| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| IA | 2020-10-01 15:35 |
ONLINE | オンライン開催 | ［ポスター講演］Research and development of Personal Data Store (PDS) with access control for advanced PLR of running data ○Toyokazu Akiyama（Kyoto Sangyo Univ.）・Yukiko Kawai（Kyoto Sangyo Univ./Osaka Univ.）・Takumi Kiriu・Shinsuke, Nakajima（Kyoto Sangyo Univ.）・Panote Siriaraya（Kyoto Institute of Tech.）・Shinji Shimojo（Osaka Univ.）  IA2020-9 |
[more] | IA2020-9 p.29 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2019-11-14 09:15 |
愛媛 | 愛媛県男女共同参画センター | 単発DCストレス測定による負バイアス温度不安定性のAC特性を再現可能なモデル ○保坂 巧（埼玉大）・西澤真一（福岡大）・岸田 亮（東京理科大）・松本高士（東大）・小林和淑（京都工繊大） VLD2019-35 DC2019-59 |
本論文ではコンパクトな負バイアス温度不安定性（NBTI）モデルを提案する．提案モデルは反応拡散（tn）およびホールトラッ... [more] | VLD2019-35 DC2019-59 pp.57-62 |
| IN | 2018-06-14 15:25 |
富山 | 富山県教育文化会館 | LODを学習するニューラルネットワークの破局的な忘却を軽減するための情報理論に基づくリンク重みの多様性を測る指標の提案と評価 ○シン ルー（京都工繊大）・村田正幸（阪大） IN2018-9 |
[more] | IN2018-9 pp.27-32 |
| SDM | 2011-11-11 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 極微細MOSFETにおけるチャネル長変調係数のゲート電圧依存性 ○廣木 彰・尹 鍾鐵（京都工繊大） SDM2011-128 |
極微細MOSFETのドレイン電流解析モデルにおいて，飽和ドレイン電流の特性を決定するチャネル長変調係数は，ディジタル回路... [more] | SDM2011-128 pp.75-80 |
| SDM | 2011-11-11 15:45 |
東京 | 機械振興会館 | 極微細MOSFETにおけるソース・ドレイン寄生抵抗の高次の効果 ○尹 鍾鐵・廣木 彰（京都工繊大） SDM2011-129 |
極微細MOSFETにおけるソース・ドレイン寄生抵抗の高次の効果を調べた。寄生抵抗の高次の効果を含む飽和ドレイン電流を導出... [more] | SDM2011-129 pp.81-85 |
| KBSE, SS (共催) |
2011-07-29 14:30 |
北海道 | 北海道情報大学 | ソースコードの構造に対する体系的変更内容の復元 ○畑 秀明（阪大）・水野 修（京都工繊大）・菊野 亨（阪大） SS2011-18 KBSE2011-15 |
リファクタリングなどのソースコード構造の変更はソフトウェア開発において不可避な活動であり，保守性向上の面で推奨もされてい... [more] | SS2011-18 KBSE2011-15 pp.31-36 |
| SS | 2010-12-14 14:40 |
群馬 | 伊香保温泉 ホテル天坊 | メソッドに対するコメント文記述の変更履歴とメソッドの不具合との関係に関する実証的考察 ○畑 秀明（阪大）・水野 修（京都工繊大）・菊野 亨（阪大） SS2010-41 |
コメント文はソースコードの理解を助ける働きが期待されるが， 不適切なコメント文は不具合の要因となる可能性がある． ソ... [more] |
SS2010-41 pp.13-18 |
| VLD | 2010-03-10 15:25 |
沖縄 | 沖縄県男女共同参画センター | 基板バイポーラ効果によるSEUとMCUの発生機構の検討 ○濱中 力（京都工繊大）・古田 潤・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大/JST） VLD2009-103 |
集積化が進むにつれ素子固有のエラー耐性は低下し，1bit が反転するSEU(Single Event Upset)，複数... [more] | VLD2009-103 pp.25-30 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]