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ディペンダブルコンピューティング研究会(DC) [schedule] [select]
専門委員長 米田 友洋 (NII)
副委員長 梶原 誠司 (九工大)
幹事 北神 正人 (千葉大), 中村 友洋 (日立)

日時 2012年 2月13日(月) 10:00 - 16:45
議題 VLSI設計とテストおよび一般 
会場名 機械振興会館地下3階6号室 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 東京メトロ日比谷線「神谷町」駅下車徒歩約7分,都営大江戸線「赤羽橋」駅下車徒歩約8分,都営三田線「御成門」駅下車徒歩約10分,都営浅草線「大門」駅下車徒歩約15分.
http://www.jspmi.or.jp/mapright.htm

2月13日(月) 午前  回路設計・ハードウェアトロイ設計
10:00 - 10:50
(1) 10:00-10:25 デュアルエッジトリガフリップフロップの設計と信号遅延検知への応用 大川善大三浦幸也首都大東京
(2) 10:25-10:50 AES暗号回路におけるトロイ設計の影響評価 荻田英実細川利典日大)・吉村正義九大
  10:50-11:05 休憩 ( 15分 )
2月13日(月) 午前  低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定
11:05 - 12:20
(3) 11:05-11:30 パターンマージングによる遷移遅延故障用テストのパス遅延故障検出能力向上手法 田中広彬宮瀬紘平榎元和成温 暁青梶原誠司九工大
(4) 11:30-11:55 レイアウトを考慮した故障カバレージの高精度見積りに関する一考察 新井雅之清水貴弘岩崎一彦首都大東京
(5) 11:55-12:20 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について 加藤隆明王 森レイ宮瀬紘平佐藤康夫梶原誠司九工大/JST
  12:20-14:00 昼食 ( 100分 )
2月13日(月) 午後  テスト生成・テスト容易化設計
14:00 - 15:15
(6) 14:00-14:25 バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 ~ 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 ~ 亀山修一富士通/愛媛大)・馬場雅之富士通)・樋上喜信高橋 寛愛媛大
(7) 14:25-14:50 制御ポイント挿入による遷移故障テストパターン削減法 高橋明彦細川利典日大)・吉村正義九大
(8) 14:50-15:15 同期式設計から変換されたQDI回路のテスト生成法 内田行紀村田絵理奈良先端大)・大竹哲史大分大/JST)・中島康彦奈良先端大
  15:15-15:30 休憩 ( 15分 )
2月13日(月) 午後  ばらつき・フィールドテスト
15:30 - 16:45
(9) 15:30-15:55 プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み 新谷道広佐藤高史京大
(10) 15:55-16:20 フィールドにおける劣化検知のための動的テストスケジューリング 森永洋介奈良先端大)・米田友和奈良先端大/JST)・李 賢彬Hanbat National Univ.)・井上美智子奈良先端大/JST
(11) 16:20-16:45 フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価 三宅庸資佐藤康夫梶原誠司宮瀬紘平九工大/JST)・三浦幸也首都大東京/JST

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
DC ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)   [今後の予定はこちら]
問合先 北神正人
〒263-8522 千葉市稲毛区弥生町1-33
千葉大学大学院融合科学研究科
TEL/FAX 043-290-3254
E-:fultyba-u 
お知らせ ◎最新情報は,DC研究会ホームページを御覧下さい.
http://www.ieice.org/iss/dc/jpn/index.html


Last modified: 2011-12-15 15:29:59


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