・宮瀬紘平・ホルスト シュテファン・梶原誠司（九工大） DC2014-12 |
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため，セルの実効電圧降下 （IR-Drop）との関わりの強いローカル... [more] |
DC2014-12 pp.15-20 |
| DC | 2014-06-20 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 ○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-13 |
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は，テスト対象パスの遅延増加等をもたらし，テスト精度低下の... [more] | DC2014-13 pp.21-26 |
| DC | 2013-12-13 13:25 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 ○佐藤康夫・松浦宗寛・荒川 等・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2013-69 |
FPGAに搭載された論理を自己テストする際の可変テストタイミング生成手法を提案する．FPGAのアプリケーション依存テスト... [more] | DC2013-69 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | FPGAにおける複数の周波数特性を実現するためのリングオシレータ構成法の検討 ○三宅庸資・門田正文・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2013-84 DC2013-50 |
FPGAは高信頼性システムを含めたさまざまな組込みシステムに利用されており，信頼性の確保が重要になっている．VLSIの信... [more] | VLD2013-84 DC2013-50 pp.165-170 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 08:30 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討 ○野々山 聡・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・中村芳行（ルネサス エレクトロニクス） VLD2013-91 DC2013-57 |
[more] | VLD2013-91 DC2013-57 pp.221-226 |
| DC | 2013-06-21 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察 ○佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2013-12 |
近年の電子機器に組み込まれたLSIは極めて高い信頼性を要求されている．しかしBTI（Bias Temperature I... [more] | DC2013-12 pp.13-18 |
| DC | 2013-02-13 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 ○三宅庸資・津森 渉・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-89 |
VLSIの微細化に伴い，劣化による回路遅延の増加が問題となっている．劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで... [more] | DC2012-89 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-26 13:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ［招待講演］組込み自己テストによるフィールド高信頼化について ○梶原誠司（九工大） VLD2012-65 DC2012-31 |
出荷後のシステムにおいて，パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで，回路の遅... [more] | VLD2012-65 DC2012-31 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:30 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 ○津森 渉・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） VLD2012-101 DC2012-67 |
システムの信頼性の確保のために，フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を，障害の発生する前に検知する必要がある．... [more] | VLD2012-101 DC2012-67 pp.243-248 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:55 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | マルチサイクルBISTにおけるスキャン出力の電力低減手法 ○王 森レイ・佐藤康夫・梶原誠司・宮瀬紘平（九工大） VLD2012-102 DC2012-68 |
論理BISTにおけるテスト時の電力消費低減が課題である．スキャン入力時の電力やキャプチャ時の電力は様々な制御手法が提案さ... [more] | VLD2012-102 DC2012-68 pp.249-254 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 16:00 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | ネットリストを用いたドントケアビット数の見積り手法に関する研究 ○宮瀬紘平・梶原誠司・温 暁青（九工大） VLD2012-104 DC2012-70 |
テストパターンの故障検出能力に加えて，テストデータ量削減，低消費電力，テスト品質向上などの新しい特性を与える場合，テスト... [more] | VLD2012-104 DC2012-70 pp.261-266 |
| DC | 2012-06-22 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 論理BISTの電力低減手法と評価 ○佐藤康夫・王 森レイ・加藤隆明・宮瀬紘平・梶原誠司（九工大） DC2012-14 |
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが，発生パターンのランダム性から，その制御... [more] | DC2012-14 pp.33-38 |
| DC | 2012-06-22 16:35 |
東京 | 機械振興会館 | リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討 ○三宅庸資・笹川拓麿・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-16 |
VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている．フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには... [more] | DC2012-16 pp.45-50 |
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