お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催プログラム
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップ  戻る   前のICD研究会 / 次のICD研究会 [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 


集積回路研究会(ICD) [schedule] [select]
専門委員長 亀山 充隆
副委員長 中屋 雅夫
幹事 内山 邦男, 宮野 信治
幹事補佐 張山 昌論, 甲斐 康司

電子部品・材料研究会(CPM) [schedule] [select]
専門委員長 星 陽一
副委員長 石井 清
幹事 藤浦 和夫, 北本 仁孝
幹事補佐 松浦 徹

日時 2005年 1月27日(木) 13:00 - 17:15
2005年 1月28日(金) 09:00 - 17:15
議題 LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
会場名 機械振興会館 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8

1月27日(木) 午後 
13:00 - 15:00
(1) 13:00-13:30 LSI断線箇所診断手法 小宮泰麿菊地修司日立)・嶋瀬 朗向川一也ルネサステクノロジ
(2) 13:30-14:00 90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発 野中淳平和田慎一NECエレクトロニクス
(3) 14:00-14:30 SILプレートによる高分解能故障解析 吉田岳司小山 徹小守純子益子洋治ルネサステクノロジ
(4) 14:30-15:00 作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザSQUID顕微鏡による観測 酒井哲哉二川 清NECエレクトロニクス
  15:00-15:15 休憩 ( 15分 )
1月27日(木) 午後 
15:15 - 17:15
(5) 15:15-16:15 [特別招待講演]ULSIデバイス解析評価技術の現状と今後 ~ LSIの将来の生命線を握る解析技術 ~ 益子洋治ルネサステクノロジ
(6) 16:15-16:45 レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察 山下将嗣川瀬晃道大谷知行理研)・二川 清NECエレクトロニクス)・斗内政吉阪大
(7) 16:45-17:15 Sn-Ag-X 鉛フリーはんだの高信頼性化への検討 雨海正純日本テキサス・インスツルメンツ)・大西 司田島 武千住金属
1月28日(金) 午前 
09:00 - 10:30
(8) 09:00-09:30 サーバ・ルータ向け10Gbps伝送プロトタイプ 柳生正義山下寛樹結城文夫・○川下達也藤村康弘高田芳文日立
(9) 09:30-10:00 高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介 橋本修平川口泰雅羽二生 稔松永俊博松尾光永川谷直子樋口裕久高橋貴彦日立
(10) 10:00-10:30 高速ランダムアクセス混載 DRAM におけるパッケージ後の自動救済技術 中山 篤行川敏正伊藤 洋和田 修藤井秀壮東芝
  10:30-10:45 休憩 ( 15分 )
1月28日(金) 午前 
10:45 - 12:15
(11) 10:45-11:15 アナログ回路の故障診断手法の検討 久慈憲夫八戸高専
(12) 11:15-11:45 RTL故障診断技術の実用化に向けた開発 二階堂正人船津幸永NECエレクトロニクス
(13) 11:45-12:15 故障診断のための観測性の定量化について 豊田直哉梶原誠司温 暁青九工大)・真田 克NECエレクトロニクス
  12:15-13:30 昼食 ( 75分 )
1月28日(金) 午後 
13:30 - 15:30
(14) 13:30-14:00 テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について 新谷道広越智正邦市原英行井上智生広島市大
(15) 14:00-14:30 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について 樋上喜信愛媛大)・梶原誠司九工大)・小林真也高松雄三愛媛大
(16) 14:30-15:00 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法 三浦克介中前幸治藤岡 弘阪大
(17) 15:00-15:30 スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 新井雅之黒川晴申市野憲一福本 聡岩崎一彦都立大
  15:30-15:45 休憩 ( 15分 )
1月28日(金) 午後 
15:45 - 17:15
(18) 15:45-16:15 Learning-Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories Naotake KamiuraTeijiro IsokawaNobuyuki MatsuiUniv. of Hyogo
(19) 16:15-16:45 65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 ~ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法 ~ 山崎 眞古川靖夫アドバンテスト
(20) 16:45-17:15 経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 船津幸永住友洋志重田一樹石山敏夫NECエレクトロニクス

講演時間
一般講演(30分)発表 20 分 + 質疑応答 10 分
特別招待講演(60分)発表 50 分 + 質疑応答 10 分

問合先と今後の予定
ICD 集積回路研究会(ICD)   [今後の予定はこちら]
問合先 甲斐 康司(松下)
TEL 0948-21-2625, FAX 0948-21-2620
E-: i-icdmlpac 
CPM 電子部品・材料研究会(CPM)   [今後の予定はこちら]
問合先 藤浦和夫(NTTフォトニクス研究所)
TFL046-240-4531,FAX046-240-4527
E-:uaecl 


Last modified: 2004-11-25 15:57:15


ご注意: 迷惑メール対策のためメールアドレスの一部の文字を置換しております.ご了承ください.

[この開催に関する講演論文リストをダウンロードする] ※ こちらのページの最下にあるダウンロードボタンを押してください
 

[研究会発表・参加方法,FAQ] ※ ご一読ください
 
[研究会資料インデックス(vol. no.ごとの表紙と目次)]
 

[CPM研究会のスケジュールに戻る]   /   [ICD研究会のスケジュールに戻る]   /  
 
 トップ  戻る   前のICD研究会 / 次のICD研究会 [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会