| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ED, MW (共催) |
2008-01-17 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | p+-GaAs ゲート適用HJFETを用いたBluetooth Class1向け1.8V動作PAIC ○播磨史生・尾藤康則・高橋英匡・岩田直高（NECエレクトロニクス）  ED2007-221 MW2007-152 |
Bluetooth Class 1 向けに1.8 Vと低電圧で動作するPAICを開発した． p+-GaAs再成長ゲート構... [more] | ED2007-221 MW2007-152 pp.83-86 |
| RECONF | 2007-09-21 09:30 |
滋賀 | 立命館大学びわこくさつキャンパス （滋賀） | SoPCをベースとした組込みシステムのハードウェア/ソフトウェア分割手法 島田健市（NECエレクトロニクス）・○福士 将・堀口 進（東北大） RECONF2007-23 |
(事前公開アブストラクト) ソフトプロセッサを用いるSoPCをベースとした組込みシステム向けの，新たなハードウェア/ソフ... [more] | RECONF2007-23 pp.47-52 |
| ICD | 2007-04-12 10:40 |
大分 | 大分県・湯布院・七色の風 | MIM(Metal-Insulator-Metal) キャパシタを用いた混載DRAM用デバイステクノロジー ○谷川高穂・山縣保司・白井浩樹・杉村啓世・和気智子・井上 顕・佐甲 隆・坂尾眞人（NECエレクトロニクス） ICD2007-4 |
MIMキャパシタを用いた混載DRAMデバイス技術について報告する。我々は150nm世代よりLowパワーかつ高速アクセス性... [more] | ICD2007-4 pp.17-22 |
| ICD, SIP, IE, IPSJ-SLDM (共催) |
2006-10-26 13:55 |
宮城 | 宮城県・作並温泉・一の坊 | ［招待講演］車載メディア処理とLSIアーキテクチャ ～ 課題と将来動向 ～ ○黒田一朗（NECエレクトロニクス） |
[more] | SIP2006-93 ICD2006-119 IE2006-71 pp.57-62 |
| ICD, SDM (共催) |
2006-08-17 10:55 |
北海道 | 北海道大学 | ランプ波形分割方式を用いたオンチップサンプリングオシロスコープ ○稲垣賢一（東大）・ダナルドノ ドゥイ アントノ（ソニー）・高宮 真（東大）・熊代成孝（NECエレクトロニクス）・桜井貴康（東大） |
90nm CMOSプロセスにおいて、タイミング生成にランプ波形分割方式を用いた最高1psの時間分解能をもつオンチップサン... [more] | SDM2006-129 ICD2006-83 pp.25-30 |
| EMCJ, EMD (共催) |
2006-07-28 13:25 |
東京 | 機械振興会館 | LSIを搭載したプリント回路基板のEMIシミュレーション ○賀 文寿・渡辺 毅・飯塚裕一（NECエレクトロニクス） EMCJ2006-40 EMD2006-20 |
今回，実用性が高いボードレベルのEMIシミュレーション技術を開発した．本報告では，電源系に対する高周波電流及び放射電磁界... [more] | EMCJ2006-40 EMD2006-20 pp.25-28 |
| ICD | 2005-12-15 11:20 |
高知 | 高知工科大 | HSDPAコプロセッサ拡張用スケーラブルバスインタフェース ○竹内俊樹・井倉裕之（NEC）・橋本 剛（NECエレクトロニクス）・津村聡一・西 直樹（NEC） |
本稿では，W-CDMAベースバンドプロセッサのHSDPAコプロセッサ拡張用に開発したスケーラブルバスについて報告する．H... [more] | ICD2005-184 pp.7-11 |
| ICD, SDM (共催) |
2005-08-18 14:55 |
北海道 | 函館国際ホテル | 動作時および待機時における電源電圧およびしきい電圧の制御による消費電力最小化のためのモニタリング方式 ○池永佳史・野村昌弘・武田晃一・中澤陽悦（NEC）・相本代志治（NECエレクトロニクス）・萩原靖彦（NEC） |
(事前公開アブストラクト) 我々は回路の動作時および待機時において電源電圧VDDとしきい電圧Vthを動的に制御することに... [more] | SDM2005-139 ICD2005-78 pp.67-72 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-27 13:30 |
東京 | 機械振興会館 | ９０ｎｍデバイスのＬＶＰ測定容易性評価とLVP測定用素子の開発 ○野中淳平・和田慎一（NECエレクトロニクス） |
90nm以降のプロセスでは、トランジスタサイズがLVPで使用されるレーザ波長の回折限界に到達するため、LVP測定が困難に... [more] | CPM2004-156 ICD2004-201 pp.7-12 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-27 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザＳＱＵＩＤ顕微鏡による観測 ○酒井哲哉・二川 清（NECエレクトロニクス） |
[more] | CPM2004-158 ICD2004-203 pp.19-24 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 11:15 |
東京 | 機械振興会館 | RTL故障診断技術の実用化に向けた開発 ○二階堂正人・船津幸永（NECエレクトロニクス） |
RTL故障診断として，Assignment Decision Diagram（ADD）を用いて，ADDのノードをBack... [more] | CPM2004-166 ICD2004-211 pp.25-30 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 11:45 |
東京 | 機械振興会館 | 故障診断のための観測性の定量化について ○豊田直哉・梶原誠司・温 暁青（九工大）・真田 克（NECエレクトロニクス） |
現在の故障診断は，回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い．しかし，回路の大規模化により，こ... [more] | CPM2004-167 ICD2004-212 pp.31-34 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]