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登録講演（開催プログラムが公開されているもの） （日付・降順）

研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
VLD	2008-09-29 13:30	石川	金沢商工会議所会館	［招待講演］エラー検出FFを用いたDVSにおけるShort Path PenaltyとOR-Tree Latencyの低減手法 ○栗本昌憲・鈴木弘明（ルネサステクノロジ）・秋山　励・山中唯生・大熊晴之（ルネサスデザイン）・高田英裕・篠原尋史（ルネサステクノロジ） VLD2008-47	[more]	VLD2008-47 pp.1-6
ICD, SDM (共催)	2008-07-17 10:30	東京	機械振興会館	プロセスばらつきや温度耐性を向上した45nm SoC向け混載SRAM ○薮内　誠・新居浩二・塚本康正・大林茂樹・今岡　進（ルネサステクノロジ）・山上由展・石倉　聡・寺野登志夫・里見勝治・赤松寛範（松下電器）・篠原尋文（ルネサステクノロジ） SDM2008-131 ICD2008-41	微細化によるランダムばらつき増大によって、SRAMの動作マージンが減少している。これを改善するために、抵抗型リードアシス... [more]	SDM2008-131 ICD2008-41 pp.17-22
ICD, ITE-IST (共催)	2007-07-27 11:10	兵庫	神戸大学瀧川記念学術交流会館	磁界結合パルス伝送方式によるLSIロジックモニター用のフレキシブル高速無線インターフェース ○石黒仁揮（慶大）・菅原俊彦・高畑洋一（ルネサスソリューションズ）・岩田俊一（ルネサステクノロジ）・滝川　浩（ルネサスデザイン）・黒田忠広（慶大） ICD2007-60	磁界結合パルス伝送方式を用いて、LSIパッケージに封止されたチップの動作を外部からモニターできる着脱可能な高速無線インタ... [more]	ICD2007-60 pp.135-140
ICD	2007-04-13 09:40	大分	大分県・湯布院・七色の風	［招待講演］A 65 nm Embedded SRAM with Wafer Level Burn-In Mode, Leak-Bit Redundancy and E-trim Fuse for Known Good Die ○Shigeki Ohbayashi・Makoto Yabuuchi・Kazushi Kono（Renesas Technology）・Yuji Oda（Shikino High-Tech）・Susumu Imaoka（Renesas Design）・Keiichi Usui（Daioh Electric）・Toshiaki Yonezu・Takeshi Iwamoto・Koji Nii・Yasumasa Tsukamoto・Masashi Arakawa・Takahiro Uchida・Hiroshi Makino・Koichiro Ishibashi・Hirofumi Shinohara（Renesas Technology） ICD2007-11	[more]	ICD2007-11 pp.59-64

著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

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