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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2010-02-15 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | テスト実行時の温度均一化のためのテストパターン並び替え法 ○中尾 良・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大）  DC2009-66 |
VLSIのテスト実行時は，消費電力が空間や時間でばらつき，それに伴い回路温度が変動する．一方，回路の動作遅延は温度に依存... [more] | DC2009-66 pp.7-12 |
| DC | 2010-02-15 14:35 |
東京 | 機械振興会館 | BISTにおける高品質遅延故障テストのためのシード選択法 ○竹谷 啓・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2009-74 |
本稿では，LFSR，フェーズシフタ及びMISRで構成されるスキャンBISTを対象とし，テストデータ量制約下における高品質... [more] | DC2009-74 pp.57-62 |
| DC | 2009-02-16 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法 ○植本雄一・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2008-77 |
VLSI回路中の微小遅延を検出するテスト手法としてパス遅延故障テストがあるが，回路中の全パス数が膨大であるなど実用上の問... [more] | DC2008-77 pp.55-60 |
| DC | 2008-02-08 11:40 |
東京 | 機械振興会館 | 平衡構造を利用した安全なスキャン設計 ○長谷川宗士・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-73 |
暗号回路といった秘密情報を内部に持つ回路に対するスキャン設計を利用したサイドチャネル攻撃に耐性のある安全なスキャン設計法... [more] | DC2007-73 pp.39-44 |
| DC | 2008-02-08 14:50 |
東京 | 機械振興会館 | 高位合成情報を用いたRTLフォールスパス判定 ○池田直嗣・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-77 |
本稿では，高位合成情報を用いたRTLフォールスパスの判定方法を提案する．フォールスパス情報を利用することは，テスト生成時... [more] | DC2007-77 pp.63-68 |
| ICD, IPSJ-ARC (共催) |
2006-06-08 15:30 |
神奈川 | NEC玉川ルネッサンスシティ | プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計 ○中里昌人・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
本稿では，テンプレートを利用したテストプログラム生成法から合成された任意のテストプログラム実行時に起こる誤りマスクを回避... [more] | ICD2006-48 pp.49-54 |
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