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信頼性研究会(R) [schedule] [select]
専門委員長 木村 光宏 (法政大)
副委員長 馬渡 宏泰 (NTT)
幹事 安里 彰 (富士通), 岡村 寛之 (広島大)
幹事補佐 マラット ザニケエフ (九工大), 田村 信幸 (法政大)

機構デバイス研究会(EMD) [schedule] [select]
専門委員長 関川 純哉 (静岡大)
副委員長 久我 宣裕 (横浜国大)
幹事 服部 康弘 (住友電装), 阿部 宜輝 (NTT)
幹事補佐 和田 真一 (TMCシステム)

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日時 2015年 2月20日(金) 14:15 - 16:15
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会、IEEE CPMT Society Japan Chapter、IEEE Reliability Society Japan Chapter、静岡大学、 協賛:日本信頼性学会) 
会場名 静岡大学 浜松キャンパス 佐鳴会館(さなるかいかん)・会議室 
住所 〒432-8561 浜松市中区城北3-5-1
交通案内 JR浜松駅北口バスターミナルからバスで約20分、バスターミナル15,16番のりばからの全路線、「静岡大学」下車
http://www.eng.shizuoka.ac.jp/outlines/p07/
会場世話人
連絡先
関川純哉
053-478-1618
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
著作権に
ついて
以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

2月20日(金) 午後 
14:15 - 16:15
  14:15-14:20 委員長挨拶 ( 5分 )
(1) 14:20-14:45 DC450V回路の開離時アークに対して用いる高分子壁材料の比較 R2014-71 EMD2014-108 小西弘純関川純哉静岡大
(2) 14:45-15:10 窒素吹き付け下で開離時アーク発生後の銀接点表面の成分分布 R2014-72 EMD2014-109 渥美知之関川純哉静岡大
  15:10-15:20 休憩 ( 10分 )
(3) 15:20-15:45 微摺動機構を用いた電気接点劣化現象の評価方法 ~ いくつかの条件下における入力波形に対する最小摺動振幅 ~ R2014-73 EMD2014-110 和田真一越田圭治久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大
(4) 15:45-16:10 燃料ポンプ用DCモータのブラシおよび整流子のエタノール中での摩耗・消耗 R2014-74 EMD2014-111 澤 孝一郎石原圭悟新井瑞季上野貴博日本工大
  16:10-16:15 閉会挨拶 ( 5分 )

講演時間
一般講演発表 20 分 + 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会(R)   [今後の予定はこちら]
問合先 安里 彰(富士通)
E-: a 
EMD 機構デバイス研究会(EMD)   [今後の予定はこちら]
問合先 関川 純哉(静岡大学)
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E-: tjkipc
久我 宣裕(横浜国立大学)
TEL (045)339-4279、FAX (045)339-4279
E-: y
服部 康弘(住友電装)
TEL (059)382-8634、FAX (059)382-8591
E-: -tsws
阿部 宜輝(NTTデバイスイノベーションセンタ)
TEL (046)240-2262、FAX (046)270-6421
E-: abe 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2014-12-22 15:42:37


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