お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催プログラム
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップ  戻る   / [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 

*** 新型コロナウイルスの感染拡大防止のため本研究会は集合開催を中止し,Zoomによるオンライン開催と致します. ***





信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 安里 彰 (富士通)
副委員長 土肥 正 (広島大)
幹事 田村 信幸 (法政大), 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 岡村 寛之 (広島大), 横川 慎二 (電通大)

機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 萓野 良樹 (電通大)
幹事 上野 貴博 (日本工大)
幹事補佐 林 優一 (奈良先端大), 宮永 和明 (富士通コンポーネント)

日時 2021年 2月12日(金) 13:30 - 15:45
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:信頼性研究会) 
会場名 オンライン開催 
他の共催 ◆日本信頼性学会,IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
参加費に
ついて
この開催は「技報完全電子化」研究会です.参加費(EMD研究会, R研究会)についてはこちらをご覧ください.

2月12日(金) 午後  オンライン開催
13:30 - 15:45
  13:30-13:35 委員長挨拶 ( 5分 )
(1) 13:35-14:00 高信頼性トリガギャップスイッチにより大気中で発生する12路並列放電アークの写真観察 R2020-34 EMD2020-25 相沢友勝都立高専
(2) 14:00-14:25 450VDC/10A回路における開離時アークの陰極輝点の移動特性とアークランナー表面の温度 R2020-35 EMD2020-26 佐藤裕之関川純哉静岡大
  14:25-14:35 休憩 ( 10分 )
(3) 14:35-15:00 ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化傾向の診断 R2020-36 EMD2020-27 浅野 実横川慎二石垣 陽電通大)・冨永潤一栗津浜一携帯市場
(4) 15:00-15:45 [招待講演]電子デバイスに対する信頼性物理の諸課題 ~ 物理的に解明が必要な故障メカニズム ~ R2020-37 EMD2020-28 門田 靖リコー

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 井上 真二(関西大)
E-: ini-u 
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 林 優一(奈良先端科学技術大学院大学)
E-: -iisist 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2020-12-22 09:44:53


ご注意: 迷惑メール対策のためメールアドレスの一部の文字を置換しております.ご了承ください.

[この開催に関する講演論文リストをダウンロードする] ※ こちらのページの最下にあるダウンロードボタンを押してください
 

[技術研究報告冊子体販売対象研究会向け:技報の当日価格一覧] ※ 開催2週間前頃に掲載されます
 
[研究会発表・参加方法,FAQ] ※ ご一読ください
 
[研究会資料インデックス(vol. no.ごとの表紙と目次)]
 

[R研究会のスケジュールに戻る]   /   [EMD研究会のスケジュールに戻る]   /  
 
 トップ  戻る   / [HTML] / [HTML(simple)] / [TEXT]  [Japanese] / [English] 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会