4月22日(月) 午前
座長: 渡邊 大輔（アドバンテスト）
09:50 - 11:50 |
| (1) |
09:50-10:15 |
[依頼講演] A 512Gb 3-bit/Cell Flash memory on 128-wordline-Layer with 132MB/s Write Performance Featuring Circuit-Under-Array Technology
○有木 卓弥（ウェスタン・デジタル） |
| (2) |
10:15-10:40 |
[依頼講演] A 1.33Tb 4-bit/Cell 3D-Flash Memory on a 96-Word-Line-Layer Technology
○清水 孝洋（東芝メモリ） |
| (3) |
10:40-11:05 |
[依頼講演] A Cost-Effective High Accuracy Auto-Trimming System without Tester Constraint for Low-End Embedded Flash Memory
○鈴木 潤一（ルネサス エレクトロニクス） |
| (4) |
11:05-11:50 |
[招待講演] Embedded Memory Solutions for AI, ML and IoT
○林越 正紀（ルネサス エレクトロニクス） |
| |
11:50-13:00 |
昼食 （ 70分 ） |
4月22日(月) 午後
座長: 山岡 雅直（日立製作所）
13:00 - 15:00 |
| (5) |
13:00-13:25 |
[依頼講演] A 2×30k-Spin Multichip Scalable Annealing Processor Based on a Processing-In-Memory Approach for Solving Large-Scale Combinatorial Optimization Problems
○竹本 享史（日立製作所） |
| (6) |
13:25-13:50 |
[依頼講演] 40-nm 64-kbit Buffer/Backup SRAM with 330 nW Standby Power at 65C Using 3.3 V Io Moss for PMIC Less MCU in IoT Applications
○横山 佳巧（ルネサス エレクトロニクス） |
| (7) |
13:50-14:15 |
[依頼講演] A 373F^2 2D‐Power‐Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark‐Bit Detection Technique
○Kunyang Liu, 篠原 尋史（早稲田大学） |
| (8) |
14:15-15:00 |
[招待講演] Approximate不揮発性メモリ
○竹内 健（中央大学） |
| |
15:00-15:15 |
休憩 （ 15分 ） |
4月22日(月) 午後
座長: 川嶋 将一郎（富士通セミコンダクター株式会社）
15:15 - 17:10 |
| (9) |
15:15-15:40 |
[依頼講演] パルス幅変調低電力ニューロモルフィックLSI
○鶴見 洸太、鈴木 健太、竹内 健（中央大学） |
| (10) |
15:40-16:25 |
[招待講演] Memory Expansion Technology for Large‐Scale Data Processing Using Software‐Controlled SSD
○吉田 英司（富士通研究所） |
| (11) |
16:25-17:10 |
[招待講演] Split-Gate MONOS Embedded Flash Technology for Automotive Applications
○斉藤 朋也（ルネサス エレクトロニクス） |
4月23日(火) 午前
座長: 竹内 健（中央大学）
09:55 - 11:50 |
| (12) |
09:55-10:40 |
[招待講演] 特許出願からみたストレージクラスメモリの技術動向～平成30年度特許出願技術動向調査より～
○市川 武宜，鈴木 和樹（特許庁） |
| (13) |
10:40-11:25 |
[招待講演] A demonstration of high-performance STT-MRAM by development of unit process and integration process
○佐藤 英夫（東北大学） |
| (14) |
11:25-11:50 |
[依頼講演] Accurate error bit mode analysis of STT-MRAM chip with a novel current measurement module implemented to gigabit class memory test system
○Ryo Tamura（アドバンテスト） |
| |
11:50-13:00 |
昼食 （ 70分 ） |
4月23日(火) 午後
座長: 飯島 正章（ルネサスエレクトロニクス）
13:00 - 15:00 |
| (15) |
13:00-13:25 |
[依頼講演] An FPGA-Accelerated Fully Nonvolatile Microcontroller Unit for Sensor-Node Applications in 40nm CMOS/MTJ-Hybrid Technology Achieving 47.14μW Operation at 200MHz
○夏井 雅典（東北大学） |
| (16) |
13:25-14:10 |
[招待講演] Highly reliable ReRAM for embedded memory and beyond applications
○米田 慎一（パナソニック） |
| (17) |
14:10-14:35 |
[依頼講演] 40nm CMOS技術により作製したTa-O系抵抗変化メモリにおける導電フィラメント周辺の酸素分布
○有田正志，福地厚，高橋庸夫（北大），村岡俊作，伊藤理、米田慎一（パナソニックセミコンダクタソリューション） |
| (18) |
14:35-15:00 |
[依頼講演] A 4M Synapses Integrated Analog ReRAM Based 66.5 TOPS/W Neural-Network Processor with Cell Current Controlled Writing and Flexible Network Architecture
○持田 礼司（パナソニック） |
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