| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| MW | 2009-09-25 13:50 |
東京 | 電通大 | 3次元ソレノイド型インダクタを用いた低電力・超小型LC-VCO ○田辺 昭・肱岡健一郎・長瀬寛和・林 喜宏（NECエレクトロニクス）  MW2009-83 |
3次元ソレノイド型インダクタを用いて、低電力・超小型の5GHzのLC-VCOとそれを組み込んだPLLを開発した。90nm... [more] | MW2009-83 pp.55-60 |
| MW | 2009-09-25 17:15 |
東京 | 電通大 | ［特別講演］動的プリディストーション技術を用いたWCDMA用低歪電力増幅器 ○山之内慎吾・青木雄一・國弘和明（NEC）・平山知央（NECエレクトロニクス）・宮崎 孝（NEC）・樋田 光（NECエレクトロニクス） MW2009-90 |
変調波信号入力時のAM-AMとAM-PM(動的歪特性)を補償する動的プリディストータ(PD)技術を開発しWCDMA用電力... [more] | MW2009-90 pp.93-98 |
| WBS | 2009-07-24 14:40 |
静岡 | 静岡大工学部 | ハイバンドUWB装置の基本特性とアグリゲーション実験 ○望月拓志（NECエレクトロニクス）・李 還幇（NICT）・広谷 光（日立国際電気） WBS2009-20 |
平成20年度「マイクロ波帯を用いた通信用途のUWB無線システムの高度化に関する調査検討会」のハイバンド実験作業班で行なわ... [more] | WBS2009-20 pp.75-80 |
| WBS | 2009-07-24 15:05 |
静岡 | 静岡大工学部 | ハイバンドUWB装置からディジタルFPUへの影響評価（その1） ～ 同軸ケーブル接続試験 ～ ○広谷 光（日立国際電気）・李 還幇（NICT）・望月拓志（NECエレクトロニクス） WBS2009-21 |
平成20年度「マイクロ波帯を用いた通信用途のUWB無線システムの高度化に関する調査検討会」のハイバンド実験作業班で行なわ... [more] | WBS2009-21 pp.81-86 |
| WBS | 2009-07-24 15:30 |
静岡 | 静岡大工学部 | ハイバンドUWB装置からディジタルFPUへの影響評価（その2） ～ 暗室内での実機を用いた影響評価 ～ ○久保山晴弘（パナソニック電工）・望月拓志（NECエレクトロニクス）・広谷 光（日立国際電気）・李 還幇（NICT） WBS2009-22 |
平成20年度の「マイクロ波帯を用いた通信用途のUWB無線システムの高度化に関する調査検討」で行なわれた測定結果の中から，... [more] | WBS2009-22 pp.87-92 |
| WBS | 2009-07-24 15:55 |
静岡 | 静岡大工学部 | 超広帯域無線システムDAAにおける信号検出性能評価（その1） ～ ベースバンド評価システムの開発 ～ ○李 還幇・滝沢賢一（NICT）・山口博久（インテル）・望月拓志（NECエレクトロニクス）・野田正樹（日立）・浜口 清（NICT） WBS2009-23 |
平成20年度に行われたマイクロ波帯を用いた通信用途のUWB無線システム高度化に関する調査検討において，UWB干渉軽減技術... [more] | WBS2009-23 pp.93-98 |
| WBS | 2009-07-24 16:20 |
静岡 | 静岡大工学部 | 超広帯域無線システム用DAAに関する信号検出性能評価(その2) ～ モバイルWiMAX信号及び3GPP LTE信号に対する評価実験 ～ ○滝沢賢一（NICT）・山口博久（インテル）・望月拓志（NECエレクトロニクス）・清水達也（NTT）・盧 鋒（KDDI研） WBS2009-24 |
[more] | WBS2009-24 pp.99-104 |
| ICD, SDM (共催) |
2009-07-17 14:10 |
東京 | 東工大 大岡山キャンパス 国際交流会館 | 垂直磁化磁壁移動セルを用いた高速低電流MRAM ○深見俊輔・鈴木哲広・永原聖万・大嶋則和（NEC）・尾崎康亮（NECエレクトロニクス）・齊藤信作・根橋竜介・崎村 昇・本庄弘明・森 馨・五十嵐忠二・三浦貞彦・石綿延行・杉林直彦（NEC） SDM2009-114 ICD2009-30 |
高速混載メモリの代替を目指した垂直磁化磁壁移動MRAMを開発した。試作素子の評価から、十分な熱安定性を維持した上で、書き... [more] | SDM2009-114 ICD2009-30 pp.91-95 |
| DC | 2009-06-19 15:10 |
東京 | 機械振興会館 | 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法 ○野口宏一朗・野瀬浩一（NEC）・尾野年信（NECエレクトロニクス）・水野正之（NEC） DC2009-16 |
[more] | DC2009-16 pp.31-34 |
| ICD | 2009-04-13 14:30 |
宮城 | 大観荘（宮城県松島町） | ［招待講演］MRAMの技術動向、今後の展開、32MbMRAM開発 ○杉林直彦・根橋竜介・崎村 昇・本庄弘明・斉藤信作（NEC）・伊藤雄一（NECエレクトロニクス）・三浦貞彦・加藤有光・森 馨（NEC）・尾崎康亮・小林洋介（NECエレクトロニクス）・大嶋則和・木下啓藏・鈴木哲広・永原聖万（NEC） ICD2009-3 |
[more] | ICD2009-3 pp.13-17 |
| OPE | 2008-12-19 14:55 |
東京 | 機械振興会館 | ［招待講演］オンチップ光配線開発の動向 ○大橋啓之（NEC/MIRAI-Selete） OPE2008-140 |
