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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, ICD
(共催)
ITE-IST
(連催) [詳細]
2018-08-09
12:45
北海道 北海道大学大学院情報科学研究科 M棟M151 10nm FinFETプロセスにおける回復効果を含むBTIのスタンダードセルのレイアウト形状依存性に関する研究
五十嵐満彦内田優希高沢義生塚本康正澁谷宏治新居浩二ルネサス エレクトロニクスSDM2018-47 ICD2018-34
 [more] SDM2018-47 ICD2018-34
pp.109-113
ICD, SDM
(共催)
2014-08-04
10:50
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 2GHz CPUと低電力1GHz CPUを有する28nm High-k/MGプロセスを用いたヘテロジーニアス型マルチコアモバイルアプリケーションプロセッサ
五十嵐満彦植村俊文森 涼岸部浩司谷口正明若原康平齋藤俊治藤ヶ谷誠希福岡一樹新居浩二片岡 健服部俊洋ルネサス エレクトロニクスSDM2014-64 ICD2014-33
本誌は我々のヘテロジーニアスクアッド/オクタ-コア構成のモバイルアプリケーションプロセッサ(AP)に搭載したパワーマネー... [more] SDM2014-64 ICD2014-33
pp.11-16
SDM, ICD
(共催)
2013-08-02
10:50
石川 金沢大学 角間キャンパス 28nmHKMGテクノロジにおけるEM耐性を強化した1.8V I/O NMOS電源スイッチによる123uWスタンバイ電力技術
福岡一樹森 涼加藤 章五十嵐満彦澁谷宏治山木貴志新居浩二森田貞幸小池貴夫ルネサス エレクトロニクス)・阪本憲成ルネサス モバイルSDM2013-78 ICD2013-60
 [more] SDM2013-78 ICD2013-60
pp.65-69
ICD 2012-12-18
10:20
東京 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール テスト時ピーク電力最適化に向けた28nmHKMGプロセスのデジタルVdrop検出センサー
五十嵐満彦高沢義生五十嵐康人松下博明竹内 幹ルネサス エレクトロニクスICD2012-115
フルデジタルで実装やテスト時の使用が容易なダイナミックVdropセンサーを提案する。このセンサーは2.4Kゲート規模で、... [more] ICD2012-115
pp.97-102
ED, MW
(共催)
2006-01-18
15:45
東京 機械振興会館 ゲートにより制御するホットエレクトロントランジスタの高周波特性予測
町田信也東工大/JST)・五十嵐満彦山田朋宏東工大)・宮本恭幸古屋一仁東工大/JST
走行領域を全て真性半導体とし、ゲート金属により電流制御を行うホットエレクトロントランジスタの高速特性解析を、フルバンドモ... [more] ED2005-197 MW2005-151
pp.29-32
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