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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 海生 直人 (広島修道大)
副委員長 渡邉 均 (東京理科大)
幹事 木村 光宏 (法政大), 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事補佐 安里 彰 (富士通), 田村 信幸 (防衛大)

機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 吉田 清 (日本工大)
副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大)
幹事 関川 純哉 (静岡大), 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事補佐 服部 康弘 (住友電装)

日時 2011年 2月18日(金) 13:00 - 17:10
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN) 
会場名 静岡大学 浜松キャンパス 佐鳴会館 
住所 〒432-8561 浜松市中区城北3-5-1
交通案内 JR浜松駅からバス20分
http://www.eng.shizuoka.ac.jp/outlines/p07/
会場世話人
連絡先
工学部 電気電子工学科 関川純哉
053-478-1618
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛

2月18日(金) 午後 
13:00 - 17:10
  13:00-13:05 委員長挨拶 ( 5分 )
(1) 13:05-13:30 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について 玉井輝雄澤田 滋三重大)・服部康弘オートネットワーク技研
(2) 13:30-13:55 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 筑地茂樹澤田 滋玉井輝雄三重大)・服部康弘オートネットワーク技研)・飯田和生三重大
(3) 13:55-14:20 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 長谷川 誠小林菜々絵千歳科技大)・河野良行カネカ
(4) 14:20-14:45 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定 山梨洋平宮司勝吉関川純哉静岡大)・窪野隆能静岡大名誉教授
  14:45-15:00 休憩 ( 15分 )
(5) 15:00-15:25 IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 坂本俊輔眞田 克高知工科大
(6) 15:25-15:50 開放故障に伴う不安定論理の固定化 安富泰輝眞田 克高知工科大
(7) 15:50-16:15 初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理 松岡敏成三菱電機
(8) 16:15-16:40 定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発 中村共則岩井秀直山内豊彦寺田浩敏浜松ホトニクス
(9) 16:40-17:05 Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察 伊藤貞則イトケン事務所)・鈴木雅史オムロン
  17:05-17:10 閉会挨拶 ( 5分 )

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 木村光宏(法政大学)
TEL 042-387-6116
FAX 042-387-6126
E-: mi 
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-: tjkipc
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591
E-: -tsws 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2011-01-26 18:55:44


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