LSIにおいては、トランジスタの微細化に伴いゲート遅延が短縮される一方で、信号の高周波化および配線の微細・複雑化に伴い配... [more] | OPE2008-140 pp.23-24 |
| ICD | 2008-12-12 13:20 |
東京 | 東工大（大岡山）国際交流会館 | [依頼講演] DVFSのための電圧ステップ幅制御およびリファレンス電圧制御を用いた高速電源電圧制御方式 ○池永佳史・野村昌弘（NECエレクトロニクス）・中澤陽悦（NEC）・林 喜宏（NECエレクトロニクス） ICD2008-121 |
[more] | ICD2008-121 pp.95-100 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 09:50 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ［招待講演］CベースプログラマブルHWコア「STPエンジン」の現状と展望 ○本村真人（NECエレクトロニクス） RECONF2008-48 |
[more] | RECONF2008-48 pp.51-56 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-19 11:15 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | 電流容量比を用いたデカップリング容量分配手法 ○小林 進・土居直史（NECエレクトロニクス） CPM2008-95 ICD2008-94 |
近年のLSIの高速化および低電圧化により電源ノイズの問題が顕在化しており、電源ノイズを抑制するための効果的な手段としてデ... [more] | CPM2008-95 ICD2008-94 pp.37-42 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2008-10-22 14:45 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館3F | Cyclic方式D/Aコンバータの特徴を生かしたリニアリティ特性改善手法 ○齋藤 航・小林英尚・松本哲也・四柳道夫（NECエレクトロニクス） ICD2008-62 |
Cyclic方式D/Aコンバータ（DAC）の単調性を保証できるようにするために、このDACの特徴を生かしながら、リニアリ... [more] | ICD2008-62 pp.19-24 |
| ICD, ITE-IST (共催) |
2008-10-24 08:30 |
北海道 | 北海道大学 情報教育館3F | 素子ばらつきを考慮した温度センサ回路の最適化設計 ○田島英幸・小山哲弘・山口 基・早田征明・四柳道夫（NECエレクトロニクス） ICD2008-78 |
[more] | ICD2008-78 pp.113-118 |
| LQE, CPM, EMD, OPE (共催) |
2008-08-28 11:25 |
宮城 | 東北大学 | AD法によるEO/MO材料を用いた小型高速光素子 ○中田正文（NEC/MIRAI-Selete）・清水隆徳（MIRAI-Selete）・岩波瑞樹（NEC）・大橋啓之（NEC/MIRAI-Selete）・津田弘樹・明渡 純（産総研） EMD2008-34 CPM2008-49 OPE2008-64 LQE2008-33 |
微細結晶粒の再配列により膜を形成するエアロゾルデポジション（AD）法は、原子レベルから膜を形成する従来のスパッタ法などと... [more] | EMD2008-34 CPM2008-49 OPE2008-64 LQE2008-33 pp.11-14 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | 45nm世代SRAM向けHfSiOxを用いたしきい値電圧ばらつきの低減 ○筒井 元・角田一晃・刈谷奈由太・秋山 豊・阿部倫久・丸山信也・深瀬 匡・鈴木三惠子・山縣保司・今井清隆（NECエレクトロニクス） SDM2008-130 ICD2008-40 |
[more] | SDM2008-130 ICD2008-40 pp.11-16 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 10:55 |
東京 | 機械振興会館 | 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術 ○野口宏一朗・野瀬浩一（NEC）・尾野年信（NECエレクトロニクス）・水野正之（NEC） SDM2008-132 ICD2008-42 |
プロセスの微細化によるチップの高集積化に伴い、微小遅延故障がチップの信頼性を下げる大きな要因の一つになっている。我々はＬ... [more] | SDM2008-132 ICD2008-42 pp.23-28 |
| ICD, SDM (共催) |
2008-07-17 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | ［特別講演］微細トランジスタにおける特性ばらつきの現状と将来動向 ○平本俊郎（東大/MIRAI-Selete）・竹内 潔・角村貴昭（MIRAI-Selete）・Arifin T.P.（東大）・西田彰男・蒲原史朗（MIRAI-Selete） SDM2008-135 ICD2008-45 |
微細トランジスタの特性ばらつきは，半導体技術のおける最大の問題の一つである．最先端の65nm技術におけるトランジスタの特... [more] | SDM2008-135 ICD2008-45 pp.41-46 |
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