お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催プログラム
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップ  戻る   前のR研究会 / 次のR研究会 [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 

終了後に懇親会を開催いたします.



信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 柳 繁
副委員長 若井 一顕
幹事 弓削 哲史, 木村 光宏
幹事補佐 海生 直人, 馬渡 宏泰

日時 2007年 9月14日(金) 10:30 - 15:50
議題 LSIの評価・診断・解析及び、品質 
会場名 高知工科大学 工学部 A106教室 
住所 〒782-8502 高知県香美市土佐山田町宮ノ口185
交通案内 高知龍馬空港からタクシーにて15分、JR土佐山田駅からバス10分、JR高知駅からバス45分
http://www.kochi-tech.ac.jp/kut_J/access/index.html
会場世話人
連絡先
電子・光システム工学科 真田 克
0887-57-2118
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter;日本信頼性学会;品質談話会共催
お知らせ ◎終了後,懇親会を予定していますので御参加ください.
◎PM4:48(大学始発-高知駅行き)バスにて高知市内へ移動
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

9月14日(金) 午後 
10:30 - 15:50
(1) 10:30-10:55 SEM中マイクロプラズマによる材料プロセス R2007-29 大井秀宣岡崎康朗高橋那欣・○八田章光高知工科大
(2) 10:55-11:20 トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ~ フィードバック故障による発振現象の取得 ~ R2007-30 真田 克中村朋矢橋田啓示高知工科大
(3) 11:20-11:45 RC回路網による故障モデルの考案とトランジスタレベル故障診断試行 R2007-31 吉澤 豊NECエレクトロニクス
  11:45-13:10 昼食 ( 85分 )
(4) 13:10-13:40 [招待講演]故障診断における欠陥モデルの動向 ~ チュートリアル ~ R2007-32 佐藤康夫日立
(5) 13:40-14:05 LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について R2007-33 中村優介大和勇太温 暁青宮瀬紘平梶原誠司九工大)・K. K. サルージャウィスコンシン大
(6) 14:05-14:30 LSIテスタとデバイス間の伝送経路の評価とシミュレーションモデル化について R2007-34 土屋秀和浅川 毅東海大)・佐藤正幸ジェネシス・テクノロジー
  14:30-15:00 休憩 ( 30分 )
(7) 15:00-15:25 電子部品の故障解析および良品解析 ~ 車載用電子部品の信頼性向上のための取り組み ~ R2007-35 今井康雄田中大起沖エンジニアリング
(8) 15:25-15:50 LSIの製造品質評価としての構造解析手法の活用 R2007-36 梶沼雅仁溝口 彰武内広一朗三菱電機

講演時間
一般講演(25)発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 弓削哲史(防衛大学校)
TEL 046-841-3810
FAX 046-844-5903
E-: gen 


Last modified: 2007-08-27 09:13:42


ご注意: 迷惑メール対策のためメールアドレスの一部の文字を置換しております.ご了承ください.

[この開催に関する講演論文リストをダウンロードする] ※ こちらのページの最下にあるダウンロードボタンを押してください
 

[研究会発表・参加方法,FAQ] ※ ご一読ください
 
[研究会資料インデックス(vol. no.ごとの表紙と目次)]
 

[R研究会のスケジュールに戻る]   /  
 
 トップ  戻る   前のR研究会 / 次のR研究会 [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会