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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 柳 繁 (防衛大)
副委員長 若井 一顕 (NHK)
幹事 弓削 哲史 (防衛大), 木村 光宏 (法政大)
幹事補佐 海生 直人 (広島修道大), 馬渡 宏泰 (NTT)

機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 長瀬 亮 (NTT)
副委員長 吉田 清 (日本工大)
幹事 長谷川 誠 (千歳科技大), 関川 純哉 (静岡大)
幹事補佐 一矢 光雄 (松下電工)

日時 2009年 2月20日(金) 09:50 - 17:35
議題 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN,IEEE R JAPAN) 
会場名 住友電装本社 
住所 〒510-8503 三重県四日市市西末広町1番14号
交通案内 JR関西線 「四日市駅」下車 徒歩10分
http://www.sws.co.jp/corporation/map/honsha.html
会場世話人
連絡先
服部 康弘
059-382-8714
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter;日本信頼性学会共催
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.
(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

2月20日(金) 午前 
09:50 - 17:35
(1) 09:50-10:15 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析 R2008-44 EMD2008-120 澤田 滋三重大)・清水佳織服部康弘オートネットワーク技研)・玉井輝雄三重大
(2) 10:15-10:40 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 ~ エリプソメトリによる研究 ~ R2008-45 EMD2008-121 鍋田佑也齋藤 寧澤田 滋三重大)・服部康弘オートネットワーク技研)・玉井輝雄三重大
(3) 10:40-11:05 Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討 R2008-46 EMD2008-122 富永裕一山中拓哉齋藤 寧玉井輝雄飯田和生三重大)・服部康弘オートネットワーク技研
(4) 11:05-11:30 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究 R2008-47 EMD2008-123 伊藤大二池田博榮齋藤 寧玉井輝雄飯田和生三重大)・伊藤哲也服部康弘オートネットワーク技研
  11:30-12:30 昼食 ( 60分 )
(5) 12:30-12:55 錫めっき微摺動接点の微細構造観察 R2008-48 EMD2008-124 伊藤哲也澤田 滋野村良行服部康弘オートネットワーク技研)・齋藤 寧玉井輝雄飯田和生三重大
(6) 12:55-13:20 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討 R2008-49 EMD2008-125 柏倉 誠工藤駿佑・○須藤あすか長谷川 誠千歳科技大
(7) 13:20-13:45 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 接触抵抗について(その4) ~ R2008-50 EMD2008-126 和田真一園田健人越田圭治菊地光男久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎慶大
(8) 13:45-14:10 はんだ接続点における鉛フリーはんだの引張強度解析 R2008-51 EMD2008-127 橋口 卓奈須川佑太平岡一則サレジオ高専
  14:10-14:25 休憩 ( 15分 )
(9) 14:25-14:50 シリコーンによる電気接点接触障害の評価技術(1) ~ 新たな評価装置を用いた環境評価試験について ~ R2008-52 EMD2008-128 森井真喜人森脇弘之オムロン)・田中秀樹植木義貴鈴木健嗣吉住公男西川昌伸エスペック
(10) 14:50-15:15 シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性 R2008-53 EMD2008-129 玉井輝雄三重大
(11) 15:15-15:40 リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討 R2008-54 EMD2008-130 長谷川 誠松藤卓真千歳科技大)・河野良行安藤 寛カネカ
  15:40-15:55 休憩 ( 15分 )
(12) 15:55-16:20 赤りん系難燃剤採用樹脂の機構部品に及ぼす影響 R2008-55 EMD2008-131 伊藤貞則イトケン
(13) 16:20-16:45 放送設備における漂遊金属と耐雷対策 R2008-56 EMD2008-132 若井一顕第一工大)・澤栗裕二SGC
(14) 16:45-17:10 SC及びMU形光コネクタの屋外環境下での信頼性評価 R2008-57 EMD2008-133 阿部宜輝柳 秀一浅川修一郎長瀬 亮NTT
(15) 17:10-17:35 人体通信を利用した制服の脱衣検知システムの開発 (講演なし) 近藤彰則都立産技高専)・鎌田紗由美都立航空高専)・藤川真樹中大)・古澤健治三矢研)・西垣正勝静岡大)・吉沢昌純都立産技高専

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 弓削哲史(防衛大学校)
TEL 046-841-3810
FAX 046-844-5903
E-: gen 
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠(千歳科学技術大学)
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E-: pn
関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-: tjkipc
一矢 光雄(松下電工)
TEL (070)5432-0873、FAX (03)6218-1921
E-: iw 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2009-09-07 15:53:51


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