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ディペンダブルコンピューティング研究会(DC) [schedule] [select]
専門委員長 相京 隆 (半導体理工学研究センター)
副委員長 米田 友洋 (NII)
幹事 北神 正人 (千葉大), 中尾 教伸 (ルネサステクノロジ)

日時 2009年 2月16日(月) 10:00 - 16:35
議題 VLSI設計とテストおよび一般 
会場名 機械振興会館 6階67号室 
住所 〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8
交通案内 東京メトロ日比谷線「神谷町」駅下車徒歩約7分,都営大江戸線「赤羽橋」駅下車徒歩約8分,都営三田線「御成門」駅下車徒歩約10分,都営浅草線「大門」駅下車徒歩約15分.
http://www.jspmi.or.jp/map/mapright.htm

2月16日(月) 午前  テスト生成
10:00 - 11:15
(1) 10:00-10:25 故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化 中島佑介吉川祐樹市原英行井上智生広島市大
(2) 10:25-10:50 スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義九大)・○小河宏志日大)・大森悠翔富士通マイクロエレクトロニクス)・細川利典日大)・山崎浩二明大
(3) 10:50-11:15 SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 秋山祐介細川利典日大)・吉村正義九大)・山崎浩二明大
  11:15-11:30 休憩 ( 15分 )
2月16日(月) 午前  高速・高信頼化設計
11:30 - 12:20
(4) 11:30-11:55 算盤アーキテクチャを用いた10進加算器とその剰余演算への応用 飯島唯仁魏 書剛群馬大
(5) 11:55-12:20 高信頼度ボランティアコンピューティングのためのヒストリ情報を用いたスケジューリング手法 藤田 諒渡邊 寛福士 将堀口 進東北大
  12:20-13:50 昼食 ( 90分 )
2月16日(月) 午後  欠陥ベーステスト
13:50 - 15:05
(6) 13:50-14:15 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 高橋 寛樋上喜信和泉太佑相京 隆高松雄三愛媛大
(7) 14:15-14:40 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて 渡部哲也高橋 寛樋上喜信愛媛大)・堤 利幸山崎浩二明大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大)・高松雄三愛媛大
(8) 14:40-15:05 ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル 新井雅之周藤明史岩崎一彦首都大東京)・中野勝幸新谷道広畠山一実相京 隆半導体理工学研究センター
  15:05-15:20 休憩 ( 15分 )
2月16日(月) 午後  スキャンテスト・テスト容易化高位合成
15:20 - 16:35
(9) 15:20-15:45 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ~ BASTアーキテクチャへの適用 ~ 万 玲玲若園大洋細川利典日大)・吉村正義九大
(10) 15:45-16:10 RTLパス数最小化のためのリソースバインディング法 植本雄一大竹哲史井上美智子藤原秀雄奈良先端大
(11) 16:10-16:35 A Secure Scan Design Approach using Extended de Bruijn Graph Hideo Fujiwara・○Marie Engelene J. ObienNAIST

問合先と今後の予定
DC ディペンダブルコンピューティング研究会(DC)   [今後の予定はこちら]
問合先 細川 利典
日本大学 生産工学部 数理情報工学科
〒275-8575 千葉県習志野市泉町1-2-1
TEL:047-474-2659 FAX:047-474-2669
E-:t7citn-u 


Last modified: 2008-12-17 09:12:59


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